[發明專利]一種遠距離高精度的對中調試裝置及其調試方法

有效

• 申請號: 201711245950.0
• 申請日: 2017-11-30
• 公開（公告）號: CN108007394B
• 公開（公告）日: 2020-06-19
• 發明（設計）人: 狄長安;宋煒;時巖;喬治旺;彭澎;孫強飛;周釔捷
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: G01B11/27
• 分類號: G01B11/27
• 代理公司: 南京理工大學專利中心 32203
• 代理人: 朱沉雁

1.一種長距離高精度的對中調試裝置，其特征在于：包括激光平行管（3）、三腳架（1）、云臺（2）、數據采集卡（8）和上位機（9），激光平行管（3）固定在云臺（2）上，云臺（2）固定在三腳架（1）上，共光軸依次間隔設置激光平行管（3）和鏡頭成像裝置（7），數據采集卡（8）分別與鏡頭成像裝置（7）和上位機（9）連接；

所述鏡頭成像裝置（7）包括壓環（10）、散射片（4）、鏡頭（5）、PSD（6）、長套筒（11）和轉接件（12），轉接件（12）圓柱形，其中心設有一個二階通孔，PSD（6）固定在轉接件（12）一端，鏡頭（5）設置在轉接件（12）另一端與所述二階通孔的直徑小的孔固連，轉接件（12）固定在長套筒（11）的一端，鏡頭（5）位于長套筒（11）內，散射片（4）設置在長套筒（11）的另一端，通過壓環（10）壓緊；其中散射片（4）位于激光平行管（3）的出射光路，PSD（6）與數據采集卡（8）連接。

2.根據權利要求1所述的長距離高精度的對中調試裝置，其特征在于：所述激光平行管（3）和散射片（4）之間的距離為0~200m。

3.根據權利要求1所述的長距離高精度的對中調試裝置，其特征在于：所述PSD（6）光敏面與鏡頭（5）主焦面重合。

4.一種基于權利要求1所述的長距離高精度的對中調試裝置的調試方法，其特征在于，步驟如下：

步驟1、搭建長距離高精度的對中調試裝置；

步驟2、調試長距離高精度的對中調試裝置；

步驟3、激光平行管（3）發出的激光入射至散射片（4）的前表面，激光光斑透過散射片（4）發生漫反射，并在其后方形成激光散射場；

步驟4、經過鏡頭（5）進行聚焦和整形，在PSD（6）的光敏面形成一個倒立縮小的實像；

步驟5、光斑照射后PSD（6）產生光電流，經過I/V轉換并放大后，通過線纜傳輸到數據采集卡（8），在上位機（9）上處理并顯示出光斑的二維坐標位置。

5.根據權利要求4所述的長距離高精度的對中調試裝置的調試方法，其特征在于：上述步驟2、調試長距離高精度的對中調試裝置，具體步驟如下：

步驟2-1、利用云臺（2）調節激光平行管（3）的水平，使得激光水平射出；

步驟2-2、調節鏡頭成像裝置（7）的空間位置，使得激光束位于檢測范圍內；

步驟2-3、給激光平行管（3）供電，PSD（6）上電并連接線纜，查看上位機（9）是否有信號輸出。