[發(fā)明專利]現(xiàn)場環(huán)境下平板平面度測量結(jié)果的不確定度確定方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711211668.0
• 申請日: 2017-11-28
• 公開（公告）號: CN108195339B
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 項(xiàng)陽;周宇濤;李琳
• 申請（專利權(quán)）人: 中國航發(fā)西安動力控制科技有限公司
• 主分類號: G01B21/30
• 分類號: G01B21/30
• 代理公司: 西安佩騰特知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61226
• 代理人: 姚敏杰

1.一種現(xiàn)場環(huán)境下平板平面度測量結(jié)果的不確定度確定方法，其特征在于：所述方法包括以下步驟：

1)確定現(xiàn)場環(huán)境下對待測平板平面度測量結(jié)果的總不確定度μ_C的來源；所述現(xiàn)場環(huán)境下對待測平板平面度測量結(jié)果的總不確定度μ_C包括現(xiàn)場環(huán)境下對待測平板平面度測量結(jié)果的B類不確定度分量μ_B以及現(xiàn)場環(huán)境下對待測平板平面度測量結(jié)果的A類不確定度分量μ_A；所述現(xiàn)場環(huán)境下對待測平板平面度測量結(jié)果的B類不確定度分量μ_B包括環(huán)境震動引入的不確定度分量、水平情況引入的不確定度分量、測量設(shè)備引入的不確定度分量以及測量方法引入的不確定度分量；所述現(xiàn)場環(huán)境下對待測平板平面度測量結(jié)果的A類不確定度分量μ_A是測量重復(fù)性不確定度分量；

2)根據(jù)環(huán)境震動引入的不確定度分量、水平情況引入的不確定度分量、測量設(shè)備引入的不確定度分量以及測量方法引入的不確定度分量計(jì)算得到現(xiàn)場環(huán)境下對待測平板平面度測量結(jié)果的B類不確定度分量μ_B；根據(jù)測量重復(fù)性不確定度分量計(jì)算得到現(xiàn)場環(huán)境下對待測平板平面度測量結(jié)果的A類不確定度分量μ_A；

3)根據(jù)現(xiàn)場環(huán)境下對待測平板平面度測量結(jié)果的A類不確定度分量μ_A以及現(xiàn)場環(huán)境下對待測平板平面度測量結(jié)果的B類不確定度分量μ_B計(jì)算合成現(xiàn)場環(huán)境下對平板平面度測量結(jié)果的總不確定度μ_C；

所述水平情況引入的不確定度分量μ_Sp的具體獲取方式是：

在待測平板的幾何中心區(qū)域及四個角15cm×15cm的四個方形區(qū)域內(nèi)，分別使用電子水平儀在基準(zhǔn)邊的橫縱方向上各進(jìn)行一次測量，將測量結(jié)果按方向分別進(jìn)行算數(shù)平均，取數(shù)值較大的一個方向的值作為放置水平影響量S_z；所述基準(zhǔn)邊是待測平板離檢測者最近的一邊；

使用如下公式計(jì)算水平情況引入的不確定度分量μ_Sp：

其中：

t是沿測量縱橫方向所需的采點(diǎn)數(shù)中較大值；

L為縱橫方向中長度較大的方向的平板長度；

l為電子水平儀測試單點(diǎn)時的跨度；

S_z是放置水平影響量；

所述環(huán)境震動引入的不確定度分量μ_z的具體獲取方式是：

將用于檢測平板的電子水平儀放置于待測平板上，選擇待測平板中離檢測者最近的一邊為基準(zhǔn)邊，在待測平板的幾何中心位置，沿平行于基準(zhǔn)邊的方向各放置10秒，讀取該過程中水平儀讀數(shù)的變化量z_x，在同一位置沿垂直于基準(zhǔn)邊的方向重復(fù)上述測量得到z_y，取z_x、z_y中數(shù)值較大的一個作為震動影響量Z_z，根據(jù)如下公式計(jì)算環(huán)境震動引入的不確定度分量μ_z：

其中：

Z_z是震動影響量；

N是檢測待測平板時需要進(jìn)行的測量點(diǎn)數(shù)；

m是測量軸線的數(shù)量，所述測量軸線的數(shù)量根據(jù)測量方法確定；所述測量方法是方格法或截距法；所述測量方法是方格法時，所述測量軸線的數(shù)量僅計(jì)算所有橫縱軸線數(shù)量；所述測量方法是截距法時，所述測量軸線的數(shù)量包括所有橫縱軸線數(shù)量以及對角線方向軸線數(shù)量；

所述測量方法引入的不確定度分量μ_F的具體獲取方式是：

根據(jù)測量點(diǎn)的選取方式與待測平板邊緣的關(guān)系確定測量方法引入的不確定度分量μ_F：

當(dāng)采用的測量點(diǎn)選取方法與待測平板邊緣不平行的情況下選取測量點(diǎn)時，所述測量方法引入的不確定度分量μ_F的具體獲取方式是：

當(dāng)采用的測量點(diǎn)選取方法與待測平板邊緣平行或垂直于的情況下選取測量點(diǎn)時，所述測量方法引入的不確定度分量μ_F的具體獲取方式是：

其中：

MPL_p是檢規(guī)中對待測平板的平面度達(dá)0級的允差值，所述MPL_p的單位是μm；所述MPL_p的具體獲取方式是：

其中：

λ為待測平板對角線長度，單位是mm。