[發明專利]光學模塊以及電子設備有效
| 申請號: | 201711207398.6 | 申請日: | 2017-11-27 |
| 公開(公告)號: | CN108121025B | 公開(公告)日: | 2021-07-16 |
| 發明(設計)人: | 野澤武史 | 申請(專利權)人: | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號: | G02B5/28 | 分類號: | G02B5/28;G02B7/00 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 張永明;玉昌峰 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 模塊 以及 電子設備 | ||
1.一種光學模塊,其特征在于,具備:
波長可變干涉濾波器,具有隔著反射膜間間隙對置的2個反射膜以及變更所述反射膜間間隙的間隙量的靜電致動器;以及
電壓控制部,被來自電力供給部的多個供給電壓驅動,向所述靜電致動器施加驅動電壓,
在所述多個供給電壓中的任一低于預定的閾值的情況下,所述電壓控制部降低所述驅動電壓;其中
所述波長可變干涉濾波器具有作為所述靜電致動器的、第1靜電致動器和第2靜電致動器,
所述電壓控制部具有:
間隙檢測部,檢測所述間隙量;第1驅動部,向所述第1靜電致動器施加作為所述驅動電壓的第1驅動電壓;以及第2驅動部,進行反饋控制,以使得所述間隙量的檢測值接近所述間隙量的目標值,所述第2驅動部向所述第2靜電致動器施加作為所述驅動電壓的第2驅動電壓,
在所述多個供給電壓中的任一低于所述預定的閾值的情況下,所述電壓控制部降低所述第2驅動電壓之后,降低所述第1驅動電壓。
2.根據權利要求1所述的光學模塊,其特征在于,
在所述多個供給電壓中的任一低于預定的閾值的情況下,所述電壓控制部將所述驅動電壓變更為預定值以下的值。
3.根據權利要求2所述的光學模塊,其特征在于,
所述電壓控制部使所述驅動電壓遞減。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的光學模塊,其特征在于,
在所述多個供給電壓中的任一低于預定的第1閾值的情況下,所述電壓控制部使所述驅動電壓遞減,并且在所述多個供給電壓中的任一低于比所述第1閾值小的第2閾值的情況下,所述電壓控制部將所述驅動電壓變更為預定值以下的值。
5.根據權利要求1所述的光學模塊,其特征在于,
所述第2驅動部能夠變更所述反饋控制中的驅動參數,在降低所述第2驅動電壓時變更所述驅動參數。
6.根據權利要求1所述的光學模塊,其特征在于,
所述電壓控制部具備電壓監控部,所述電壓監控部輸出表示所述多個供給電壓中的任一低于預定的閾值的檢測信號,
所述第2驅動部具有:
輸出部,輸出所述第2驅動電壓;以及
開關電路,設置于所述輸出部的輸出側,并切換所述輸出部與所述第2靜電致動器之間被連接的連接狀態和被切斷的非連接狀態,
所述開關電路在被輸入所述檢測信號的情況下,從所述連接狀態切換至所述非連接狀態。
7.根據權利要求1至3中任一項所述的光學模塊,其特征在于,
所述電壓控制部具備:驅動部,向所述靜電致動器施加所述驅動電壓;以及驅動控制部,控制所述驅動部,
在所述多個供給電壓中的任一低于預定的閾值的情況下,所述驅動控制部控制所述驅動部而使所述驅動電壓降低。
8.一種電子設備,其特征在于,具備:
光學模塊,具有波長可變干涉濾波器和電壓控制部,所述波長可變干涉濾波器具有隔著反射膜間間隙對置的2個反射膜以及變更所述反射膜間間隙的間隙量的靜電致動器,所述電壓控制部被來自電力供給部的多個供給電壓驅動,向所述靜電致動器施加驅動電壓;以及
模塊控制部,控制所述光學模塊,
在所述多個供給電壓中的任一低于預定的閾值的情況下,所述電壓控制部降低所述驅動電壓;其中
所述波長可變干涉濾波器具有作為所述靜電致動器的、第1靜電致動器和第2靜電致動器,
所述電壓控制部具有:
間隙檢測部,檢測所述間隙量;第1驅動部,向所述第1靜電致動器施加作為所述驅動電壓的第1驅動電壓;以及第2驅動部,進行反饋控制,以使得所述間隙量的檢測值接近所述間隙量的目標值,所述第2驅動部向所述第2靜電致動器施加作為所述驅動電壓的第2驅動電壓,
在所述多個供給電壓中的任一低于所述預定的閾值的情況下,所述電壓控制部降低所述第2驅動電壓之后,降低所述第1驅動電壓。
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