[發明專利]一種大幅面激光標記方法及設備

有效

• 申請號: 201711186782.2
• 申請日: 2017-11-23
• 公開（公告）號: CN109822223B
• 公開（公告）日: 2021-05-18
• 發明（設計）人: 范醉風;陳克勝;吳烈;高云峰
• 申請（專利權）人: 大族激光科技產業集團股份有限公司
• 主分類號: B41J2/435
• 分類號: B41J2/435;B23K26/362
• 代理公司: 深圳市世聯合知識產權代理有限公司 44385
• 代理人: 汪琳琳

1.一種大幅面激光標記方法，應用于振鏡式激光標記設備，其特征在于，包括：

調整激光聚焦至工件表面，使激光到工件表面范圍內各處的焦距一致，其中所述工件表面包括若干個打標區域；

根據預設的打標路徑在若干個所述打標區域中依次進行打標，其中，在任意一個所述打標區域中進行打標時，根據預設的光斑直徑校正表獲取所述打標區域對應的光斑直徑校正參數，根據所述光斑直徑校正參數對所述打標區域中激光聚焦的光斑的直徑進行校正，并根據校正后的光斑直徑進行激光打標；

其中，所述直徑校正參數為激光在相應的所述打標區域中打標時對激光光束進行擴束的擴束倍數。

2.根據權利要求1所述的大幅面激光標記方法，其特征在于，所述根據預設的光斑直徑校正表獲取所述打標區域對應的光斑直徑校正參數具體為：

獲取所述打標區域的多個激光聚焦光斑所在的坐標區間或者所述打標區域中一個激光聚焦光斑的坐標，根據所述坐標區間或者所述坐標從所述預設的直徑校正表中獲取所述打標區域對應的光斑直徑校正參數。

3.根據權利要求1所述的大幅面激光標記方法，其特征在于，所述方法還包括獲取所述預設的光斑直徑校正表，包括：使激光在工件表面打標點陣，獲取所述點陣中各位置點的坐標，并測量激光在各位置點打標時所形成的光斑的直徑，其中，所述點陣包括一個激光垂直打標時對應的位置點，每一個所述打標區域對應所述點陣中的至少一個位置點；

將激光在工件表面垂直打標時所形成的光斑的直徑作為標準光斑直徑，并將激光在點陣中各位置點處打標形成的光斑的直徑調整為所述標準光斑直徑，獲得一組光斑直徑校正參數，每個所述光斑直徑校正參數對應一個或多個位置點；

根據所述光斑直徑校正參數和對應的位置點的坐標生成所述預設的光斑直徑校正表，或者獲取每個位置點所在的打標區域的坐標區間，根據所述光斑直徑校正參數和對應的位置點的坐標以及對應的打標區域的坐標區間生成所述預設的光斑直徑校正表。

4.如權利要求1所述的大幅面激光標記方法，其特征在于，在所述根據預設的打標路徑在若干個所述打標區域中依次進行打標之前還包括根據預設的坐標精度校正表控制激光偏轉，對各打標區域的聚焦光斑進行坐標校正。

5.如權利要求4所述的大幅面激光標記方法，其特征在于，在進行坐標校正前，還包括獲取所述預設的坐標精度校正表，包括：

使激光根據預設的陣型在工件表面上打標一個點陣，獲取在工件表面打標出來的點陣中各點的坐標作為實際坐標，并獲取所述預設的陣型中的各個點的坐標作為理論坐標；

根據所述理論坐標與對應的所述實際坐標建立所述坐標精度校正表。

6.一種大幅面激光標記設備，其特征在于，包括處理裝置、電氣控制部、激光器、調節裝置、振鏡系統和F-theta透鏡；

所述激光器發射的激光依次經過調節裝置、振鏡系統和所述F-theta透鏡聚焦至工件表面，所述F-theta透鏡用于使激光到工件表面范圍內各處的焦距一致，所述振鏡系統用于控制激光在工件表面移動，其中所述工件表面包括若干個打標區域，所述大幅面激光標記設備根據預設的打標路徑在若干個所述打標區域中依次進行打標；

所述處理裝置用于在任意一個所述打標區域中進行打標時，根據預設的光斑直徑校正表獲取所述打標區域對應的光斑直徑校正參數，并向所述電氣控制部傳輸調節指令；

所述調節裝置用于根據所述光斑直徑校正參數和調節指令對所述打標區域中的激光聚焦的光斑的直徑進行校正，以使所述大幅面激光標記設備根據校正后的光斑直徑進行激光打標；

其中，所述直徑校正參數為激光在相應的所述打標區域中打標時對激光光束進行擴束的擴束倍數。

7.如權利要求6所述的大幅面激光標記設備，其特征在于，所述處理裝置根據預設的直徑校正表獲取所述打標區域對應的光斑直徑校正參數具體為：

獲取所述打標區域的坐標區間或者所述打標區域其中一點的坐標，根據所述坐標區間或者所述坐標從所述預設的直徑校正表中獲取所述打標區域對應的光斑直徑校正參數。