[發(fā)明專利]多光軸平行度測量系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711200873.7
• 申請日: 2017-11-24
• 公開（公告）號: CN107830821B
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張振宇;王皓;熊海林
• 申請（專利權(quán)）人: 北京國泰藍盾科技有限公司
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26;G01B11/27
• 代理公司: 北京超凡志成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371
• 代理人: 郭新娟

1.一種多光軸平行度測量系統(tǒng)，其特征在于，包括基準調(diào)整設(shè)備、靶板調(diào)整裝置、顯示設(shè)備和靶板，所述靶板設(shè)置于所述靶板調(diào)整裝置上，所述基準調(diào)整設(shè)備上設(shè)置有組合光學偵測裝置，所述基準調(diào)整設(shè)備和所述靶板調(diào)整裝置間隔相對設(shè)置，所述顯示設(shè)備與所述組合光學偵測裝置連接，

所述基準調(diào)整設(shè)備用于調(diào)整所述組合光學偵測裝置的方位和俯仰角度，所述靶板調(diào)整裝置用于調(diào)整所述靶板的方位和俯仰角度，

所述基準調(diào)整設(shè)備上設(shè)置有俯仰校準裝置，所述俯仰校準裝置用于為所述基準調(diào)整設(shè)備和所述靶板調(diào)整裝置的俯仰角度校準提供參照，以使所述組合光學偵測裝置處于水平位置，以及使所述靶板垂直于水平面，

所述基準調(diào)整設(shè)備上還設(shè)置有方位校準裝置，所述方位校準裝置用于為所述基準調(diào)整設(shè)備和所述靶板調(diào)整裝置的方位校準提供參照，以使所述組合光學偵測裝置的基準系統(tǒng)光軸與所述靶板垂直，

所述靶板上設(shè)置有靶紙，所述靶紙為網(wǎng)格狀，所述靶紙上設(shè)置有所述基準系統(tǒng)光軸對應(yīng)的十字分劃線以及所述組合光學偵測裝置中各個成像系統(tǒng)光軸對應(yīng)的標準十字分劃線，所述靶紙用于獲取被測成像系統(tǒng)光軸距離所述基準系統(tǒng)光軸的位置偏差，以基于所述位置偏差獲取所述被測成像系統(tǒng)光軸的平行度,所述顯示設(shè)備用于顯示所述靶紙的像以及所述基準系統(tǒng)光軸和所述組合光學偵測裝置中的各個成像系統(tǒng)光軸在所述靶紙上的位置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多光軸平行度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述基準系統(tǒng)光軸對應(yīng)的十字分劃線為所述靶紙的正中心原點。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多光軸平行度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述靶紙的視場面積大于或等于整個視場面積的二分之一。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多光軸平行度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述靶紙上的所述組合光學偵測裝置中各個成像系統(tǒng)光軸對應(yīng)的標準十字分劃線為不同線型。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多光軸平行度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述俯仰校準裝置為水平儀。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多光軸平行度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述方位校準裝置為激光指示燈，所述靶板上對應(yīng)于所述激光指示燈的區(qū)域能夠反射由所述激光指示燈發(fā)出的激光。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的多光軸平行度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述靶板上對應(yīng)于所述激光指示燈的位置設(shè)置有平面反光鏡。

8.一種多光軸平行度測量方法，應(yīng)用于權(quán)利要求1至7中任一項所述的多光軸平行度測量系統(tǒng)，其特征在于，所述多光軸平行度測量方法包括：

利用俯仰校準裝置，調(diào)整基準調(diào)整設(shè)備和靶板調(diào)整裝置的俯仰角度，使靶板垂直于水平面，以及使組合光學偵測裝置處于水平位置；

利用方位校準裝置，調(diào)整所述組合光學偵測裝置的基準系統(tǒng)光軸與所述靶板垂直；

獲取被測成像系統(tǒng)光軸到基準系統(tǒng)光軸的位置偏差，并基于所述位置偏差獲取所述被測成像系統(tǒng)光軸的平行度。