[發明專利]一種氣體檢測裝置

在審

• 申請號: 201711214753.2
• 申請日: 2017-11-28
• 公開（公告）號: CN107991253A
• 公開（公告）日: 2018-05-04
• 發明（設計）人: 張振華
• 申請（專利權）人: 北京凱爾科技發展有限公司
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/03
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司11332
• 代理人: 胡彬

技術領域

本發明涉及光學檢測技術領域，尤其涉及一種氣體檢測裝置。

背景技術

隨著科學技術的不斷發展，在工業、礦井、環境、交通、航空航天等領域越來越多的涉及到氣體檢測，尤其是大氣環境污染、化工行業的生產過程以及航空航天的特殊需求，日益受到廣泛的關注。

氣體濃度檢測過程為：將待測氣體通入吸收池，激光器輸出某種特定波長的調諧激光經準直器準直后入射到吸收池，在池內經多次反射并經樣品氣體吸收后，輸出光被探測器接收，探測器將攜帶氣體吸收信息的光信號轉換為電信號，輸入計算機進行后續處理與分析。氣體分子吸光度與光程、氣體分子濃度等因素有關，而不同氣體分子具有不同的氣體分子吸收特征。因此，可以通過對氣體吸收前后的光譜進行光譜分析來定量反演氣體分子濃度。

在檢測過程中，被測氣體對測量光線進行吸收，因此測量光線在吸收池中的光程十分重要。當氣體濃度過低時，其氣體分子吸光度較弱，吸收光譜表現不明顯，此時可通過增加光程，以增大待測氣體的吸光度，但是現有技術中，吸收池中的測量光線的光程是固定的，其可測量的氣體濃度的范圍有限，若要對更大范圍內的不同濃度的氣體進行檢測，需要多個不同光程的吸收池，增加成本，或者需要增加吸收池的體積，現有吸收池的適應性低，因此光程固定的吸收池無法對跨度較大的范圍內的不同濃度的氣體進行檢測。

發明內容

本發明的目的在于提供一種氣體檢測裝置，以解決現有技術中存在的吸收池因光程固定無法對跨度較大的范圍內的不同濃度的氣體進行檢測的技術問題。

如上構思，本發明所采用的技術方案是：

一種氣體檢測裝置，包括：

吸收池，其上設置有氣體入口、氣體出口、光線入口和光線出口，所述光線入口處設置有入射鏡，所述光線出口處設置有出射鏡；

反射組件，安裝于所述吸收池內，所述反射組件包括設置在第一側面的第一反射鏡和設置在與所述第一側面相對的第二側面的第二反射鏡；

調節機構，包括用于調節所述第一反射鏡的反射角的第一調節機構和用于調節所述第二反射鏡的反射角的第二調節機構。

其中，所述第一調節機構包括：

第一安裝板，安裝于所述吸收池上；

第一調節螺絲，安裝于所述第一安裝板上；

第一壓電陶瓷支撐柱，其一端與所述第一調節螺絲連接，另一端與所述第一反射鏡連接；

第一控制模塊，與所述第一壓電陶瓷支撐柱電連接。

其中，所述第一安裝板為圓柱體，若干個所述第一調節螺絲繞所述圓柱體的軸線均勻間隔分布。

其中，所述第一壓電陶瓷支撐柱與所述第一調節螺絲一一對應。

其中，所述第一調節螺絲有三個。

其中，所述第二調節機構包括：

第二安裝板，安裝于所述吸收池上；

第二調節螺絲，安裝于所述第二安裝板上；

第二壓電陶瓷支撐柱，其一端與所述第二調節螺絲連接，另一端與所述第二反射鏡連接；

第二控制模塊，與所述第二壓電陶瓷支撐柱電連接。

其中，所述第二安裝板為圓柱體，若干個所述第二調節螺絲繞所述圓柱體的軸線均勻間隔分布。

其中，所述第二壓電陶瓷支撐柱與所述第二調節螺絲一一對應。

其中，所述第二反射鏡有兩個且分別固定在兩個所述第二安裝板上，與兩個所述第二反射鏡對應的所述第二壓電陶瓷支撐柱共用一個所述第二控制模塊。

其中，所述第一反射鏡位于所述光線入口和所述光線出口所在的一端，光線從所述光線入口經所述入射鏡反射進入吸收池，并打在所述第二反射鏡上，于所述第一反射鏡和所述第二反射鏡之間經多次反射，由所述光線出口經所述出射鏡反射出所述吸收池。

本發明的有益效果：

本發明提出的氣體檢測裝置，被測氣體從氣體入口流入吸收池，從氣體出口流出，光線從光線入口經入射鏡反射進入吸收池，并打在第二反射鏡上，于第一反射鏡和第二反射鏡之間經多次反射，由光線出口經出射鏡反射出吸收池；通過第一調節機構調節第一反射鏡的反射角，通過第二調節機構調節第二反射鏡的反射角，改變光線在吸收池內的反射次數和光程；根據光線的入射強度和出射強度，進行后續處理與分析。通過調節光線的反射次數和光程，可以實現在檢測的過程中根據被測氣體的濃度自動調節裝置的量程，能夠對跨度較大的范圍內的不同濃度的氣體進行檢測。

附圖說明

圖1是本發明提供的氣體檢測裝置的部分結構示意圖；

圖2是本發明提供的氣體檢測裝置的第一調節機構的主視圖；