[發明專利]三維存儲結構制作方法、存儲結構、存儲器及電子設備在審
| 申請號: | 201711184313.7 | 申請日: | 2017-11-23 |
| 公開(公告)號: | CN107946306A | 公開(公告)日: | 2018-04-20 |
| 發明(設計)人: | 霍宗亮;周文斌;張磊;楊鵬 | 申請(專利權)人: | 長江存儲科技有限責任公司 |
| 主分類號: | H01L27/11551 | 分類號: | H01L27/11551;H01L27/11578;H01L21/8242;H01L27/108;H01L29/06 |
| 代理公司: | 北京辰權知識產權代理有限公司11619 | 代理人: | 劉廣達 |
| 地址: | 430074 湖北省武漢市洪山區東*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 三維 存儲 結構 制作方法 存儲器 電子設備 | ||
1.一種三維存儲結構制作方法,其特征在于,包括:
在襯底上形成凹陷區;
在所述凹陷區形成三維存儲器件;
在非凹陷區形成外圍電路。
2.根據權利要求1所述的三維存儲結構制作方法,其特征在于,所述在襯底上形成凹陷區,包括:
采用刻蝕工藝在襯底上刻蝕出凹陷區,所述凹陷區的深度大于或等于待制作的三維存儲器件的厚度。
3.根據權利要求1所述的三維存儲結構制作方法,其特征在于,在非凹陷區形成外圍電路之前,還包括:;
全面形成第一隔離層;
對所述第一隔離層進行全面平坦化;
所述在非凹陷區形成外圍電路,包括:
在對應于非凹陷區的第一隔離層上形成外圍電路。
4.根據權利要求1所述的三維存儲結構制作方法,其特征在于,在非凹陷區形成外圍電路之后,還包括:
全面形成第二隔離層;
對所述第二隔離層進行全面平坦化;
基于所述第二隔離層,形成所述外圍電路與所述三維存儲器件之間的金屬連線。
5.一種三維存儲結構,其特征在于,包括:襯底、三維存儲器件和外圍電路;
所述襯底上設置有凹陷區和非凹陷區;
所述三維存儲器件設于所述襯底上的凹陷區;
所述外圍電路設于所述襯底上的非凹陷區。
6.根據權利要求5所述的三維存儲結構,其特征在于,所述凹陷區的深度大于或等于所述三維存儲器件的厚度。
7.根據權利要求5所述的三維存儲結構,其特征在于,還包括:第一隔離層;
所述第一隔離層設于所述三維存儲器件與所述外圍電路之間。
8.根據權利要求5所述的三維存儲結構,其特征在于,還包括:第二隔離層和金屬連線;
所述第二隔離層設于所述外圍電路之上;
所述金屬連線設于所述第二隔離層之上,并穿過所述第二隔離層連接所述外圍電路和所述三維存儲器件。
9.一種三維存儲器,其特征在于,所述三維存儲器中設置有權利要求5至8任一項所述的三維存儲結構。
10.一種電子設備,其特征在于,所述電子設備中設置有權利要求9所述的三維存儲器。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





