[發明專利]一種具有自歸零校準的粒子濃度檢測系統和方法在審
| 申請號: | 201711252146.5 | 申請日: | 2017-12-01 |
| 公開(公告)號: | CN108120659A | 公開(公告)日: | 2018-06-05 |
| 發明(設計)人: | 王紹棟 | 申請(專利權)人: | 上海先積集成電路有限公司 |
| 主分類號: | G01N15/06 | 分類號: | G01N15/06;G01N21/53 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 200002 上海市黃浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 環境空氣凈化 潔凈空氣 信號處理單元 光傳感器 粒子檢測 粒子 漂移 濃度檢測系統 測量數據 校準 歸零 檢測 測量 比較檢測 導流通道 環境空氣 記錄測量 檢測系統 空氣樣本 輸出檢測 預先確定 標定 感測 判定 通暢 凈化 引入 | ||
1.一種具有自歸零校準的粒子濃度檢測系統,其特征在于,所述檢測系統包括:信號處理單元、與所述信號處理單元通信耦合的光傳感器和由所述信號處理單元控制工作的環境空氣凈化裝置,其中,
所述光傳感器感測進入其粒子檢測區域的空氣樣本并輸出檢測到的電信號,
所述環境空氣凈化裝置與所述光傳感器之間具有導流通道以使得所述環境空氣凈化裝置不工作時環境空氣能夠通暢地流經所述粒子檢測區域,
所述環境空氣凈化裝置工作時向所述粒子檢測區域引入被其凈化后的潔凈空氣,
所述信號處理單元對從所述光傳感器接收到的所述電信號進行濾波放大、采樣及數字化處理后形成與被感測粒子散射光強度直接相關的能力傾向值,然后記錄、分析和計算該能力傾向值信息并參考存儲的標定值來確定檢測到的粒子濃度,所述標定值為所述信號處理單元中存儲的預先確定的能力傾向值與粒子濃度值的對應關系。
2.根據權利要求1所述的具有自歸零校準的粒子濃度檢測系統,其特征在于,所述環境空氣凈化裝置由所述信號處理單元控制工作的風扇和與所述風扇的風道一側密閉結合的高效空氣過濾器構成。
3.根據權利要求1所述的具有自歸零校準的粒子濃度檢測系統,其特征在于,所述環境空氣凈化裝置由所述信號處理單元控制工作的風扇和與所述風扇的風道兩側各自密閉結合的高效空氣過濾器構成。
4.根據權利要求2或3所述的具有自歸零校準的粒子濃度檢測系統,其特征在于,所述高效空氣過濾器為達到HEPA標準的過濾網。
5.一種具有自歸零校準的粒子濃度檢測方法,其實現裝置包括:信號處理單元、與所述信號處理單元通信耦合的光傳感器和由所述信號處理單元控制工作的環境空氣凈化裝置,其中,
所述光傳感器感測進入其粒子檢測區域的空氣樣本并輸出檢測到的電信號,所述環境空氣凈化裝置與所述光傳感器之間具有導流通道以使得所述環境空氣凈化裝置不工作時環境空氣能夠通暢地流經所述粒子檢測區域,所述環境空氣凈化裝置工作時向所述粒子檢測區域引入被其凈化后的潔凈空氣,
所述信號處理單元對從所述光傳感器接收到的所述電信號進行濾波放大、采樣及數字化處理后形成與被感測粒子散射光強度直接相關的能力傾向值,然后記錄、分析和計算該能力傾向值信息并參考存儲的標定值來確定檢測到的粒子濃度,所述標定值為所述信號處理單元中存儲的預先確定的能力傾向值與粒子濃度值的對應關系;
所述的具有自歸零校準的粒子濃度檢測方法包括以下步驟:
所述信號處理單元間斷的啟動所述環境空氣凈化裝置工作并記錄檢測到的潔凈空氣測量值,
所述信號處理單元通過比較檢測到的所述潔凈空氣測量值與預先確定的潔凈空氣標定值的差異來判定所述實現裝置的測量數據是否存在漂移以及測量數據的漂移程度。
6.根據權利要求4所述的具有自歸零校準的粒子濃度檢測方法,其特征在于,所述潔凈空氣測量值為檢測到的潔凈空氣實測能力傾向值,所述信號處理單元以所述潔凈空氣實測能力傾向值與所述標定值中潔凈空氣對應的能力傾向值的差值的函數對所述標定值中預先確定的能力傾向值與粒子濃度值的對應關系進行數據校準。
7.根據權利要求4所述的具有自歸零校準的粒子濃度檢測方法,其特征在于,所述潔凈空氣測量值為檢測到的潔凈空氣實測能力傾向值,所述信號處理單元以所述潔凈空氣實測能力傾向值與所述標定值中潔凈空氣對應的能力傾向值的差值的函數對檢測到的粒子濃度進行數據校準。
8.根據權利要求4所述的具有自歸零校準的粒子濃度檢測方法,其特征在于,所述潔凈空氣測量值為檢測到的潔凈空氣粒子濃度實測值,所述信號處理單元以所述潔凈空氣粒子濃度實測值的函數對所述標定值中預先確定的能力傾向值與粒子濃度值的對應關系進行數據校準。
9.根據權利要求4所述的具有自歸零校準的粒子濃度檢測方法,其特征在于,所述潔凈空氣測量值為檢測到的潔凈空氣粒子濃度實測值,所述信號處理單元以所述潔凈空氣粒子濃度實測值的函數對檢測到的粒子濃度進行數據校準。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海先積集成電路有限公司,未經上海先積集成電路有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711252146.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





