[發明專利]一種數字射線幾何放大倍數的實時測量方法

在審

• 申請號: 201711279194.3
• 申請日: 2017-12-06
• 公開（公告）號: CN107883876A
• 公開（公告）日: 2018-04-06
• 發明（設計）人: 鄭金華;盛濤;錢云翔;鄭志遠
• 申請（專利權）人: 上海復合材料科技有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司31236
• 代理人: 莊文莉

技術領域

本發明屬于無損檢測技術領域，具體涉及到數字射線幾何放大倍數的實時測量方法。

背景技術

無損檢測是在不損壞工件或原材料工作狀態的前提下，對被檢驗部件的表面和內部質量進行檢查的一種測試手段。

射線檢測是目前應用最廣泛的無損檢測技術之一。傳統的射線檢測是采用膠片技術。隨著電子技術的發展，傳統射線在向數字射線快速發展，在數字射線領域中空間分辨率是一個極其重要的指標。在不同的放大倍數下的空間分辨率是不同的，因此就存在最佳放大倍數。放大倍數不僅影響了空間分辨率，同時也對工件的影像進行了放大，如果不知道放大倍數將影響到工件中缺陷的測量，增加測量誤差，容易造成工件的錯漏檢。目前行業采用的測量放大倍數的方案基本上是利用卷尺手工測量射線源、工件、數字探測器之間的距離，該方法存在測量誤差，影響工件的檢測質量，容易造成錯漏檢，同時該方法一般是在工件處于非檢測狀態下測量(因為在檢測時，射線有輻射，工作人員不允許待在射線輻射區域)，因此并非實時測量。在滿足空間分辨率的前提下，有時為了考慮工作效率，或者為了從多個不同的角度觀察檢測圖像，就需要調整射線源、工件、數字探測器之間的相對位置，而此時的放大倍數已經發生了變化，按照傳統的測量方法無法實時跟蹤每個狀態下的幾何放大倍數，而該方法可以實時測量并計算出工件在每個狀態下的幾何放大倍數。

發明內容

針對現有技術中的缺陷，本發明的目的是提供一種數字射線幾何放大倍數的實時測量方法。

本發明是通過以下技術方案實現的：

本發明提供一種數字射線幾何放大倍數的實時測量方法，其包括如下步驟：

在射線源上固設一個激光測距儀，確保激光光束與主射線束平行，測量出激光光源與射線源的相對坐標；

利用所述激光測距儀測量并計算出射線源至工件的距離F以及激光測距儀測量并計算出數字探測器的距離f；

利用幾何放大倍數計算公式M＝f/F，計算出數字射線的幾何放大倍數M。

其中，F＝F’+Δy，F’為激光測距儀至工件表面的垂直距離。

作為優選方案，所述f＝1000mm，Δx＝20mm、Δy＝20mm，F’＝530mm，M＝1000/(530+20)≈1.82。

與現有技術相比，本發明具有如下的有益效果：

可以實時測量并計算出工件在每個狀態下的幾何放大倍數。

附圖說明

通過閱讀參照以下附圖對非限制性實施例所作的詳細描述，本發明的其它特征、目的和優點將會變得更明顯：

圖1為本發明的方法實現原理圖。

具體實施方式

下面結合具體實施例對本發明進行詳細說明。以下實施例將有助于本領域的技術人員進一步理解本發明，但不以任何形式限制本發明。應當指出的是，對本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，還可以做出若干變形和改進。這些都屬于本發明的保護范圍。

本發明提供一種數字射線幾何放大倍數的實時測量方法，其包括如下步驟：

在射線源上固設一個激光測距儀，確保激光光束與主射線束平行，測量出激光光源與射線源的相對坐標；

利用所述激光測距儀測量出射線源至工件的距離F以及射線源至數字探測器的距離f；

(修改后)利用所述激光測距儀測量并計算出射線源至工件的距離F以及激光測距儀測量并計算出數字探測器的距離f；

利用幾何放大倍數計算公式M＝f/F，計算出數字射線的幾何放大倍數M。

具體舉例為：

如圖1所示，射線源至數字探測器的距離為f＝1000mm，射線源與激光光源的相對坐標為Δx＝20mm、Δy＝20mm，在沒有工件時，通過激光測距儀測量出數字探測器至激光光源的距離為980mm，將一塊長50mm、寬20mm、厚4mm的工件放置在工作臺(4)的中間，此時激光測距儀測出工件表面至激光光源的距離為F’＝530mm，根據F＝F’+Δy可計算出，F＝530+20＝550mm，因此可以計算出幾何放大倍數：

倍。

與現有技術相比，本發明具有如下的有益效果：

可以實時測量并計算出工件在每個狀態下的幾何放大倍數。

以上對本發明的具體實施例進行了描述。需要理解的是，本發明并不局限于上述特定實施方式，本領域技術人員可以在權利要求的范圍內做出各種變形或修改，這并不影響本發明的實質內容。