[發(fā)明專利]一種紋波檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711202742.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107783062A | 公開(公告)日: | 2018-03-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張聯(lián)昌;林小盛;黃能躍;廖嘉祥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門億聯(lián)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/40 | 分類號(hào): | G01R31/40 |
| 代理公司: | 廈門市新華專利商標(biāo)代理有限公司35203 | 代理人: | 渠述華 |
| 地址: | 361009 福建省廈門市*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種紋波檢測(cè)裝置,其特征在于:包括濾波放大電路、峰值檢波器、分壓濾波電路、電壓跟隨器、微處理器以及顯示器;
所述濾波放大電路,用于采集待測(cè)信號(hào)的交流分量并對(duì)交流分量進(jìn)行濾波放大以得到待測(cè)紋波信號(hào);
所述峰值檢波器,用于檢測(cè)待測(cè)紋波信號(hào)的峰峰值以形成峰值信號(hào);所述峰值檢波器的輸入端與所述濾波放大電路的輸出端相連;
所述分壓濾波電路,用于對(duì)待測(cè)信號(hào)進(jìn)行分壓和濾波以提取待測(cè)信號(hào)的直流分量分壓后的分壓信號(hào);
所述電壓跟隨器,用于隔離微處理器和分壓濾波電路并對(duì)分壓信號(hào)進(jìn)行阻抗變換以形成轉(zhuǎn)換信號(hào);所述電壓跟隨器的輸入端與分壓電路的分壓輸出端相連;
所述微處理器,用于對(duì)峰值信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換以得到待測(cè)信號(hào)的紋波電壓值以及對(duì)轉(zhuǎn)換信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換并根據(jù)分壓濾波電路的分壓比得到待測(cè)信號(hào)的直流電壓值;所述微處理器內(nèi)部集成有A/D轉(zhuǎn)換芯片,所述微處理器的兩個(gè)ADC輸入端口分別與峰值檢波器的輸出端和電壓跟隨器的輸出端相連;
所述顯示器,用于顯示待測(cè)信號(hào)的紋波電壓值和直流電壓值;所述顯示器與所述微處理器相連。
2.如權(quán)利要求1所述的紋波檢測(cè)裝置,其特征在于:所述濾波放大電路包括一級(jí)濾波放大電路和二級(jí)濾波放大電路,一級(jí)濾波放大電路的輸出端與二級(jí)濾波放大電路的輸入端相連,所述一級(jí)濾波放大電路的輸入端即為所述濾波放大電路的輸入端,所述二級(jí)濾波放大電路的輸出端即為所述濾波放大電路的輸出端。
3.如權(quán)利要求2所述的紋波檢測(cè)裝置,其特征在于:所述一級(jí)濾波放大電路包括一級(jí)濾波電路和一級(jí)放大電路,一級(jí)濾波電路的輸出端與一級(jí)放大電路的輸入端相連,所述一級(jí)濾波電路的輸入端即為所述一級(jí)濾波放大電路的輸入端,所述一級(jí)放大電路的輸出端即為所述一級(jí)濾波放大電路的輸出端;
所述一級(jí)濾波電路包括電容C1、電容C2以及電阻R1;電容C1的一端作為一級(jí)濾波電路的輸入端,電容C1的另一端與電阻R1的一端相連,電阻R1的另一端與電容C2的一端相連,電容C2的另一端接地,電阻R1的另一端作為一級(jí)濾波電路的輸出端;
所述一級(jí)放大電路為同相放大電路,所述一級(jí)放大電路包括運(yùn)算放大器U1、電阻R2以及電阻R3;運(yùn)算放大器U1的同相輸入端作為一級(jí)放大電路的輸入端,運(yùn)算放大器U1的反相輸入端與電阻R2的一端和電阻R3的一端均相連;電阻R2的另一端接地,電阻R3的另一端與運(yùn)算放大器U1的輸出端相連;運(yùn)輸放大器U1的輸出端作為一級(jí)放大電路的輸出端。
4.如權(quán)利要求2所述的紋波檢測(cè)裝置,其特征在于:所述二級(jí)濾波放大電路包括二級(jí)濾波電路和二級(jí)放大電路,二級(jí)濾波電路的輸出端與二級(jí)放大電路的輸入端相連,所述二級(jí)濾波電路的輸入端即為所述二級(jí)濾波放大電路的輸入端,所述二級(jí)放大電路的輸出端即為所述二級(jí)濾波放大電路的輸出端;
所述二級(jí)濾波電路包括電容C3、電容C4以及電阻R4;電容C3的一端作為二級(jí)濾波電路的輸入端,電容C3的另一端與電阻R4的一端相連,電阻R4的另一端與電容C4的一端相連,電容C4的另一端接地,電阻R4的另一端作為二級(jí)濾波電路的輸出端;
所述二級(jí)放大電路為同相放大電路,所述二級(jí)放大電路包括運(yùn)算放大器U2、電阻R5以及電阻R6;運(yùn)算放大器U2的同相輸入端作為二級(jí)放大電路的輸入端,運(yùn)算放大器U2的反相輸入端與電阻R5的一端和電阻R6的一端均相連;電阻R5的另一端接地,電阻R6的另一端與運(yùn)算放大器U2的輸出端相連;運(yùn)輸放大器U2的輸出端作為二級(jí)放大電路的輸出端。
5.如權(quán)利要求1所述的紋波檢測(cè)裝置,其特征在于:所述峰值檢波器包括電容C5、電容C6、極性電容E1、電阻R7、電阻R8、電阻R9、二極管D1以及運(yùn)算放大器U3,電容C5的一端作為峰值檢波器的輸入端,電容C5的另一端連接電阻R7的一端,電阻R7的另一端連接運(yùn)算放大器U3的同相輸入端,電阻R8的一端與運(yùn)算放大器U3的反相輸入端相連,運(yùn)算放大器U3的輸出端與二級(jí)管D1的正極相連,二極管D1的負(fù)極與電阻R8的另一端、電容C6的一端、電阻R9的一端以及極性電容E1的正極均相連;電容C6的另一端、電阻R9的另一端以及極性電容E1的負(fù)極均接地。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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