[發(fā)明專利]一種雙面電路板測試裝置

在審

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• 申請日: 2017-11-24
• 公開（公告）號: CN107728044A
• 公開（公告）日: 2018-02-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 高平;韓志穎;高二平;陳元喜
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東菲柯特電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標事務所(普通合伙)44288
• 代理人: 劉興彬,羅晶

1.一種雙面電路板測試裝置，包括測試裝置本體，其特征在于：所述測試裝置本體包括縱向檢測機構(gòu)、橫向檢測機構(gòu)、測試底座、垂直側(cè)板、入料機構(gòu)；所述入料機構(gòu)固定安裝于所述測試底座上，所述垂直側(cè)板位于所述入料機構(gòu)的一側(cè)且固定安裝于所述測試底座上，所述縱向檢測機構(gòu)與所述垂直側(cè)板連接且位于所述入料機構(gòu)的上方，所述橫向檢測機構(gòu)與所述垂直側(cè)板連接且位于所述入料機構(gòu)與所述垂直側(cè)板之間，所述縱向檢測機構(gòu)連接有升降機構(gòu)，所述橫向檢測機構(gòu)連接有移動機構(gòu)，所述縱向檢測機構(gòu)、所述橫向檢測機構(gòu)上設(shè)置有與雙面電路板上測試觸點相對應的檢測探針，所述測試底座包括有電路模塊，所述電路模塊包括處理模塊、按鍵單元、電源接口、指示單元、測試單元，所述處理模塊與所述按鍵單元、所述電源接口、所述指示單元、所述測試單元連接，所述檢測探針通過導線與測試單元連接；

所述入料機構(gòu)用于放置待檢測的雙面電路板，所述升降機構(gòu)帶動所述縱向檢測機構(gòu)進行上下升降，所述移動機構(gòu)帶動所述橫向檢測機構(gòu)進行前后移動，所述檢測探針用于接觸所述雙面電路板的測試觸點，并通過所述測試單元進行測試。

2.如權(quán)利要求1所述的一種雙面電路板測試裝置，其特征在于：所述縱向檢測機構(gòu)包括升降導柱、升降檢測板、導柱支座，所述導柱支座固定安裝于所述垂直側(cè)板，所述升降檢測板與所述升降機構(gòu)連接且開有升降孔位，所述升降導柱的一端與所述導柱支座連接，另一端穿過所述升降孔位與所述測試底座連接；所述橫向檢測機構(gòu)包括移動導柱、移動檢測板，所述移動檢測板與所述移動機構(gòu)連接且開有移動孔位，所述移動導柱的一端與所述垂直側(cè)板連接，另一端穿過所述移動孔位與所述入料機構(gòu)連接，所述檢測探針位于所述升降檢測板、所述移動檢測板上。

3.如權(quán)利要求2所述的一種雙面電路板測試裝置，其特征在于：所述升降機構(gòu)包括升降把手、升降支柱、升降底座，所述升降把手與所述升降底座、所述升降支柱連接，所述升降支柱與所述升降檢測板連接，所述升降底座固定安裝于所述垂直側(cè)板，所述移動機構(gòu)包括移動把手、移動支柱、移動底座，所述移動把手與所述移動支柱、所述移動底座連接，所述移動支柱與所述移動檢測板連接，所述移動底座固定安裝于所述測試底座上。

4.如權(quán)利要求3所述的一種雙面電路板測試裝置，其特征在于：所述入料機構(gòu)包括入料底座、入料凹槽，所述入料底座固定安裝于所述測試底座上，所述入料凹槽位于所述入料底座的頂部且與所述雙面電路板的形狀相對應。

5.如權(quán)利要求1-4任一所述的一種雙面電路板測試裝置，其特征在于：所述處理模塊具體為單片機。

6.如權(quán)利要求5所述的一種雙面電路板測試裝置，其特征在于：所述按鍵單元包括開關(guān)按鍵、按鍵電路，所述開關(guān)按鍵位于所述測試底座的表面，所述開關(guān)按鍵通過所述按鍵電路與所述單片機連接。

7.如權(quán)利要求5所述的一種雙面電路板測試裝置，其特征在于：所述指示單元具體為指示燈，所述指示燈與所述單片機連接。

8.如權(quán)利要求5所述的一種雙面電路板測試裝置，其特征在于：所述測試單元具體為測試接口，所述測試接口位于所述測試底座的表面且與所述單片機連接。

9.如權(quán)利要求5所述的一種雙面電路板測試裝置，其特征在于：所述測試底座還包括位于表面的顯示裝置，所述顯示裝置與所述單片機連接。

10.如權(quán)利要求9所述的一種雙面電路板測試裝置，其特征在于：所述顯示裝置為觸摸顯示屏。