[發明專利]一種數據一致性測試方法、裝置、設備及存儲介質在審
| 申請號: | 201711274975.3 | 申請日: | 2017-12-06 |
| 公開(公告)號: | CN107797881A | 公開(公告)日: | 2018-03-13 |
| 發明(設計)人: | 李雅明 | 申請(專利權)人: | 鄭州云海信息技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/07 | 分類號: | G06F11/07;G06F3/06 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司11227 | 代理人: | 羅滿 |
| 地址: | 450018 河南省鄭州市*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 數據一致性 測試 方法 裝置 設備 存儲 介質 | ||
技術領域
本發明涉及測試技術領域,特別是涉及一種數據一致性測試方法、裝置、設備及存儲介質。
背景技術
在存儲系統中,存儲設備必不可少,保證數據一致性是存儲設備的重要功能之一。數據一致性是指寫入到存儲設備中的數據,經過一段時間后被讀取出來,與原先寫入到存儲設備中的數據要保持一致,以保證數據在存儲過程中沒有發生變化。
目前,常用的數據一致性測試方法是,在主機上運行的應用程序將數據寫入到存儲設備后,寫入的這些數據被保存到主機的緩存中,一段時間后將寫入到存儲設備中的數據讀取出來,與保存在緩存中的數據進行比較,判斷兩者是否一致,以此來確定數據一致性。
這種方法存在一定的缺點,寫入到存儲設備中的數據需要一直保存在主機的緩存中,緩存的存儲空間有限,如果寫入的數據較大,可能會因為存儲空間不足導致無法保存該寫入的數據,而且,如果需要較長時間才會進行數據一致性測試,緩存中相應的數據將占用較多存儲空間,導致存儲空間不足,無法繼續保存更多寫入的數據,影響數據一致性測試效果。
發明內容
本發明的目的是提供一種數據一致性測試方法、裝置、設備及存儲介質,以避免占用較多存儲空間,保證數據一致性測試效果。
為解決上述技術問題,本發明提供如下技術方案:
一種數據一致性測試方法,包括:
在達到設定的測試觸發條件時,在存儲設備中獲取待測數據;
根據預設的數據結構,獲得所述待測數據的第一校驗信息;
將所述第一校驗信息與所述待測數據中包含的第二校驗信息進行對比,所述第二校驗信息為:將所述待測數據寫入到所述存儲設備時,根據所述數據結構,獲得的所述待測數據的校驗信息;
根據對比結果,確定所述待測數據與寫入至所述存儲設備時的數據是否一致。
在本發明的一種具體實施方式中,所述根據預設的數據結構,獲得所述待測數據的第一校驗信息,包括:
根據預設的數據結構,確定所述待測數據對應的各數據段的數據內容;
基于各數據段的數據內容,獲得所述待測數據的第一校驗信息。
在本發明的一種具體實施方式中,所述待測數據對應的數據段至少為邏輯塊地址、時間戳、卷名稱、數據大小、數據類型編號、構造數據、校驗值。
在本發明的一種具體實施方式中,所述根據對比結果,確定所述待測數據與寫入至所述存儲設備時的數據是否一致,包括:
如果所述第一校驗信息與所述第二校驗信息的至少一個數據段的數據內容不一致,則確定所述待測數據與寫入至所述存儲設備時的數據不一致。
在本發明的一種具體實施方式中,在確定所述待測數據與寫入至所述存儲設備時的數據不一致時,還包括:
記錄所述待測數據。
一種數據一致性測試裝置,包括:
待測數據獲取模塊,用于在達到設定的測試觸發條件時,在存儲設備中獲取待測數據;
校驗信息獲得模塊,用于根據預設的數據結構,獲得所述待測數據的第一校驗信息;
校驗信息對比模塊,用于將所述第一校驗信息與所述待測數據中包含的第二校驗信息進行對比,所述第二校驗信息為:將所述待測數據寫入到所述存儲設備時,根據所述數據結構,獲得的所述待測數據的校驗信息;
一致性確定模塊,用于根據對比結果,確定所述待測數據與寫入至所述存儲設備時的數據是否一致。
在本發明的一種具體實施方式中,所述校驗信息獲得模塊,具體用于:
根據預設的數據結構,確定所述待測數據對應的各數據段的數據內容;
基于各數據段的數據內容,獲得所述待測數據的第一校驗信息。
在本發明的一種具體實施方式中,所述待測數據對應的數據段至少為邏輯塊地址、時間戳、卷名稱、數據大小、數據類型編號、構造數據、校驗值。
一種數據一致性測試設備,包括:
存儲器,用于存儲計算機程序;
處理器,用于執行所述計算機程序時實現如權利要求1至5任一項所述數據一致性測試方法的步驟。
一種計算機可讀存儲介質,所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序,所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至5任一項所述數據一致性測試方法的步驟。
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