[發(fā)明專(zhuān)利]電池保護(hù)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711256068.6 | 申請(qǐng)日: | 2017-12-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107968383A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-04-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 常星;田文博;王釗 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 南京中感微電子有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H02H7/18 | 分類(lèi)號(hào): | H02H7/18 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 210061 江蘇省南京市高*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電池 保護(hù) 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供一種電池保護(hù)系統(tǒng),其包括:正電源端、負(fù)電源端、電池組、電池保護(hù)電路和充放電開(kāi)關(guān)組合。所述電池保護(hù)電路包括電壓檢測(cè)比較器,其用于檢測(cè)第三檢測(cè)端的電壓是否大于或小于參考閾值電壓。所述電壓檢測(cè)比較器包括第一可調(diào)電阻Ru、第二電阻Rd、第三電阻Re、第四電阻Rs、第一MOS管M0、第二MOS管M1、第三MOS管M2、第一雙極型晶體管Q0、第二雙極型晶體管Q1、偏置電流源Ibias和開(kāi)關(guān)組合電路。所述電壓檢測(cè)比較器可以通過(guò)自調(diào)降低或消除輸入偏差對(duì)參考閾值電壓精度的影響,從而使修調(diào)及封裝后芯片的翻轉(zhuǎn)閾值精度統(tǒng)一性良好,進(jìn)而提高所述電池保護(hù)系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。
【技術(shù)領(lǐng)域】
本發(fā)明涉及電子電路技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種電池保護(hù)系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
電池保護(hù)電路中存在電壓檢測(cè)比較器及電流檢測(cè)比較器。電壓檢測(cè)比較器又分為過(guò)充電壓檢測(cè)比較器及過(guò)放電壓檢測(cè)比較器。芯片閾值最終需要校正,由于對(duì)過(guò)充電壓要求較高,校正修調(diào)過(guò)程中均以過(guò)充電壓閾值為準(zhǔn)調(diào)整。但在不同應(yīng)力作用下,會(huì)產(chǎn)生不同的offset(偏差),終將影響芯片閾值的精度。
因此,有必要提供一種改進(jìn)的技術(shù)方案來(lái)解決上述問(wèn)題。
【發(fā)明內(nèi)容】
本發(fā)明的目的在于提供一種電池保護(hù)系統(tǒng),其具有改進(jìn)的電壓檢測(cè)比較器,其可以通過(guò)自調(diào)降低或消除輸入偏差對(duì)翻轉(zhuǎn)閾值(也稱(chēng)參考閾值電壓或比較閾值電壓)精度的影響,從而使修調(diào)及封裝后芯片的翻轉(zhuǎn)閾值精度統(tǒng)一性良好,進(jìn)而提高所述電池保護(hù)系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。
為了解決上述問(wèn)題,本發(fā)明提供一種電池保護(hù)系統(tǒng),其包括:正電源端;負(fù)電源端;電池組,其正極與正電源端相連;電池保護(hù)電路,其第一電源檢測(cè)端與所述電池組的正極相連,其第二電源檢測(cè)端與所述電池組的負(fù)極相連,其第三電源檢測(cè)端與所述負(fù)電源端相連;充放電開(kāi)關(guān)組合,其連接于所述電池組的負(fù)極與負(fù)電源端之間,其第一控制端與所述電池保護(hù)電路的放電控制端相連,其第二控制端與所述電池保護(hù)電路的充電控制端相連;所述電池保護(hù)電路包括電壓檢測(cè)比較器,其用于檢測(cè)第三檢測(cè)端的電壓是否大于或小于參考閾值電壓。電壓檢測(cè)比較器包括第一可調(diào)電阻Ru、第二電阻Rd、第三電阻Re、第四電阻Rs、第一MOS管M0、第二MOS管M1、第三MOS管M2、第一雙極型晶體管Q0、第二雙極型晶體管Q1、偏置電流源Ibias和開(kāi)關(guān)組合電路,其中,所述第一可調(diào)電阻Ru和第二電阻Rd依次串聯(lián)于第三電源檢測(cè)端和接地端G之間,第一MOS管M0的第一連接端與第三電源檢測(cè)端相連,其控制端與第一雙極型晶體管Q0的第一連接端相連,第一雙極型晶體管Q0的第二連接端經(jīng)依次串聯(lián)的第三電阻Re和第四電阻Rs接地,所述第一雙極型晶體管Q0的控制端與第一可調(diào)電阻Ru和第二電阻Rd之間的連接節(jié)點(diǎn)相連;所述第二MOS管M1的第一連接端與第三電源檢測(cè)端相連,其控制端與第一MOS管M0的控制端相連,第二雙極型晶體管Q1的控制端與第一雙極型晶體管Q0的控制端相連,第二雙極型晶體管Q1的第二連接端與第三電阻Re和第四電阻Rs之間的連接節(jié)點(diǎn)相連;第三MOS管M2的第一連接端與第三電源檢測(cè)端相連,其第二連接端與電壓檢測(cè)比較器的輸出端OUT相連,其控制端與第二雙極型晶體管Q1的第一連接端相連;偏置電流源Ibias的輸入端與電壓檢測(cè)比較器的輸出端OUT,偏置電流源Ibias的輸出端接地,所述開(kāi)關(guān)組合電路包括第一連接端、第二連接端、第三連接端和第四連接端,所述開(kāi)關(guān)組合電路的第一連接端與第一MOS管M0的第二連接端相連,所述開(kāi)關(guān)組合電路的第二連接端與第二MOS管M1的第二連接端相連,所述開(kāi)關(guān)組合電路的第三連接端與第一雙極型晶體管Q0的第一連接端相連,所述開(kāi)關(guān)組合電路的第四連接端與第二雙極型晶體管Q1的第一連接端相連,所述開(kāi)關(guān)組合電路包括第一連接方式或第二連接方式,當(dāng)所述開(kāi)關(guān)組合電路處于第一連接方式時(shí),使第一MOS管M0的第二連接端與第一雙極型晶體管Q0的第一連接端相連,使第二MOS管M1的第二連接端與第二雙極型晶體管Q1的第一連接端相連;當(dāng)所述開(kāi)關(guān)組合電路處于第二連接方式時(shí),使第一MOS管M0的第二連接端與第二雙極型晶體管Q1的第一連接端相連,使第二MOS管M1的第二連接端與第一雙極型晶體管Q0的第一連接端相連。
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