[發明專利]航天器中設備極限能力的檢測方法

在審

• 申請號: 201711284232.4
• 申請日: 2017-12-07
• 公開（公告）號: CN108151994A
• 公開（公告）日: 2018-06-12
• 發明（設計）人: 霍佳婧;張永;邵立民;高旭;雷劍宇;楊海峰;李蒙
• 申請（專利權）人: 北京空間技術研制試驗中心
• 主分類號: G01M7/06
• 分類號: G01M7/06
• 代理公司: 北京謹誠君睿知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11538
• 代理人: 陸鑫;延慧

1.一種航天器中設備極限能力的檢測方法，包括：

S1.選取所述設備作為樣品；

S2.對所述樣品進行極限能力檢測，其中，

對所述樣品進行極限能力檢測的步驟包括：

S21.對所述樣品進行工作環境拉偏檢測，其中，工作環境拉偏檢測包括力學環境拉偏檢測、溫度環境拉偏檢測和敏感環境拉偏檢測；

S22.對所述樣品進行工作負載拉偏檢測，其中，工作負載拉偏檢測包括電接口拉偏檢測、指令遙測信號拉偏檢測和設備性能指標拉偏檢測。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，工作負載拉偏檢測在常溫環境條件、驗收級環境條件、拉偏環境條件中可選擇地以一種或多種條件進行。

3.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，力學環境拉偏檢測包括正弦振動拉偏檢測、隨機振動拉偏檢測和壓力拉偏檢測；

溫度環境拉偏檢測包括熱循環拉偏檢測和熱真空拉偏檢測。

4.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，電接口拉偏檢測包括接口容差拉偏檢測、供電電壓拉偏檢測、供電電壓瞬間掉電檢測、驅動能力拉偏檢測和過電流拉偏檢測；

指令遙測信號拉偏檢測包括指令電壓/寬度極限檢測、總線指令密集度極限檢測；

設備性能指標拉偏檢測包括抗干擾能力拉偏檢測。

5.根據權利要求1至4之一所述的檢測方法，其特征在于，對所述樣品進行工作環境拉偏檢測的步驟中還需要對相應的工作環境進行設置，其中，力學環境拉偏檢測過程中，將力學環境的條件設置為所述樣品驗收級標準的2倍以上；

溫度環境拉偏檢測過程中，將溫度環境的條件設置為基于所述樣品鑒定級標準增加至少5℃。

6.根據權利要求5所述的檢測方法，其特征在于，所述樣品為電子設備、機電設備、機械設備、光學敏感設備中的一種或多種的組合。

7.根據權利要求6所述的檢測方法，其特征在于，所述樣品為電子設備；

對所述樣品進行工作環境拉偏檢測過程中進行熱循環檢測或隨機振動檢測；其中，若所述樣品對真空環境敏感，以熱真空檢測替換熱循環檢測；

對所述樣品進行工作負載拉偏檢測過程中進行電接口拉偏檢測、指令遙測信號拉偏檢測和設備性能指標拉偏檢測。

8.根據權利要求6所述的檢測方法，其特征在于，所述樣品為機電設備；

對所述樣品進行工作環境拉偏檢測過程中進行熱循環檢測、隨機振動檢測、正弦振動拉偏檢測中的一種或多種的組合，以及可選擇地進行敏感環境拉偏檢測；其中，若所述樣品對真空環境敏感，以熱真空檢測替換熱循環檢測；

對所述樣品進行工作負載拉偏檢測過程中進行電接口拉偏檢測、指令遙測信號拉偏檢測和設備性能指標拉偏檢測。

9.根據權利要求6所述的檢測方法，其特征在于，所述樣品為機械設備；

對所述樣品進行工作環境拉偏檢測過程中進行壓力檢測、隨機振動檢測、正弦振動拉偏檢測中的一種或多種的組合，以及可選擇地進行敏感環境拉偏檢測；

對所述樣品進行工作負載拉偏檢測過程中進行電接口拉偏檢測、指令遙測信號拉偏檢測和設備性能指標拉偏檢測。

10.根據權利要求6所述的檢測方法，其特征在于，所述樣品為光學敏感設備；

對所述樣品進行工作環境拉偏檢測過程中進行敏感環境拉偏檢測；

對所述樣品進行工作負載拉偏檢測過程中進行電接口拉偏檢測、指令遙測信號拉偏檢測和設備性能指標拉偏檢測。