[發明專利]一種后向反射光比例對寬帶光源影響的測試裝置及方法有效
| 申請號: | 201711267414.0 | 申請日: | 2017-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN108152006B | 公開(公告)日: | 2019-07-09 |
| 發明(設計)人: | 陳杏藩;姚俊杰;張海生;劉承;舒曉武 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | G01M11/00 | 分類號: | G01M11/00 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 33200 | 代理人: | 林超 |
| 地址: | 310058 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 后向反射 寬帶光源 強度噪聲 數字信號處理芯片 可調光纖衰減器 第二探測器 第一探測器 光纖耦合器 測試裝置 衰減 測試評估 功率獲得 特性曲線 反射鏡 中寬帶 探測器 后向 光源 光纖 繪制 測試 評估 | ||
1.一種后向反射光比例對寬帶光源影響的測試方法,應用于方法的裝置包括待測寬帶光源(1)、可調光纖衰減器(2)、光纖后向反射鏡(3)、2×2光纖耦合器(4)、第一探測器(5)、第二探測器(6)、第一信號放大器(7)、第二信號放大器(8)、第一模數轉換器(9)、第二模數轉換器(10)和數字信號處理芯片(11);待測寬帶光源(1)輸出端經連接到2×2光纖耦合器(4)一側的一個端口,2×2光纖耦合器(4)一側的另一個端口依次經第一探測器(5)、第一信號放大器(7)、第一模數轉換器(9)后連接到數字信號處理芯片(11),2×2光纖耦合器(4)另一側的一個端口經可調光纖衰減器(2)后連接到光纖后向反射鏡(3),2×2光纖耦合器(4)另一側的另一個端口依次經第二探測器(6)、第二信號放大器(8)、第二模數轉換器(10)后連接到數字信號處理芯片(11);其特征在于方法步驟如下:根據第一探測器(5)、第二探測器(6)采集到的功率數據獲得待測寬帶光源的相對強度噪聲和后向反射光比例;調節可調節光纖衰減器(2)的衰減值,改變返回待測寬帶光源(1)中的后向反射光的大小,繪制不同可調節光纖衰減器(2)的衰減值下待測寬帶光源的相對強度噪聲和后向反射光比例的特性曲線;
所述的后向反射光比例x用第一探測器(5)測得功率的平均值除以第二探測器(6)測得功率的平均值的兩倍來計算:
其中,P1_mean表示第一探測器(5)測得功率的平均值,P2_mean表示第二探測器(6)測得功率的平均值;
所述的待測寬帶光源的相對強度噪聲Q(x)用第二探測器(6)測得功率的標準差除以第二探測器(6)測得功率的平均值來計算:
其中,P2_std表示第二探測器(6)測得功率的標準差。
2.根據權利要求1所述的一種后向反射光比例對寬帶光源影響的測試方法,其特征在于:調節所述可調節衰減器(2)的衰減值由0dB均勻變化到30dB,可調節步長為0.1dB。
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