[發明專利]紡織物缺陷檢測方法及紡織物缺陷檢測裝置

在審

• 申請號: 201711217285.4
• 申請日: 2017-11-28
• 公開（公告）號: CN108133472A
• 公開（公告）日: 2018-06-08
• 發明（設計）人: 李洪春
• 申請（專利權）人: 長樂萬達紡織機械有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411
• 代理人: 張清彥

1.一種紡織物缺陷檢測方法，其特征在于：包括步驟：

利用CMOS攝像機采集紡織品的各種類型的缺陷部分和非缺陷部分，分別得到缺陷樣本和無缺陷樣本，并進行存儲；

利用CMOS攝像機采集待測樣品的圖像信息，并進行圖像預處理；

利用非局部均值濾波對紋理圖像進行紋理增強；對紋理增強后的紡織品圖像進行處理，計算獲得紡織品圖像的紋理輪廓圖像；構造紋理輪廓圖像的特征模型；

將所述特征模型與所述無缺陷樣本進行匹配比對，偏移量與平均偏移量的差值大于預設閾值時，確定該特征模型為瑕疵模型；偏移量與平均偏移量的差值小于預設閾值時，確定該特征模型為合格模型；

將所述瑕疵模型與缺陷樣本進行一對一匹配對比，并對瑕疵樣本進行分類存儲。

2.根據權利要求1所述的紡織物缺陷檢測方法，其特征在于：計算獲得紡織品圖像的紋理輪廓圖像的過程包括步驟：

先利用無抽樣小波變換，得到W(x,y)；選擇第i個子帶的小波變換；

利用局部高斯平滑的方法預處理各子帶小波系數，突出各子帶紋理輪廓特征；

利用多通道梯度信息融合各子帶紋理輪廓，獲得紡織品圖像的紋理輪廓圖像。

3.根據權利要求1所述的紡織物缺陷檢測方法，其特征在于：利用CMOS攝像機采集待測樣品的圖像信息，并進行圖像預處理的步驟包括：

利用CMOS攝像機采集待測樣品的圖像信息；

對所述圖像信息進行圖像切割，標號處理；

對所述圖像信息進行去燥處理。

4.根據權利要求1所述的圖像的缺陷檢測方法，其特征在于，所述特征模型與所述無缺陷樣本或所述缺陷樣本進行匹配比對的過程包括：

將所述特征模型的圖案與所述無缺陷樣本中的圖案進行匹配；

根據匹配結果計算搜索點與無缺陷樣本中對應搜索點間的距離，記為偏移量；

當所述偏移量與平均偏移量的差值大于預設偏移量閾值時，確定所述搜索點為瑕疵點；所述平均偏移量為所述特征模型的圖案中所有搜索點的偏移量總和的平均值；

將所述偏移量與平均偏移量進行比對。

5.根據權利要求4所述的圖像的缺陷檢測方法，其特征在于，所述將所述待測圖案與所述無缺陷樣本中的模板圖案進行匹配，具體包括：在所述待測圖案中所構成的新的搜索點集合中選取搜索點P1，并在所述模板圖像中選取所述P1的對應點P2，根據所選取的P1和P2計算旋轉偏移量Δθ、平移偏移量R和沿Y軸拉伸量K；根據旋轉偏移量Δθ、平移偏移量R和沿Y軸拉伸量K將所述搜索點投影到與所述待測圖案相同的模板圖像中，得到匹配結果；具體的，根據P1和P2計算長度D和與水平方向夾角θ；

D＝(P1x-P2x)2+(P1y-P2y)2θ＝arctanP1y-P2yP1x-P2x

在所述待測圖案和模板圖像中選取三組對應點P11、P21、P12、P22、P13和P23，

則平移偏移量R為：Ry＝P11y-P21y Rx＝P11x-P21x

沿Y軸拉伸量K為：K＝P22y-P21yl1cos(arctan(P12x-P11xP12y-P11y)-Δθ)K＝P23y-P21yl2cos(arctan(P13x-P11xP13y-P11y)-Δθ)

其中，l1為P11和P12兩點距離，l2為P13、P23兩點距離；

l1＝(P11x-P12x)2+(P11y-P12y)2l2＝(P11x-P13x)2+(P11y-P13y)2

則所述Δθ為：Δθ＝arctan(P22y-P21y)l2cos(θ2)-(P23 y-P21y)l1cos(θ1)(P23y-P21y)l1sin(θ1)-(P22y-P21y)l1sin(θ2)

其中，θ1＝arctan(P12x-P11xP12y-P11y)θ2＝arctan(P13 x-P11xP13y-P11y)。