[發明專利]一種用于老化測試的方法、裝置和設備

有效

• 申請號: 201711212555.2
• 申請日: 2017-11-28
• 公開（公告）號: CN107831391B
• 公開（公告）日: 2019-06-07
• 發明（設計）人: 楊濤
• 申請（專利權）人: 英特爾產品（成都）有限公司;英特爾公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/28
• 代理公司: 北京永新同創知識產權代理有限公司 11376
• 代理人: 鐘勝光

1.一種用于老化測試的方法，包括：

在對電子產品進行老化測試時，在將所述電子產品加熱到預定溫度之后，在所述老化測試的具有至少一個時間段的第一組時間段中的每一個時間段期間，向所述電子產品的至少一個功能區施加第一組測試電壓中的其中一個測試電壓；以及

在所述老化測試的具有至少一個時間段的第二組時間段中的每一個時間段期間，向所述至少一個功能區施加第二組測試電壓中的其中一個測試電壓，

其中，在所述老化測試中，所述第一組時間段在所述第二組時間段之前，以及，所述第一組測試電壓中的測試電壓大于所述第二組測試電壓中的測試電壓，

其中，所述電子產品包括第一組功能區和第二組功能區，其中，與所述第二組功能區相比，所述第一組功能區具有更高的缺陷密度和早期失效比率，以及，所述至少一個功能區包括所述第一組功能區，

其中，所述方法還包括：在所述老化測試期間，向所述第二組功能區施加指定測試電壓，其中，所述指定測試電壓小于所述第一組測試電壓中的測試電壓但大于所述第二組測試電壓中的測試電壓。

2.如權利要求1所述的方法，其中，還包括：

在所述第二組時間段中的每一個時間段期間，向所述至少一個功能區輸入第一組測試數據序列或第二組測試數據序列中的測試數據序列；以及

在所述第一組時間段中的每一個時間段期間，向所述至少一個功能區輸入所述第二組測試數據序列中的測試數據序列，

其中，與所述第二組測試數據序列相比，所述第一組測試數據序列使得所述電子產品在所述老化測試時產生更多的熱量。

3.一種用于老化測試的裝置，包括：

第一施加模塊，用于在對電子產品進行老化測試時，在將所述電子產品加熱到預定溫度之后，在所述老化測試的具有至少一個時間段的第一組時間段中的每一個時間段期間，向所述電子產品的至少一個功能區施加第一組測試電壓中的其中一個測試電壓；以及

第二施加模塊，用于在所述老化測試的具有至少一個時間段的第二組時間段中的每一個時間段期間，向所述至少一個功能區施加第二組測試電壓中的其中一個測試電壓，

其中，在所述老化測試中，所述第一組時間段在所述第二組時間段之前，以及，所述第一組測試電壓中的測試電壓大于所述第二組測試電壓中的測試電壓，

其中，所述電子產品包括第一組功能區和第二組功能區，其中，與所述第二組功能區相比，所述第一組功能區具有更高的缺陷密度和早期失效比率，以及，所述至少一個功能區包括所述第一組功能區，

其中，所述裝置還包括：第三施加模塊，用于在所述老化測試期間，向所述第二組功能區施加指定測試電壓，其中，所述指定測試電壓小于所述第一組測試電壓中的測試電壓但大于所述第二組測試電壓中的測試電壓。

4.如權利要求3所述的裝置，其中，還包括：

第一輸入模塊，用于在所述第二組時間段中的每一個時間段期間，向所述至少一個功能區輸入第一組測試數據序列或第二組測試數據序列中的測試數據序列；以及

第二輸入模塊，用于在所述第一組時間段中的每一個時間段期間，向所述至少一個功能區輸入所述第二組測試數據序列中的測試數據序列，

其中，與所述第二組測試數據序列相比，所述第一組測試數據序列使得所述電子產品在所述老化測試時產生更多的熱量。

5.一種用于老化測試的設備，包括：

處理器；以及

存儲器，其上存儲有可執行指令，其中，所述可執行指令當被執行時使得所述處理器執行權利要求1-2中的任意一個所述的方法。

6.一種機器可讀介質，其上存儲有可執行指令，其中，所述可執行指令當被執行時使得機器執行權利要求1-2中的任意一個所述的方法。