[發明專利]反射式系統空間光學遙感器漏光檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201711233191.6
• 申請日: 2017-11-30
• 公開（公告）號: CN108152012B
• 公開（公告）日: 2019-09-06
• 發明（設計）人: 孫欣;胡永力;范龍飛;付強強;賈永丹;劉涌;王巧霞;康少英
• 申請（專利權）人: 北京空間機電研究所
• 主分類號: G01M11/04
• 分類號: G01M11/04
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 張曉飛

1.反射式系統空間光學遙感器漏光檢測方法，其特征在于步驟如下：

1)遮擋待檢測遙感器(2)光路中任意反射鏡反射區域，點亮待檢測遙感器(2)入光口前的檢測光源，開啟待檢測遙感器(2)，獲取待檢測遙感器(2)的原始成像輸出響應；

2)在一定位置和范圍內移動檢測光源，實時檢測待檢測遙感器(2)成像輸出響應；

3)根據檢測的輸出響應結果確定漏光角度，完成漏光檢測。

2.根據權利要求1所述的反射式系統空間光學遙感器漏光檢測方法，其特征在于：所述移動檢測光源的一定位置位于待檢測遙感器(2)入光口前且與待檢測遙感器(2)光軸垂直的平面內。

3.根據權利要求1所述的反射式系統空間光學遙感器漏光檢測方法，其特征在于：所述步驟2)中檢測待檢測遙感器(2)成像輸出響應的具體方法為：

若檢測光源移動全過程，待檢測遙感器(2)成像輸出響應與原始成像輸出響應相同，則判定遙感器無漏光現象；若檢測光源移動到某一位置時，待檢測遙感器(2)成像輸出響應與原始成像輸出響應不同，則判定遙感器在該位置有漏光現象。

4.根據權利要求2所述的反射式系統空間光學遙感器漏光檢測方法，其特征在于：所述移動檢測光源的一定范圍應遍歷遙感器視場內區域及視場外一定區域。

5.根據權利要求2所述的反射式系統空間光學遙感器漏光檢測方法，其特征在于：所述漏光角度的具體方法為：

其中：θ′為漏光角度，R′為發生漏光時檢測光源所在位置的極徑，所述極徑為檢測光源到待檢測遙感器(2)光軸與檢測光源移動平面的交點的距離，r為待檢測遙感器(2)主鏡通光口徑的半徑，L為檢測光源到待檢測遙感器(2)主鏡的距離。

6.根據權利要求4所述的反射式系統空間光學遙感器漏光檢測方法，其特征在于：所述視場外一定區域的面積大于待檢測遙感器(2)有效視場的兩倍。