[發明專利]一種集成式激光誘導聲表面波缺陷檢測裝置

在審

• 申請號: 201711276551.0
• 申請日: 2017-12-06
• 公開（公告）號: CN108037077A
• 公開（公告）日: 2018-05-15
• 發明（設計）人: 易濤;蘇明
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院激光聚變研究中心
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17
• 代理公司: 北京理工大學專利中心 11120
• 代理人: 郭德忠;仇蕾安

1.一種集成式激光誘導聲表面波缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：探測頭(1)、光纖束(5)及探測器(8)；

所述探測頭(1)一側端面的中心設有一個泵浦激光發射口(2)，沿泵浦激光發射口(2)周向均勻分布有兩個以上探測激光口(3)；

所述探測器(8)的個數與探測激光發射口(3)的個數相同；

所述光纖束(5)中的光纖與所述泵浦激光發射口(2)、探測激光發射口(3)一一對應；

外部的激光光源與所述泵浦激光發射口(2)、探測激光發射口(3)一一對應；

整體連接關系如下：探測頭(1)的泵浦激光發射口(2)通過光纖束(5)中與之對應的光纖與激光光源連接，探測頭(1)的每個探測激光口(3)通過光纖束(5)中與之對應的光纖分別與對應的激光光源及對應的探測器(8)連接；

所述泵浦激光發射口(2)用于發射泵浦激光；

所述探測激光口(3)用于發射探測激光，并接收反射回來的探測激光傳輸給對應的探測器(8)；

所述探測器(8)用于將接收的探測激光信息與樣品標準進行比對：當樣品標準相比相同時，則該探測激光口(3)所在處無缺陷；當探測器(8)接收的探測激光信息與樣品標準相比有變化時，則該探測激光口(3)所在處存在缺陷；

所述探測激光信息包括：探測激光的強度、位相或波形；

所述樣品標準為：將對表面沒有缺陷的樣品進行探測時，探測器(8)接收的探測激光信息作為樣品標準。

2.如權利要求1所述的一種集成式激光誘導聲表面波缺陷檢測裝置，其特征在于，還包括支撐臂(4)和保護套(7)，所述支撐臂(4)的一端固定在探測頭(1)上，光纖束(5)的一端封裝在探測頭(1)和支撐臂(4)內，另一端包覆有保護套(7)，且保護套(7)與支撐臂(4)的另一端連接。

3.如權利要求2所述的一種集成式激光誘導聲表面波缺陷檢測裝置，其特征在于，所述保護套(7)采用軟管。

4.如權利要求1所述的一種集成式激光誘導聲表面波缺陷檢測裝置，其特征在于，所述探測頭(1)一次測量覆蓋的區域為：正對探測頭(1)下方的待測物體(6)表面上，以泵浦激光發射口(2)為圓心，以探測激光口(3)為圓周的圓形區域；通過沿待測物體(6)表面移動探測頭(1)可以對待測物體(6)表面進行整體掃描。