[發明專利]異方性導電膠膜連接電阻的測量裝置、方法及集成電路

在審

• 申請號: 201711208570.X
• 申請日: 2017-11-27
• 公開（公告）號: CN107703364A
• 公開（公告）日: 2018-02-16
• 發明（設計）人: 李俊杰;李園園
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G01R27/08
• 分類號: G01R27/08
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司11438
• 代理人: 王輝,闞梓瑄

技術領域

本發明涉及電阻測量技術領域，尤其涉及一種異方性導電膠膜連接電阻的測量裝置、方法及集成電路。

背景技術

異方性導電膠膜應用在各種領域中，用于連通兩端子。異方性導電膠膜上分布有導電粒子，當擠壓兩端子時，導電粒子變形與兩端子緊密接觸形成良好的導電體，從而將兩端子導通。然而導電粒子擠壓變形的程度會影響導電粒子的導電性能。相關技術中需要通過測量兩端子之間的電阻，來判斷異方性導電膠膜中導電粒子擠壓程度是否合理。

相關技術中，通常直接采用電阻測量裝置對兩端子之間的電阻進行測量。

但是，采用電阻測量裝置對兩端子之間的電阻進行測量時，所測得的電阻包含有電阻測量裝置的線路電阻以及接觸電阻。然而異方性導電膠膜連接電阻本身較小，遠小于電阻測量裝置的線路電阻以及接觸電阻之和。因此，相關技術中，所測得的異方性導電膠膜連接電阻具有較大的誤差。

需要說明的是，在上述背景技術部分發明的信息僅用于加強對本發明的背景的理解，因此可以包括不構成對本領域普通技術人員已知的現有技術的信息。

發明內容

本發明的目的在于提供一種異方性導電膠膜連接電阻的測量裝置、方法及集成電路，至少在一定程度上克服由于相關技術的限制和缺陷而導致的一個或者多個問題。

本發明的其他特性和優點將通過下面的詳細描述變得顯然，或部分地通過本發明的實踐而習得。

根據本發明的一個方面，提供一種異方性導電膠膜連接電阻的測量裝置，該異方性導電膠膜連接電阻的測量裝置包括：第一探針墊、第二探針墊、第三探針墊、第四探針墊、電源以及電壓表。第一探針墊、第二探針墊連接在所述異方性導電膠膜第一檢測點上；第三探針墊、第四探針墊連接在所述異方性導電膠膜第二檢測點上；電源連接于所述第一探針墊和所述第三探針墊之間，形成激勵回路，用于向所述第一檢測點與第二檢測點之間輸入穩定電流；電壓表連接于所述第二探針墊和所述第四探針墊之間，形成檢測回路，用于檢測所述第一檢測點與第二檢測點之間的電壓。

本發明的一種示例性實施例中，還包括：電流表，位于所述激勵回路中，用于檢測所述穩定電流。

本發明的一種示例性實施例中，所述第一檢測點和所述第二檢測點分別位于兩個端子上，兩所述端子通過所述異方性導電膠膜相連通。

本發明的一種示例性實施例中，還包括：兩激勵線和兩檢測線。所述第一探針墊、所述第三探針墊分別通過所述激勵線與所述第一檢測點、所述第二檢測點連接；所述第二探針墊、所述第四探針墊分別通過所述檢測線與所述第一檢測點、所述第二檢測點連接。

本發明的一種示例性實施例中，所述電源為恒流源。

根據本發明的一個方面，提供一種異方性導電膠膜連接電阻的測量方法，包括：

向異方性導電膠膜的第一檢測點和第二檢測點之間輸入穩定電流；

檢測所述穩定電流；

通過電壓表檢測兩所述檢測點之間的電壓；

通過將所述電壓表檢測的電壓和所述穩定電流相比，計算得出所述兩檢測點之間的電阻。

本發明的一種示例性實施例中，所述向異方性導電膠膜的第一檢測點和第二檢測點之間輸入穩定電流包括：

將第一探針墊、第三探針墊分別連接在所述第一檢測點和第二檢測點上；

將電源連接于所述第一探針墊和所述第三探針墊之間，形成激勵回路，用于向所述第一檢測點與第二檢測點之間輸入穩定電流。

本發明的一種示例性實施例中，所述檢測所述穩定電流包括：

將電流表設置于所述激勵回路中，用于測量所述穩定電流。

本發明的一種示例性實施例中，所述檢測所述穩定電流包括：

通過恒流源向所述第一檢測點和所述第二檢測點之間輸入穩定電流，所述恒流源輸出電流值為穩定電流值。

本發明的一種示例性實施例中，所述第一檢測點和所述第二檢測點分別位于兩個端子上，兩所述端子通過所述異方性導電膠膜相連通。

根據本發明的一個方面，提供一種集成電路，包括至少一個端子，所述端子上連接有如權利要求1中所述的第一探針墊、第二探針墊或第三探針墊、第四探針墊。