[發明專利]一種紫外LED器件測試裝置及測試方法

在審

• 申請號: 201711201102.X
• 申請日: 2017-11-27
• 公開（公告）號: CN108107335A
• 公開（公告）日: 2018-06-01
• 發明（設計）人: 夏正浩;張康;羅明浩;王波;陳美琴;閔海;林威
• 申請（專利權）人: 中山市光圣半導體科技有限責任公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/01;G01M11/02
• 代理公司: 中山市科創專利代理有限公司 44211
• 代理人: 胡犇

1.一種紫外LED器件測試裝置，其特征在于：包括：

用于夾持安裝紫外LED器件(10)的測試臺(1)；

能分別與測試臺(1)緊密連接而罩住紫外LED器件(10)的第一熒光罩(2)和第二熒光罩(3)，并且第一熒光罩(2)與第二熒光罩(3)的激發譜和發射譜均不相同；

能測出從第一熒光罩(2)和第二熒光罩(3)射出光的光參數的光參數測試儀(4)；

與測試臺(1)連接而能測出紫外LED器件(10)的電參數的電參數測試儀(5)；

所述的紫外LED器件(10)包括紫外LED外延片或紫外LED芯片或紫外LED封裝芯片或紫外LED燈，所述的紫外LED器件(10)的波長為200nm至400nm，所述的第一熒光罩(2)和第二熒光罩(3)的發射主波長范圍分別為400nm至780nm，所述的第一熒光罩(2)和第二熒光罩(3)采用的熒光粉包括硅酸鹽、鋁酸鹽、氮化物或氧化物。

2.根據權利要求1所述的紫外LED器件測試裝置，其特征在于：所述的測試臺(1)上設有用于夾持紫外LED器件(10)并能根據紫外LED器件(10)的尺寸規格進行更換的夾具(6)。

3.根據權利要求1或2所述的紫外LED器件測試裝置，其特征在于：所述的光參數測試儀(4)包括用于收集從第一熒光罩(2) 和第二熒光罩(3)射出光的光收集裝置(41)及與光收集裝置(41)連接的光譜儀(42)，所述光收集裝置(41)包括積分球、光纖或光探測器。

4.根據權利要求2所述的紫外LED器件測試裝置，其特征在于：還包括能根據測得的光電參數而將紫外LED器件(10)進行分類的分選部件(7)。

5.一種紫外LED器件的測試方法，其特征在于：包括如下步驟：

A：將待測的紫外LED器件(10)固定到測試臺(1)上；

B：將第一熒光罩(2)緊密罩住紫外LED器件(10)；

C：給紫外LED器件(10)提供電流而驅動其發光；

D：通過光參數測試儀(4)測得第一熒光罩(2)射出的光的光功率P1；

E：對紫外LED器件(10)斷電，移除第一熒光罩(2)，將第二熒光罩(3)緊密罩住紫外LED器件(10)，所述的第一熒光罩(2)與第二熒光罩(3)的激發譜和發射譜均不相同；

F：給紫外LED器件(10)提供與步驟C中相同的電流而驅動其再次發光；

G：通過光參數測試儀(4)測得第二熒光罩(3)射出的光的光功率P2；

H：根據第一熒光罩(2)和第二熒光罩(3)的激發譜及需要滿足的條件公式P1/R1＝P2/R2、W2＝W3來確定紫外LED器件(10)的波長W1值，得出紫外LED器件(10)的波長W1＝W2＝W3，并計算出紫外LED器件(10)的光功率P0＝P1/R1，其中，R1為第一熒光罩(2)在紫外LED器件(10)的波長值為W2時的激發響應度，R2為第二熒光罩(3)在紫外LED器件(10)的波長值為W3時的激發響應度。

6.根據權利要求5所述的紫外LED器件測試方法，其特征在于：所述的紫外LED器件(10)的波長為200nm至400nm，所述的第一熒光罩(2)和第二熒光罩(3)的發射主波長范圍分別為400nm至780nm，所述的第一熒光罩(2)和第二熒光罩(3)采用的熒光粉包括硅酸鹽、鋁酸鹽、氮化物或氧化物。

7.根據權利要求5所述的紫外LED器件測試方法，其特征在于：所述的光參數測試儀(4)包括用于收集從第一熒光罩(2)和第二熒光罩(3)射出光的光收集裝置(41)及與光收集裝置(41)連接的光譜儀(42)，所述光收集裝置(41)包括積分球、光纖或光探測器。

8.根據權利要求6所述的紫外LED器件測試方法，其特征在于：所述的測試臺(1)上還電連接有能測出紫外LED器件(10)的電參數的電參數測試儀(5)。