[發明專利]一種用于質譜和光電子速度成像共同探測的裝置有效
| 申請號： | 201711225994.7 | 申請日： | 2017-11-29 |
| 公開（公告）號： | CN108037525B | 公開（公告）日： | 2019-06-07 |
| 發明（設計）人： | 唐紫超;王永天;施再發;張將樂;劉方剛;王可 | 申請（專利權）人： | 廈門大學 |
| 主分類號： | G01T1/36 | 分類號： | G01T1/36;H01J49/26 |
| 代理公司： | 廈門南強之路專利事務所(普通合伙) 35200 | 代理人： | 馬應森 |
| 地址： | 361005 *** | 國省代碼： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 光電子 速度 成像 共同 探測 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于質譜和光電子速度成像共同探測的裝置，其特征在于設有質譜MCP檢測器、光電子速度成像透鏡系統、成像探測系統、第1螺旋直線導入器、第2螺旋直線導入器、第3螺旋直線導入器、第1滑軌和第2滑軌；所述質譜MCP檢測器與第3螺旋直線導入器相連，所述第3螺旋直線導入器調節成像探測系統的垂直高度，第1螺旋直線導入器、第2螺旋直線導入器與光電子速度成像透鏡系統相連，旋轉第1螺旋直線導入器和第2螺旋直線導入器調節光電子速度成像透鏡系統的水平位置，光電子速度成像透鏡系統設在第1滑軌和第2滑軌上；所述光電子速度成像透鏡系統設有參考電極片和三場加速電極片。
2.如權利要求1所述一種用于質譜和光電子速度成像共同探測的裝置，其特征在于所述成像探測系統設有MCP、熒光屏和CCD相機。
3.如權利要求1所述一種用于質譜和光電子速度成像共同探測的裝置，其特征在于所述質譜MCP檢測器降下時其中心位于光脫附點。
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