[發(fā)明專利]一種電源INI測試

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201711192734.4
• 申請日: 2017-11-24
• 公開（公告）號: CN107942262A
• 公開（公告）日: 2018-04-20
• 發(fā)明（設計）人: 李陽;李濤;朱華星
• 申請（專利權）人: 江蘇凱源電子科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明涉及電子行業(yè)，具體涉及對完成的電源電路板進行INI測試的方法。

背景技術

電子工業(yè)從來都是技術密集型，又是勞動密集型的行業(yè)。通孔安裝技術是電子工業(yè)的基礎，人工插件技術一直是中國電子工業(yè)的基礎。從世界電子元器件的技術發(fā)展趨勢來看，總體來看，片式化已經(jīng)成為衡量電子元件技術發(fā)展水平的重要標志之一，其中，片式電容、片式電阻、片式電感三大無源元件，約占元器件總產(chǎn)量的85%-90%。電子元器件在片式化的同時，也在向小型化方向迅速發(fā)展，隨著電子設備小型化進程的加快，電子元件復合化和集成化的步伐也在加快。由于電子元器件產(chǎn)品種類很多，各分類產(chǎn)品在技術發(fā)展趨勢上又各有自身的特點。

電子元器件正進入以新型電子元器件為主體的新一代元器件時代，它將基本上取代傳統(tǒng)元器件。電子元器件由原來只為適應整機的小型化及其新工藝要求為主的改進，變?yōu)橐詽M足數(shù)字技術、微電子技術發(fā)展所提出的特性要求為主，而且是成套滿足的產(chǎn)業(yè)化發(fā)展階段。新型電子元器件體現(xiàn)當代和今后電子元器件向高頻化、片式化、微型化、薄型化、低功耗、響應速率快、高分辨率、高精度、高功率、多功能、組件化、復合化、模塊化和智能化等的發(fā)展趨勢。同時，產(chǎn)品的安全性和綠色化也是影響其發(fā)展前途的重要因素。

隨著產(chǎn)品產(chǎn)量的提升，對完成品的INI測試效率也需要提升。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種電源INI測試，解決上述不足。

為了達到上述目的，本發(fā)明提供了一種電源INI測試，步驟如下：

步驟1、從輸送帶上取下完成焊接的產(chǎn)品，檢查上一工序的標記情況，注意輕拿輕放；

步驟2、將測試接頭插入電源的輸出端口，將電源的輸入插頭插入測試臺；

步驟3、打開AC開關、短路開關、和導通開關；

步驟4、調(diào)整測試臺負載，將測試電源的電流逐漸加載至0.5A；查看輸出電壓，針對48V產(chǎn)品，輸出電壓范圍在46.5V-49.5V；

步驟5、查看示波器顯示，確認CH1通道波形VPP<400mV，即波形在示波器顯示屏的下方4格內(nèi)；查看輸出電流，輸出電流在0.4A-0.6A間。

優(yōu)選的，上述步驟5后，對合格品繼續(xù)流轉(zhuǎn)；對不合格品，粘帖不合格品標簽，并填寫不合格原因，將其放入不合格品區(qū)。

優(yōu)選的，上述步驟2中，測試端子的接頭：正極為PIN4、5；負極為PIN7、8。

本發(fā)明的一種電源INI測試，用于電源電路板，特別是補焊后的INI測試。本發(fā)明的有益效果是：通過規(guī)范測試檢測范圍，提高了測試效率。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的測試端子接頭示意圖。

具體實施方式

本發(fā)明主要用于電源電路板的生產(chǎn)測試環(huán)節(jié)，提供了一種電源INI測試，具體步驟如下：

步驟1、從輸送帶上取下完成焊接的產(chǎn)品，檢查上一工序的標記情況，注意輕拿輕放；

步驟2、將測試接頭插入電源的輸出端口，將電源的輸入插頭插入測試臺；

優(yōu)選的，如圖1所示，測試端子的接頭：正極為PIN4、5；負極為PIN7、8。

步驟3、打開AC開關、短路開關、和導通開關；

步驟4、調(diào)整測試臺負載，將測試電源的電流逐漸加載至0.5A；查看輸出電壓，針對48V產(chǎn)品，輸出電壓范圍在46.5V-49.5V；

步驟5、查看示波器顯示，確認CH1通道波形VPP<400mV，即波形在示波器顯示屏的下方4格內(nèi)；查看輸出電流，輸出電流在0.4A-0.6A間。

優(yōu)選的，上述步驟5后，對合格品繼續(xù)流轉(zhuǎn)；對不合格品，粘帖不合格品標簽，并填寫不合格原因，將其放入不合格品區(qū)。

以上顯示和描述了本發(fā)明的基本原理、主要特征及優(yōu)點。本行業(yè)的技術人員應該了解，本發(fā)明不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本發(fā)明的原理，在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下，本發(fā)明還會有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本發(fā)明范圍內(nèi)。本發(fā)明要求保護范圍由所附的權利要求書及其等效物界定。