[發明專利]一種樣品錄入裝置在審
| 申請號: | 201711185565.1 | 申請日: | 2017-11-23 |
| 公開(公告)號: | CN107766772A | 公開(公告)日: | 2018-03-06 |
| 發明(設計)人: | 徐曉俊 | 申請(專利權)人: | 昌微系統科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G06K7/14 | 分類號: | G06K7/14;G06K7/10;G01V11/00 |
| 代理公司: | 北京大成律師事務所11352 | 代理人: | 李佳銘,沈汶波 |
| 地址: | 200025 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 樣品 錄入 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及試管信息錄入技術領域,尤其涉及一種樣品錄入裝置。
背景技術
目前市場上,現有檢驗儀器的試管信息錄入裝置主要分兩種:一種沒有條碼讀取功能,或者僅支持1試管架上1排試管的條碼讀取能力,且通常這種試管信息錄入裝置也僅有的1組條碼讀取位置,僅支持逐個讀取試管上的條碼信息,不能一次全部讀取。這種試管信息錄入裝置信息錄入耗費時間比較長,且增加了操作人員的工作量;還有一種自動流水線的試管信息錄入裝置,該裝置結構復雜,要求試管架進行移動,帶動試管分別到達采樣位、條碼掃描位置、混勻位等諸多特定位置,這種裝置結構復雜,成本和故障率都很高,并且有很高的樣品跌落風險,也不是試管信息錄入的理想裝置。
發明內容
為解決上述問題,本發明提供一種樣品錄入裝置。本發明利用手動推動樣品支架框體在樣品支架底座上滑動,放置于樣品支架框體中的試管依次經過設置于樣品支架前的條碼儀,條碼儀逐一讀取試管上的條碼信息;同時,本發明中的樣品支架底座上不止設置有一個樣品支架框,多個樣品支架框依次經過條碼儀,樣品支架上的多個試管上的條碼信息均可被讀取。
具體地,一種樣品錄入裝置,包括,條碼儀,所述條碼儀上包括一讀碼窗口,樣品支架,相對于所述條碼儀上具有所述讀碼窗口的一面設置。
其中,所述樣品支架包括,樣品支架底座及安裝于所述樣品支架底座上的樣品支架框體;所述樣品支架底座包括,底板,設置于所述底板第一面上的至少兩條相互平行的導向條,垂直靠近導向條遠離所述條碼儀的一端的一擋板,及設置于所述底板上與所述第一面相對立的第二面上的檢測板,所述導向條之間形成一導向軌道,所述樣品支架框體安裝于所述導向軌道中,沿所述導向軌道滑動,并停止于所述擋板處,所述樣品支架框體的底部設置有強磁鐵,所述樣品支架框體上具有至少一個試管槽,用于放置試管,所述試管槽朝向所述條碼儀的一側具有一第一鏤空部,所述樣品支架框體沿所述導向軌道滑動,所述樣品支架底座的所述檢測板感應所述樣品支架框體底部的所述強磁鐵,產生一第一電信號,所述條碼儀接收所述第一電信號并啟動,所述條碼儀通過所述試管槽上的第一鏤空部讀取所述試管上的條碼。
優選地,所述檢測板上設置有一霍爾傳感器,當所述樣品支架框體沿所述導向軌道滑動,所述強磁鐵到達所述霍爾傳感器上部,所述霍爾傳感器感應所述強磁鐵的磁場,產生一第一電信號,所述條碼儀接收所述第一電信號并啟動。
優選地,所述條碼儀中還包括一光源,所述光源設置于所述讀碼窗口中,所述樣品支架上還包括一光纖傳感器,所述光纖傳感器設置于所述樣品支架底座上,遠離所述光源的一端,所述光源與所述光纖傳感器之間的連線垂直與所述導向軌道,所述試管槽遠離所述條碼儀的一側的側面上設置有一第二鏤空部,所述樣品支架框體沿所述導向軌道滑動,當所述試管槽中放置有試管時,所述試管擋住所述光源發出的光線,所述光纖傳感器產生一第二電信號,當所述試管槽中未放置試管時,所述光源發出的光線照射到所述光纖傳感器上,所述光纖傳感器產生一第三電信號。
優選地,所述光纖傳感器接收所述檢測板產生的所述第一電信號,并根據所述第一電信號啟動所述光纖傳感器。
優選地,所述擋板朝向所述導向軌道的面上設置有導向光珠,所述樣品支架框體底端朝向并與所述導向光珠相對應位置,設置有卡位孔,所述樣品支架框體滑至所述導向軌道底部,所述導向光珠卡入所述卡位孔。
優選地,所述導向軌道中設置有導光柱,所述底板的第二面上設置有狀態指示板,所述狀態指示板上對應所述導光柱的位置設置有指示燈,所述樣品支架框體的卡位孔中設置有所述指示燈的開關,所述樣品支架框體滑至所述導向軌道底部,所述導向光珠卡入所述卡位孔,點亮所述指示燈,所述指示燈發出的光線經過所述導光柱發出。
優選地,所述樣品支架框體遠離所述擋板的一端設置有一手持部。
更加優選地,所述手持部為一環狀結構,所述手持部包括一容納部、一突出部及一導向面,所述容納部位于所述手持部的中心,沿橫向垂直于所述樣品支架框體的方向貫穿所述手持部,所述突出部位于所述手持部的遠離所述樣品支架框體的一面,向遠離所述樣品支架框體的一端突出,所述導向面位于所述手持部的端面,由靠近所述樣品支架框體一端朝向所述樣品支架底座傾斜,并連接于所述突出部。
優選地,所述樣品支架框體包括框體本體,設置于所述框體本體上的壓板,所述框體本體及所述壓板之間夾持有側擋圈。所述框體本體上具有至少一個試管槽,所述壓板上對應所述試管槽位置設置有開口,所述試管夾持與所述試管槽及所述開口中。
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