[發(fā)明專利]適用于離子束拋光的工件定位誤差標(biāo)定及補(bǔ)償方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711191975.7 | 申請日: | 2017-11-24 |
| 公開(公告)號: | CN108044408B | 公開(公告)日: | 2019-06-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄧偉杰;尹小林;唐瓦;薛棟林;李銳鋼;張學(xué)軍 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號: | B24B1/00 | 分類號: | B24B1/00;B24B49/12 |
| 代理公司: | 深圳市科進(jìn)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 趙勍毅 |
| 地址: | 130033 吉林省長春*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 適用于 離子束 拋光 工件 定位 誤差 標(biāo)定 補(bǔ)償 方法 | ||
本發(fā)明通過獲得工件中心相對離子源束流中心的空間位置關(guān)系,實(shí)現(xiàn)離子束拋光過程中工件位置精確標(biāo)定。激光跟蹤儀通過接觸式測量工件上的線、面等基準(zhǔn)信息,再進(jìn)行立體幾何計(jì)算得到工件中心空間位置信息。離子源開啟后進(jìn)行法拉第杯掃描,獲得離子束流分布及其中心位置,得到離子束中心相對法拉第杯中心坐標(biāo)系位置。在本發(fā)明中,工件中心空間位置經(jīng)過以下傳遞:工件→靶球基座→法拉第杯→離子束流,獲得工件中心相對離子束流中心的空間位置,從而實(shí)現(xiàn)離子束拋光過程中工件位置精確標(biāo)定。然后CNC代碼中駐留時(shí)間坐標(biāo)減去工件中心相對離子束中心的空間位置關(guān)系,通過軟件將定位誤差進(jìn)行偏置補(bǔ)償。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于精密光學(xué)制造領(lǐng)域,涉及離子束拋光過程中被加工光學(xué)元件與離子源加工坐標(biāo)系中位置誤差精確標(biāo)定及補(bǔ)償方法。
背景技術(shù)
離子束拋光技術(shù)的原理是利用離子源產(chǎn)生的高能離子對光學(xué)元件(工件)表面轟擊,基于原子物理濺射效應(yīng)實(shí)現(xiàn)工件表面材料去除。該方法具有許多傳統(tǒng)加工方法所不具有的優(yōu)點(diǎn)。它的去除函數(shù)是回轉(zhuǎn)對稱的高斯型,并且非常穩(wěn)定,因此離子束拋光確定性高,面形誤差收斂快;離子束拋光是非接觸式拋光方法,不存在接觸應(yīng)力和應(yīng)變,在工件邊緣時(shí)去除函數(shù)不發(fā)生變化,不產(chǎn)生邊緣效應(yīng)等負(fù)面影響。離子束拋光技術(shù)由于加工精度高、確定性好,應(yīng)用越來越廣泛,成為了高精度光學(xué)元件制造過程中首選的拋光方法之一。
定位誤差是影響離子束拋光精度的主要因素之一。定位誤差是工件在機(jī)床坐標(biāo)系中的實(shí)際位置與理論位置之間的偏差,具體描述為工件坐標(biāo)系相對離子源加工坐標(biāo)系的位置差。傳統(tǒng)處理方式為,對工件進(jìn)行精密裝夾,保證工件與離子源加工坐標(biāo)系的精密映射與設(shè)計(jì)值相符,盡量使定位誤差為零,從而減小定位誤差對離子束加工精度的影響。但是這種方式要求對工件的夾具進(jìn)行特殊的設(shè)計(jì)并精密制造,且在裝夾各個步驟都有精度要求,提高了離子束拋光的設(shè)備成本及時(shí)間成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在提供一種簡單易行、易于操作的離子束拋光過程中工件在離子束加工坐標(biāo)系中定位誤差精確標(biāo)定方法,并在加工過程中通過軟件將定位誤差進(jìn)行補(bǔ)償。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:提供1、一種適用于離子束拋光的工件定位誤差標(biāo)定及補(bǔ)償方法,提供:工件安裝板、離子源、激光跟蹤儀、靶標(biāo)球、工業(yè)測量相機(jī),靶球基座,法拉第杯,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1:將工件固定在工件安裝板上;
步驟2:架設(shè)激光跟蹤儀,其中激光跟蹤儀的測量范圍覆蓋整個工件及靶球基座;
步驟3:激光跟蹤儀結(jié)合靶標(biāo)球測量工件中心的空間位置信息,設(shè)為(xw,yw,zw);
步驟4:將靶球放置在靶球基座上,獲得靶球基座中心的在激光跟蹤儀測量坐標(biāo)系中的空間位置,設(shè)為(xb,yb,zb);
步驟5:采用激光跟蹤儀計(jì)算步驟3及步驟4獲得的空間位置數(shù)據(jù),兩者相減得到工件中心相對靶球基座中心的空間坐標(biāo)變換(Δx1,Δy1,Δz1),其變換矩陣如式(0.1)所示;
步驟6:通過工業(yè)測量相機(jī)精密標(biāo)定靶球基座與法拉第杯中心孔(xf,yf,zf)的相對位置(Δx2,Δy2,Δz2);代入步驟5數(shù)據(jù),計(jì)算得到工件中心相對法拉第杯中心孔的空間坐標(biāo)變換關(guān)系,其變換矩陣如式所示:
步驟7:關(guān)閉離子束加工設(shè)備的真空倉門,抽取真空,到達(dá)預(yù)定真空度后開啟離子源;
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