[發(fā)明專利]一種晶圓片拋光后的養(yǎng)護(hù)裝置及養(yǎng)護(hù)工藝在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711202581.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107993921A | 公開(公告)日: | 2018-05-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫強(qiáng);柏友榮;沈思情;宋洪偉;陳猛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海超硅半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/02 | 分類號(hào): | H01L21/02;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 201604 上海市松*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 晶圓片 拋光 養(yǎng)護(hù) 裝置 工藝 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及晶圓片制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種晶圓片拋光后的養(yǎng)護(hù)裝置及養(yǎng)護(hù)工藝。
背景技術(shù)
化學(xué)機(jī)械拋光工藝(Chemical Mechanical Planarization,CMP)是用化學(xué)腐蝕和機(jī)械力對(duì)加工過程中的晶圓片或其它襯底材料進(jìn)行平滑處理。包括化學(xué)過程和物理過程,其中,化學(xué)過程是研磨液中的化學(xué)品和晶圓片表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng),生成比較容易去除的物質(zhì);物理過程是研磨液中的磨粒和晶圓片表面材料發(fā)生機(jī)械物理摩擦,去除化學(xué)反應(yīng)生成的物質(zhì)。經(jīng)CMP工藝處理后必然會(huì)造成晶圓片的表面缺陷,一般包括擦傷、殘留物和表面污染,所以,在CMP工藝后必須對(duì)晶圓片進(jìn)行有效的清洗來實(shí)現(xiàn)CMP的工藝優(yōu)點(diǎn),而清洗工藝能夠有效清洗晶圓片表面缺陷的前提是CMP工藝處理后的晶圓片表面必需始終保持濕潤不干狀態(tài),否則會(huì)清洗不干凈,導(dǎo)致產(chǎn)品不合格。
因此,亟需一種在晶圓片拋光后能夠在晶圓片表面形成一層水性保護(hù)膜的養(yǎng)護(hù)裝置及養(yǎng)護(hù)工藝,確保晶圓片在清洗時(shí)能清洗干凈。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種晶圓片拋光后的養(yǎng)護(hù)裝置及養(yǎng)護(hù)工藝,以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的晶圓片拋光后清洗不干凈的技術(shù)問題。
為達(dá)此目的,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
一種晶圓片拋光后的養(yǎng)護(hù)裝置,包括噴淋臺(tái)、噴淋槽和噴頭,其中,所述噴淋臺(tái)上開設(shè)有多個(gè)所述噴淋槽,所述噴淋槽用于放置拋盤,所述拋盤的直徑為D;多組所述噴頭一一對(duì)應(yīng)設(shè)置于多個(gè)所述噴淋槽的正上方,所述噴頭出水時(shí)的圓心角為α;所述噴頭的高度L1大于等于0.5D*cot0.5α,每組噴頭中相鄰噴頭之間的間距L2小于等于0.25D。
作為優(yōu)選,每組所述噴頭的中心點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的所述噴淋槽的中心線共線。
作為優(yōu)選,每組所述噴頭包括至少兩個(gè)噴頭。
作為優(yōu)選,所述噴淋槽上方設(shè)置有噴淋管路,多組所述噴頭均勻間隔設(shè)置于所述噴淋管路上,所述噴淋管路上還設(shè)置有控制所述噴頭開閉的控制閥。
作為優(yōu)選,所述噴淋槽的長度L3和寬度L4均等于1.5D。
一種如以上任一項(xiàng)所述的晶圓片拋光后的養(yǎng)護(hù)裝置的養(yǎng)護(hù)工藝,將吸附有多個(gè)拋光后的晶圓片的拋盤放置到噴淋槽中,并使所述拋盤的軸線正對(duì)所述噴淋槽的中心線;打開噴頭對(duì)所述拋光盤中的所述晶圓片進(jìn)行噴淋,所述噴頭中噴出的液體在所述晶圓片的表面形成一層水性保護(hù)膜。
作為優(yōu)選,所述噴頭中噴出的液體為DI-W(超純水)稀釋后的保濕劑。
作為優(yōu)選,所述噴頭中噴出的液體為DI-W(超純水)稀釋20倍以上后的保濕劑。
作為優(yōu)選,多個(gè)所述晶圓片沿所述拋盤的軸線呈圓周分布。
本發(fā)明的有益效果:
本發(fā)明提供的晶圓片拋光后的養(yǎng)護(hù)裝置及養(yǎng)護(hù)工藝,相比于現(xiàn)有技術(shù)具有以下有益效果:
1)噴頭的安裝高度L1以及每組噴頭中相鄰噴頭的間距L2由拋盤的直徑D和噴頭出水時(shí)的圓心角α決定,L1大于等于0.5D*cot0.5α,L2小于等于0.25D,按照此公式設(shè)計(jì),能夠保證噴頭噴出的保濕劑可以全部有效覆蓋拋盤以保證噴淋效果;
2)噴淋槽的尺寸也根據(jù)拋盤的直徑D設(shè)計(jì),噴淋槽的長度L3和寬度L4均等于1.5D,噴淋槽的長度和寬度按照此公式設(shè)計(jì),既能保證拋盤的有效放置,又不會(huì)有多余的面積浪費(fèi),有效節(jié)約了制造成本。
附圖說明
圖1是本發(fā)明提供的晶圓片拋光后的養(yǎng)護(hù)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中:
1-噴淋臺(tái);2-噴淋槽;3-拋盤;4-噴頭;5-噴淋管路;6-支撐桿;7-控制閥。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施方式進(jìn)一步說明本發(fā)明的技術(shù)方案。可以理解的是,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用于解釋本發(fā)明,而非對(duì)本發(fā)明的限定。另外還需要說明的是,為了便于描述,附圖中僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分而非全部。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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