[發明專利]裂縫非均質性定量表征方法及其系統

在審

• 申請號: 201711230912.8
• 申請日: 2017-11-29
• 公開（公告）號: CN108008464A
• 公開（公告）日: 2018-05-08
• 發明（設計）人: 張兆輝;杜社寬;夏燕青
• 申請（專利權）人: 中國科學院地質與地球物理研究所蘭州油氣資源研究中心
• 主分類號: G01V9/00
• 分類號: G01V9/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 李進

本發明提供的裂縫非均質性定量表征方法及其系統，涉及石油勘探技術領域。該裂縫非均質性定量表征方法包括：劃分單層巖性體；統計單層巖性體的巖性體厚度；依據成像測井資料解釋單層巖性體內的裂縫；統計單層巖性體中裂縫的裂縫厚度；計算裂縫發育率，其中，裂縫發育率為單層巖性體內裂縫厚度與該巖性體厚度的比值。該裂縫非均質性定量表征方法可以定量表征出裂縫的非均質性分布強弱，也可以定量表征裂縫的縱向發育程度。

技術領域

本發明涉及石油勘探技術領域，具體而言，涉及一種裂縫非均質性定量表征方法及其系統。

背景技術

裂縫不僅是火山巖油氣藏的重要儲集空間，而且是油氣滲流的主要通道，控制油氣運移和聚集。因此，裂縫分布特征研究決定勘探成敗，影響經濟效益。

目前，針對裂縫的研究主要有以下方法，但都存在著各自的不足：

1、地質角度研究裂縫成因、裂縫特征、裂縫期次，側重于裂縫微觀發育特征的定性描述，準確度高，由于裂縫的縱橫向強非均質分布特征，致使宏觀分布規律研究的不確定性較大，橫向對比能力不足。

2、測井角度的裂縫識別方法技術研究及參數計算，可以獲得較準確的裂縫參數，以裂縫密度、裂縫孔隙度為主，進行裂縫發育程度定量評價，但對分布規律則難以描述。

3、地震角度的裂縫預測技術研究，可對微斷裂、裂縫發育區進行預測，但難以獲得裂縫參數。

4、地質力學等為基礎的裂縫建模及數值模擬，主要針對構造縫的發育機理進行研究，與應力場相結合，一定程度上可以預測裂縫分布，由于模型及參數并不能反映實際地層情況，致使誤差較大，但有較強的指導作用。

目前裂縫發育機理、特征及有效性研究較為深入，但對裂縫分布非均質性的研究仍以大尺度的地震屬性預測為主，分辨率低、多解性強，定量研究很少涉及。

發明內容

本發明的目的在于提供一種裂縫非均質性定量表征方法，該裂縫非均質性定量表征方法可以定量表征出裂縫的非均質性分布強弱，也可以定量表征裂縫的縱向發育程度。

本發明的另一目的在于提供一種裂縫非均質性定量表征系統，其用于定量表征裂縫的非均質性分布強弱，也用于定量表征裂縫的縱向發育程度。

本發明解決其技術問題是采用以下的技術方案來實現的：

本發明提供的一種裂縫非均質性定量表征方法，包括：

劃分單層巖性體；

統計所述單層巖性體的巖性體厚度；

依據成像測井資料解釋所述單層巖性體內的裂縫；

統計所述單層巖性體中所述裂縫的裂縫厚度；

計算裂縫發育率，其中，所述裂縫發育率為所述單層巖性體內的所述裂縫厚度與所述巖性體厚度的比值。

進一步地，所述劃分單層巖性體的步驟包括：通過薄片鑒定資料和/或常規測井資料和/或成像測井資料進行逐深度點的巖性解釋；將縱向上連續且相同的巖性點組成所述單層巖性體。

進一步地，所述劃分單層巖性體的步驟還包括：在所述通過薄片鑒定資料和/或常規測井資料和/或成像測井資料進行逐深度點的巖性解釋的步驟之后，結合巖屑錄井資料約束和調整所述巖性解釋。

進一步地，所述單層巖性體的數量為多個，每個所述單層巖性體的厚度均不小于0.5m，若其中一個所述單層巖性體的厚度小于0.5m，所述劃分單層巖性體的步驟還包括：將所述厚度小于0.5m的單層巖性體劃分到位于所述厚度小于0.5m的單層巖性體的上層且連續的所述單層巖性體。