[發明專利]主觀式驗光裝置有效

申請號：	201711250178.1	申請日：	2017-12-01
公開（公告）號：	CN108209855B	公開（公告）日：	2021-08-27
發明（設計）人：	柴田一徳;鈴木陵司;平山幸人;神田英典	申請（專利權）人：	尼德克株式會社
主分類號：	A61B3/032	分類號：	A61B3/032
代理公司：	中原信達知識產權代理有限責任公司 11219	代理人：	高培培;戚傳江
地址：	日本***	國省代碼：	暫無信息
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摘要：
搜索關鍵詞：	主觀驗光裝置
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【說明書】：

本發明提供一種主觀式驗光裝置，其能夠容易地進行被檢眼與眼屈光度測定單元的對位。主觀式驗光裝置具備：投影光學系統，具有射出視標光束的視標呈現部，并將從視標呈現部射出的視標光束朝向被檢眼投影；殼體，收納投影光學系統；及呈現窗，用于通過使來自投影光學系統的視標光束透射，并從殼體的內部向殼體的外部射出視標光束，而將所述視標光束朝向被檢眼投影，其中，所述主觀式驗光裝置具備觀察單元，該觀察單元用于經由呈現窗觀察眼屈光度測定單元與被檢眼的位置關系，該眼屈光度測定單元改變從殼體的內部向殼體的外部射出的視標光束的光學特性。

技術領域

本公開涉及用于主觀地測定被檢眼的光學特性的主觀式驗光裝置。

背景技術

已知有一種主觀式驗光裝置，使用配置在被檢者眼睛的前方的眼屈光度測定單元，在眼屈光度測定單元的檢查窗配置球面鏡片或柱面(散光)鏡片等光學元件，通過配置的光學元件向被檢眼呈現視標，由此來檢查(測定)被檢眼的屈光度等(參照專利文獻1)。此時，被檢者通過觀察眼屈光度測定單元的檢查窗，確認能否看清呈現的視標。

在先技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開平5-176893號公報

然而，在主觀式驗光裝置中，在使用眼屈光度測定單元的情況下，被檢者通過檢查窗來確認視標，因此進行眼屈光度測定單元與被檢眼的對位。以往，在進行眼屈光度測定單元與被檢眼的對位時，被檢者從觀察眼屈光度測定單元的檢查窗的相反側觀察被檢眼與眼屈光度測定單元的位置關系而進行對位。此時，檢查者將頭放入殼體與眼屈光度測定單元之間進行觀察，該殼體收納將視標光束朝向被檢眼投影的投影光學系統。因此，檢查者需要以勉強的姿勢進行被檢眼與眼屈光度測定單元的對位，對于檢查者而言是負擔。而且，有時也難以觀察眼屈光度測定單元與被檢眼的關系，存在無法高精度地進行對位的情況。

發明內容

本公開鑒于上述現有技術，技術課題在于提供一種能夠容易地進行被檢眼與眼屈光度測定單元的對位的主觀式驗光裝置。

為了解決上述課題，本公開的特征在于具備以下的結構。

(技術方案1)

一種主觀式驗光裝置，具備：

投影光學系統，具有射出視標光束的視標呈現部，并將從所述視標呈現部射出的視標光束朝向被檢眼投影；

殼體，收納所述投影光學系統；

呈現窗，用于通過使來自所述投影光學系統的所述視標光束透射，并從所述殼體的內部向所述殼體的外部射出所述視標光束，而將所述視標光束朝向所述被檢眼投影；以及

觀察單元，用于經由所述呈現窗觀察眼屈光度測定單元與所述被檢眼的位置關系，該眼屈光度測定單元改變從所述殼體的內部向所述殼體的外部射出的所述視標光束的光學特性。

(技術方案2)

根據技術方案1所述的主觀式驗光裝置，其中，

所述觀察單元配置在視標光束通過的光路的光路外。