[發明專利]一種對硬盤接口依次進行單盤性能自動測試的方法

在審

• 申請號: 201711206463.3
• 申請日: 2017-11-27
• 公開（公告）號: CN107832180A
• 公開（公告）日: 2018-03-23
• 發明（設計）人: 黃翼
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/263
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司37100
• 代理人: 馮春連

1.一種對硬盤接口依次進行單盤性能自動測試的方法，其特征在于，所述方法包括：

Ⅰ）預先搭建測試環境，并在測試環境中安裝FIO測試工具；

Ⅱ）預先在需要進行測試的多個硬盤接口上連接指定的硬盤；

Ⅲ）預先將自動化測試腳本拷貝至FIO安裝目錄下，利用該自動化測試腳本依次對需要進行測試的多個硬盤接口進行測試。

2.根據權利要求1所述的一種對硬盤接口依次進行單盤性能自動測試的方法，其特征在于，所述自動化測試腳本的運行步驟包括：

1）根據當前時間創建Result文件夾，并判斷命令中參數是否正確；

2）如果正確，則讀取命令參數形成需要測試硬盤的配置文件及配置變量，如果錯誤，則提示參數錯誤，并打印幫助信息，隨后直接執行步驟11）；

3）隨后判斷是否有測試nvme硬盤，如果有，則需要設置參數變量后方可執行步驟4），如果沒有，則直接執行步驟4）；

4）循環：依次提取配置文件中的一個硬盤進行測試；

5）判斷是否還有未測試硬盤，如果有，則執行步驟6），如果沒有，則執行步驟11）；

6）判斷是否需要預熱測試，如果需要，則順序讀寫預熱測試后執行步驟7），如果不需要，則直接執行步驟7）；

7）執行單盤多數據塊循序讀寫性能測試，隨后自動收集性能數據；

8）進一步判斷是否需要預熱測試，如果需要，則隨機讀寫預熱測試后執行步驟9），如果不需要，則直接執行步驟9）；

9）執行單盤多數據塊隨機讀寫性能測試，隨后自動收集性能數據；

10）返回執行步驟4），以循環測試下一個硬盤；

11）結束，刪除臨時文件，提示測試完成。

3.根據權利要求2所述的一種對硬盤接口依次進行單盤性能自動測試的方法，其特征在于，通過-p參數設置性能測試前是否需要進行預熱測試。

4.根據權利要求2所述的一種對硬盤接口依次進行單盤性能自動測試的方法，其特征在于，每項測試前均進行格式化的動作。

5.根據權利要求1所述的一種對硬盤接口依次進行單盤性能自動測試的方法，其特征在于，所述硬盤為nvme標準的SSD。

6.根據權利要求1所述的一種對硬盤接口依次進行單盤性能自動測試的方法，其特征在于，所述方法在Linux下可以大量接入不同類型的存儲設備依次進行FIO性能測試。