[發(fā)明專利]一種基于n長基區(qū)碳化硅晶閘管及其制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711209284.5 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108039367B | 公開(公告)日: | 2020-09-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蒲紅斌;劉青;王曦;李佳琪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L29/74 | 分類號(hào): | H01L29/74;H01L29/16;H01L21/332 |
| 代理公司: | 西安弘理專利事務(wù)所 61214 | 代理人: | 談耀文 |
| 地址: | 710048*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 長基區(qū) 碳化硅 晶閘管 及其 制作方法 | ||
本發(fā)明公開的一種基于n長基區(qū)碳化硅晶閘管,包括自下而上依次設(shè)置的陽極歐姆電極、碳化硅p+發(fā)射區(qū)外延層、碳化硅n+緩沖層、碳化硅n型長基區(qū)外延層、碳化硅p?短基區(qū)外延層、碳化硅n+發(fā)射區(qū)外延層;碳化硅n+發(fā)射區(qū)外延層上覆蓋有陰極歐姆電極;碳化硅p?短基區(qū)外延層上部鑲嵌有兩個(gè)碳化硅p+區(qū);每個(gè)碳化硅p+區(qū)上覆蓋有門極歐姆電極,門極歐姆電極與碳化硅n+發(fā)射區(qū)外延層設(shè)置有隔離層。在高質(zhì)量的n型碳化硅襯底上外延生長得到的p+外延層來取代p型碳化硅襯底,能夠?qū)⒋?lián)電阻減小約兩個(gè)數(shù)量級(jí)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種基于n長基區(qū)碳化硅晶閘管,還涉及上述碳化硅晶閘管的制作方法。
背景技術(shù)
長期以來,在特高壓直流輸電(UHVDC)系統(tǒng)中,硅晶閘管一直處于壟斷地位,但其電壓阻斷能力和耐dv/dt、di/dt能力已逐漸逼近硅材料所能達(dá)到的物理極限,且不可工作在高溫(大于125℃)環(huán)境下,因此,我們需要尋求新的半導(dǎo)體材料來研究和制作晶閘管。
碳化硅(4H-SiC),作為發(fā)展較為成熟的第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料,具有比硅材料更寬的禁帶寬度,約是硅的3倍;更高的擊穿場強(qiáng),約為硅的十倍;更高的載流子飽和速度,約是硅的2倍;更高的熱導(dǎo)率,約是硅的3倍;優(yōu)良的Baliga材料優(yōu)選因子等;因此,采用碳化硅制作的電力電子器件比硅的同類器件具有導(dǎo)通電阻小、開關(guān)頻率高、效率高和高溫性能好等特點(diǎn)。
在10-30kV阻斷電壓范圍的應(yīng)用市場上,碳化硅晶閘管最具有吸引力。目前研究較多的碳化硅晶閘管是采用p長基區(qū)結(jié)構(gòu),原因是若采用n長基區(qū),就需要在p型碳化硅襯底上制作,而在相同的摻雜濃度下,p型碳化硅襯底的電阻率比n型碳化硅襯底高約兩個(gè)數(shù)量級(jí),不利于降低正向壓降和通態(tài)損耗;但是在1988年,第一個(gè)碳化硅晶閘管的問世是采用N長基區(qū),大概可以承受約30-50V的阻斷電壓。為了滿足更高阻斷電壓的需求,厚且少子壽命長的外延層是必須的。厚且輕摻雜的N型外延層的少子壽命遠(yuǎn)大于相同厚度和濃度的p型外延層,而且目前工藝發(fā)展迅速,可以采用研磨或化學(xué)機(jī)械拋光的方法去掉高阻p型襯底。因此,研究n長基區(qū)的超高壓碳化硅晶閘管具有重要意義。
M.E.Levinshtein等于2016年在Semiconductor Science and Technology上第50卷發(fā)表的《High-Voltage Silicon-Carbide Thyristor with an n-type Blocking Base》文章中,分析了制造n長基區(qū)碳化硅晶閘管的可能性,若只是簡單地將傳統(tǒng)的18kV p長基區(qū)碳化硅晶閘管的施主層被替換成受主層、受主層被替換成施主層,且具有一個(gè)濃度高且薄的阻止層,得到的n長基區(qū)的碳化硅晶閘管,常溫下,在任何的輸入信號(hào)下無法開通。但是如果去掉阻止層或降低阻止層摻雜濃度和略微增加其厚度,是可以開通的。在150℃下,具有濃度高的阻止層的N長基區(qū)碳化硅晶閘管也是可以開通的,但這個(gè)結(jié)構(gòu)是在N型襯底上制作的,所以導(dǎo)通時(shí)n++襯底-p++發(fā)射區(qū)這個(gè)pn結(jié)是反偏的,因此轉(zhuǎn)折導(dǎo)通時(shí)的最小壓降約90V。
現(xiàn)有的硅晶閘管使用p型碳化硅作襯底,制作出與硅晶閘管結(jié)構(gòu)相同的n長基區(qū)晶閘管器件,電阻率大;并且p長基區(qū)碳化硅GTO晶閘管性能較差,工藝比較復(fù)雜。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供本發(fā)明一種基于n長基區(qū)碳化硅晶閘管,解決了現(xiàn)有的晶閘管電阻率大的問題。
本發(fā)明的另一目的在于提供本發(fā)明一種基于n長基區(qū)碳化硅晶閘管的制作方法,解決了現(xiàn)有技術(shù)中晶閘管制作工藝復(fù)雜的問題。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
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H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





