[發明專利]一種基于銫原子系綜產生亞kHz低頻強度差壓縮的裝置

有效

• 申請號: 201711192798.4
• 申請日: 2017-11-24
• 公開（公告）號: CN108011286B
• 公開（公告）日: 2020-02-11
• 發明（設計）人: 秦忠忠;馬榮;劉偉;賈曉軍;郜江瑞
• 申請（專利權）人: 山西大學
• 主分類號: H01S3/0941
• 分類號: H01S3/0941;H01S3/22;H01S3/00
• 代理公司: 14105 山西五維專利事務所(有限公司)
• 代理人: 雷立康

1.一種基于銫原子系綜產生亞kHz低頻強度差壓縮的裝置，其特征在于：包括半導體激光器(1)、單模光纖(2)、第一反射鏡(31)、第二反射鏡(32)、第三反射鏡(33)、光學分束鏡(4)、電光調制器(5)、法布里-珀羅標準具組(6)、第一透鏡組(71)、第二透鏡組(72)、第一半波片(81)、第二半波片(82)、格蘭激光棱鏡(9)、銫原子池(10)、格蘭湯姆森棱鏡(11)、光束收集器(12)、第一光電探測器(141)、第二光電探測器(142)、減法器(15)和頻譜分析儀(16)；所述半導體激光器(1)放置于獨立、隔熱平臺表面，并加蓋絕熱罩將半導體激光器和所述平臺與外界環境隔離；

所述單模光纖(2)的一端與所述半導體激光器(1)的輸出端連接，所述單模光纖(2)的另一端與第一反射鏡(31)的輸入端連接，將所述半導體激光器(1)與實驗平臺連接，所述實驗平臺與所述半導體激光器(1)獨立放置；

所述第一反射鏡(31)設在所述單模光纖(2)的上方；

所述光學分束鏡(4)設在第一反射鏡(31)的反射光路上，且光學分束鏡(4)位于第一反射鏡(31)與第二反射鏡(32)之間；

所述電光調制器(5)、法布里-珀羅標準具組(6)、第一透鏡組(71)和所述第三反射鏡(33)依序設置在所述光學分束鏡(4)的反射光路上；

所述第二反射鏡(32)設置在所述光學分束鏡(4)的透射光路上；

所述第一半波片(81)、所述格蘭激光棱鏡(9)和所述銫原子池(10)依序設置在所述第三反射鏡(33)的反射光路上；

第二透鏡組(72)和所述第二半波片(82)依序設置在所述第二反射鏡(32)的反射光路上，格蘭激光棱鏡(9)同時也位于第二反射鏡(32)的反射光路上；

所述格蘭湯姆森棱鏡(11)放置在所述銫原子池(10)出射光光路上；

所述光束收集器(12)放置在所述格蘭湯姆森棱鏡(11)的反射光路上；

第一光電探測器(141)和第二光電探測器(142)交叉放置在所述格蘭湯姆森棱鏡(11)的透射光光路上；

所述減法器(15)的信號輸入端與第一光電探測器(141)和第二光電探測器(142)的信號輸出端連接后構成平衡探測裝置；

所述頻譜分析儀(16)的信號輸入端與減法器(15)的信號輸出端連接，用來探測所述平衡探測裝置的輸出信號。

2.根據權利要求1所述的基于銫原子系綜產生亞kHz低頻強度差壓縮的裝置，其特征在于：它還包括高頻信號發生器(13)，所述高頻信號發生器(13)的信號輸出端與電光調制器(5)的信號輸入端連接。

3.根據權利要求1所述的基于銫原子系綜產生亞kHz低頻強度差壓縮的裝置，其特征在于：所述半導體激光器(1)為內置激光放大器的半導體激光器。

4.根據權利要求1所述的基于銫原子系綜產生亞kHz低頻強度差壓縮的裝置，其特征在于：所述第一透鏡組(71)和第二透鏡組(72)均由兩片相同透鏡組成。

5.根據權利要求1所述的基于銫原子系綜產生亞kHz低頻強度差壓縮的裝置，其特征在于：所述第一光電探測器(141)和第二光電探測器(142)為兩個參數完全相同的光電探測器。