[發明專利]一種超導器件測試系統和方法

有效

• 申請號: 201711217953.3
• 申請日: 2017-11-28
• 公開（公告）號: CN108072820B
• 公開（公告）日: 2020-05-01
• 發明（設計）人: 康焱
• 申請（專利權）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 許志勇

1.一種超導器件測試方法，用超導器件測試系統，所述超導器件測試系統包括交流模塊、放大模塊、直流模塊、并流模塊、選擇模塊、輸出模塊、示波器、精密電壓表；所述交流模塊，用于產生正弦信號；所述放大模塊，用于對所述正弦信號進行放大，產生第一掃描信號；所述直流模塊，用于產生直流信號；所述并流模塊，用于將所述第一掃描信號累加在所述直流信號上，產生第二掃描信號；所述選擇模塊，用于在所述第一掃描信號和第二掃描信號中選擇輸出；所述輸出模塊，同時輸出2路第二掃描信號，一路用于輸入到所述示波器的電流輸入端，另一路用于輸入到超導器件；所述超導器件的電壓輸出端，用于接入所述精密電壓表和所述示波器電壓輸入端；其特征在于，所述方法包含以下步驟：

向所述超導器件輸出第一掃描信號；

用所述示波器測試所述超導器件的輸入電流和輸出電壓，產生超導器件IV曲線，從IV曲線中識別電壓臺階，包括第一拐點電流粗略值、第二拐點電流粗略值；

向所述超導器件輸出第二掃描信號，調整所述正弦信號的放大倍數和所述第二掃描信號的直流工作點，使所述第二掃描信號的電流值位于所述第一拐點電流粗略值和第二拐點電流粗略值之間；

用精密電壓表測試所述超導器件的輸出電壓，調整所述正弦信號的放大倍數和所述第二掃描信號的直流工作點，根據所述精密電壓表的指示數據是否發生抖動，判別第一拐點電流精確值、第二拐點電流精確值。

2.如權利要求1所述超導器件測試方法，其特征在于，進一步包含以下步驟：

當所述精密電壓表的指示數向下跳動時，判定所述第二掃描信號的最小值低于所述第一拐點電流精確值；

當所述精密電壓表的指示數向上跳動時，判定所述第二掃描信號的最大值高于所述第二拐點電流精確值。