[發明專利]一種表面微結構形狀記憶性能的測試方法

有效

• 申請號: 201711246321.X
• 申請日: 2017-12-01
• 公開（公告）號: CN108088867B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發明（設計）人: 陳安伏;陳鵬宇;鐘耿君
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: G01N25/00
• 分類號: G01N25/00;G01N3/08
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李海建

1.一種表面微結構形狀記憶性能的測試方法，其特征在于，應用表面微結構形狀記憶性能的測試裝置，表面微結構形狀記憶性能的測試裝置包括:用于提供具有內部測試空間的外盒體(1)；設置于所述外盒體(1)內，用于放置高分子磁性納米復合材料的載物臺(6)；設置于所述載物臺(6)上方的導軌(7)，連接所述導軌(7)且用于對所述高分子磁性納米復合材料施壓的上平桿(10)，以及設置于所述上平桿(10)的壓力傳感器(8)；設置于所述載物臺(6)下表面，用于電磁加熱所述高分子磁性納米復合材料的電磁加熱組件(3)；設置于所述電磁加熱組件(3)的溫度傳感器；和用于向所述高分子磁性納米復合材料噴射冷卻氣體的冷卻氣噴嘴(12)，以及與所述冷卻氣噴嘴(12)相連通的氣瓶(14)；

所述測試方法包括:

步驟1)通過超景深顯微鏡測量所述高分子磁性納米復合材料表面微結構的高度h3，將所述高分子磁性納米復合材料放置于所述載物臺(6)；

步驟2)所述電磁加熱組件(3)通電，設定所述高分子磁性納米復合材料按照預設階梯溫度加熱至預設加熱時長時，所述電磁加熱組件(3)斷電，同時開啟所述氣瓶(14)，所述冷卻氣噴嘴(12)噴射冷卻氣體，待所述高分子磁性納米復合材料冷卻定型；

步驟3)通過超景深顯微鏡測量所述高分子磁性納米復合材料表面微結構的高度h4；

步驟4)通過高度h3、高度h4以及預設加熱時長的數據對比，研究加熱時間與所述高分子磁性納米復合材料表面微結構形狀回復率的關系。

2.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述載物臺(6)包括用于放置所述高分子磁性納米復合材料的樣品固定位(62)，以及設置在所述樣品固定位(62)邊緣且用于夾持上所述高分子磁性納米復合材料的鎖扣(61)。

3.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述電磁加熱組件(3)包括電磁線圈(33)、套設于所述電磁線圈(33)外側的絕緣層(32)以及套設于所述絕緣層(32)外側的屏蔽層(31)。

4.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，還包括設置于所述外盒體(1)內的抽風機(9)。

5.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述氣瓶(14)內的氣體為超臨界二氧化碳或壓縮空氣。

6.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述高分子磁性納米復合材料為熱塑性聚氨酯/四氧化三鐵復合材料或乙烯-丙烯酸乙醋共聚物/四氧化三鐵復合材料。

7.根據權利要求1-6任一項所述的測試方法，其特征在于，還包括:

設置于所述載物臺(6)下方，用于帶動所述載物臺(6)旋轉的轉臺(2)；

驅動所述轉臺(2)旋轉的伺服電機。