[發明專利]一種獲得剩余重力異常的方法及裝置

有效

• 申請號: 201711216885.9
• 申請日: 2017-11-28
• 公開（公告）號: CN108008459B
• 公開（公告）日: 2019-11-01
• 發明（設計）人: 王真理
• 申請（專利權）人: 北京中科地物能源技術有限公司
• 主分類號: G01V7/00
• 分類號: G01V7/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

1.一種獲得剩余重力異常的方法，其特征在于，該方法包括：

獲得目標區域的布格重力異常，所述布格重力異常包括所述目標區域內多個采樣點的坐標和場值；

確定所述目標區域內與每個采樣點對應的第一預設范圍；

基于每個采樣點對應的所述第一預設范圍內采樣點的坐標和場值，利用曲面擬合方法，得到該采樣點的第一區域場值；

遍歷所述目標區域，根據目標區域內采樣點的第一區域場值，得到所述目標區域的第一區域重力異常；

根據所述布格重力異常和所述第一區域重力異常，得到所述目標區域的第一剩余重力異常；

所述基于每個采樣點對應的所述第一預設范圍內采樣點的坐標和場值，利用曲面擬合方法，得到該采樣點的第一區域場值，具體包括：

利用采樣點的坐標和場值，及與其對應的所述第一預設范圍內該采樣點周圍的k個第一參考采樣點的坐標和場值，進行曲面擬合，得到該采樣點對應的第一區域重力異常曲面，k為正整數，該采樣點為與其對應的所述第一預設范圍的中心點；

將采樣點的坐標代入與該采樣點對應的第一區域重力異常曲面，得到該采樣點的第一區域場值；

其中，目標區域內采樣點對應的第一預設范圍為目標區域內與該采樣點對應的k個第一參考采樣點所圍成的區域，且第一預設范圍以該采樣點為中心。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述第一參考采樣點是與所述第一預設區域對應的采樣點在x軸方向上的距離為m個單位距離的采樣點；

和/或，所述第一參考采樣點是與所述第一預設區域對應的采樣點在y軸方向上的距離為m個單位距離的采樣點；

其中，m＝1,2,......,i。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，該方法還包括：

確定所述目標區域內與每個采樣點對應的第二預設范圍，同一采樣點對應的第一預設范圍和第二預設范圍不同；

基于每個采樣點對應的所述第二預設范圍內采樣點的坐標和場值，利用曲面擬合方法，得到該采樣點的第二區域場值；

遍歷所述目標區域，根據目標區域內采樣點的第二區域場值，得到所述目標區域的第二區域重力異常；

根據所述布格重力異常和所述第二區域重力異常，得到所述目標區域的第二剩余重力異常；

整合所述第一剩余重力異常和所述第二剩余重力異常，得到所述目標區域的第三剩余重力異常。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述目標區域中第二預設范圍內采樣點的坐標和場值，利用曲面擬合方法，得到該第二預設范圍內目標采樣點的第二區域場值，具體包括：

利用采樣點的坐標和場值，及與其對應的所述第二預設范圍內該采樣點周圍的k個第二參考采樣點的坐標和場值，進行曲面擬合，得到該采樣點對應的第二區域重力異常曲面，k為正整數，該采樣點為與其對應的所述第二預設范圍的中心點；

將采樣點的坐標代入與該采樣點對應的第二區域重力異常曲面，得到該采樣點的第二區域場值。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，

所述第一參考采樣點是與所述第一預設區域對應的采樣點在x軸方向上的距離為m個單位距離的采樣點；和/或，所述第一參考采樣點是與所述第一預設區域對應的采樣點在y軸方向上的距離為m個單位距離的采樣點；

所述第二參考采樣點是與所述第二預設區域對應的采樣點在x軸方向上的距離為n個單位距離的采樣點；和/或，所述第二參考采樣點是與所述第二預設區域對應的采樣點在y軸方向上的距離為n個單位距離的采樣點；

其中，m＝1,2,......,i，n＝2m。