[發(fā)明專利]接近開關測試系統(tǒng)

有效

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• 申請日: 2017-11-30
• 公開（公告）號: CN108008293B
• 公開（公告）日: 2019-11-12
• 發(fā)明（設計）人: 楊煥宇
• 申請（專利權）人: 深圳市天工機械制造技術開發(fā)有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司 44384
• 代理人: 彭西洋;蘇芳

1.一種接近開關測試系統(tǒng)，用于檢測接近開關的電性能參數(shù)，其特征在于，包括：計算機、控制檢測電路、行程運動機構、探測組件、視覺測距組件和快速裝夾裝置；

所述計算機與控制檢測電路電性或無線連接，所述控制檢測電路還分別與行程運動機構、探測組件、視覺測距組件以及接近開關電性連接；

所述接近開關裝夾于快速裝夾裝置上，所述行程運動機構用于改變探測組件與接近開關的感應端之間的距離；所述視覺測距組件用于檢測接近開關與探測組件的感應距離，并通過控制檢測電路傳輸給計算機；所述控制檢測電路用于檢測接近開關的電性能參數(shù)，且控制行程運動機構和探測組件運動，并檢測接近開關的電性能參數(shù)；所述計算機通過控制檢測電路對行程運動機構和探測組件進行控制，且對控制檢測電路獲得的接近開關的電性能參數(shù)的初始數(shù)據(jù)進行處理，得到最終電性能參數(shù)數(shù)據(jù)；

所述控制檢測電路包括：MCU模塊、通訊模塊、繼電器陣列模塊、電壓信號AD轉換模塊；

所述MCU模塊執(zhí)行計算機的指令，對待測試產品的參數(shù)進行測量，并對整個控制檢測電路實施控制；

所述通訊模塊連接MCU模塊，MCU模塊通過通訊模塊與計算機通訊；

所述電壓信號AD轉換模塊的輸出端與MCU模塊電性連接，電壓信號AD轉換模塊的輸入端與繼電器陣列模塊電性連接，電壓信號AD轉換模塊用于處理待測試產品反饋的電壓信號；

所述繼電器陣列模塊分別與MCU模塊、接近開關、行程運動機構、探測組件電性連接，所述MCU模塊根據(jù)計算機指令控制繼電器陣列模塊打開測試時所需要的測試模塊中電路。

2.根據(jù)權利要求1所述的接近開關測試系統(tǒng)，其特征在于，包括信號傳輸模塊，所述信號傳輸模塊分別與MCU模塊、行程運動機構、探測組件和視覺測距組件電性連接。

3.根據(jù)權利要求1所述的接近開關測試系統(tǒng)，其特征在于，所述行程運動機構包括滑動組件，所述快速裝夾裝置設置在行程機構的滑動組件，所述接近開關隨滑動組件移動。

4.根據(jù)權利要求3所述的接近開關測試系統(tǒng)，其特征在于，所述行程運動機構還包括：第一電機、絲桿，所述滑動組件包括導套和滑臺，所述第一電機的輸出端與絲桿的一端連接，所述導套設置在絲桿的外圍，所述滑臺設置在導套上，并隨導套沿絲桿長度方向移動，所述快速裝夾裝置設置在滑臺上，并隨滑臺移動。

5.根據(jù)權利要求4所述的接近開關測試系統(tǒng)，其特征在于，所述行程運動機構還包括第一限位傳感器，所述第一限位傳感器與控制檢測電路電性連接，所述快速裝夾裝置經過第一限位傳感器的傳感方向的延伸端。

6.根據(jù)權利要求4所述的接近開關測試系統(tǒng)，其特征在于，所述探測組件包括：第二電機、轉輪和第二限位傳感器，所述第二電機設置在所述絲桿的延伸方向，所述轉輪設置在第二電機靠近所述絲桿的一端，所述轉輪的中心與第二電機的輸出軸連接；所述第二限位傳感器設置在轉輪的一側，并與控制檢測電路電性連接。

7.根據(jù)權利要求1所述的接近開關測試系統(tǒng)，其特征在于，所述快速裝夾裝置包括：固定座、彈片、壓緊塊、連桿和撥桿；所述固定座的側面設有貫通的通孔，所述彈片為長條狀，設置在固定座的上方，并且一端與固定座轉動連接；所述彈片與固定座之間的通孔設有連通槽，所述壓緊塊的上端固定在彈片下端，壓緊塊的下端設置在連通槽內；所述彈片的另一端與連桿的一端連接；所述連桿為圓弧狀，所述連桿的另一端轉動連接撥桿；所述撥桿呈銳角三角形狀，所述撥桿的最短邊靠近固定座設置，所述撥桿最短邊遠離彈片的一側轉動連接連桿，另一側轉動連接固定座的凸起部。

8.根據(jù)權利要求6所述的接近開關測試系統(tǒng)，其特征在于，所述視覺測距組件包括光源和攝像機，所述光源發(fā)射光的延伸方向交于所述轉輪和測試開關之間；所述攝像機的鏡頭的延伸方向交于所述轉輪和測試開關之間，且與所述光源相對設置。

9.根據(jù)權利要求1所述的接近開關測試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制檢測電路還包括電流傳感器，所述電流傳感器的輸入端連接繼電器陣列模塊，電流傳感器的輸出端連接MCU模塊。