[發明專利]一種GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量裝置及方法有效
| 申請號: | 201711183865.6 | 申請日: | 2017-11-23 |
| 公開(公告)號: | CN107796988B | 公開(公告)日: | 2023-05-16 |
| 發明(設計)人: | 王增彬;陳玉;唐瑛;孫帥;邵穎煜;王流火;劉聰;陳義龍;饒章權;呂鴻;龐小峰 | 申請(專利權)人: | 廣東電網有限責任公司電力科學研究院 |
| 主分類號: | G01R27/08 | 分類號: | G01R27/08 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 張春水;唐京橋 |
| 地址: | 510080 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 gis 絕緣子 表面 電阻率 測量 裝置 方法 | ||
1.一種GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量裝置,其特征在于,包括:
支撐平臺、絕緣平板、雙目視覺測量系統和電流電壓測試電路;
所述支撐平臺上設置有用于固定支撐待測試件的支撐柱;
所述絕緣平板設置有用于支撐軸通過的支撐軸孔,所述絕緣平板通過所述支撐軸與所述待測試件連接;
所述絕緣平板上開設有用于固定絕緣環的凹槽;
所述絕緣環包括第一絕緣環和第二絕緣環;
所述第一絕緣環的底部連接有保護環形電極;
所述第二絕緣環的底部連接有被保護環形電極;
所述保護環形電極與所述待測試件連接;
所述被保護環形電極與所述待測試件連接;
所述保護環形電極與所述被保護環形電極之間間隔預設距離;
所述雙目視覺測量系統用于測量所述預設距離;
所述電流電壓測試電路接入所述保護環形電極與所述被保護環形電極之間。
2.根據權利要求1所述的GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量裝置,其特征在于,所述保護環形電極包括第一背襯電極與第一環形導電橡膠;
所述第一背襯電極與所述第一絕緣環的底部連接;
第一環形導電橡膠緊貼于所述待測試件的表面。
3.根據權利要求1所述的GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量裝置,其特征在于,所述被保護環形電極包括第二背襯電極與第二環形導電橡膠;
所述第二背襯電極與所述第二絕緣環的底部連接;
第二環形導電橡膠緊貼于所述待測試件的表面。
4.根據權利要求1所述的GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量裝置,其特征在于,所述電流電壓測試電路包括直流高壓測試電源,測試電壓控制開關和電流計;
所述保護環形電極、所述電流計、所述直流高壓測試電源、所述測試電壓控制開關與所述被保護環形電極依次串聯連接。
5.根據權利要求1所述的GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量裝置,其特征在于,所述支撐軸為可旋式支撐軸,且所述支撐軸的表面設有刻度。
6.根據權利要求4所述的GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量裝置,其特征在于,所述支撐軸孔的數量與所述待測試件的連接孔的數量一致。
7.根據權利要求1所述的GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量裝置,其特征在于,所述絕緣環上設置有與所述絕緣平板的凹槽匹配的凸起部分,所述絕緣環通過所述凸起部分與所述絕緣平板固定連接。
8.根據權利要求2所述的GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量裝置,其特征在于,所述第一背襯電極為閉合環形結構。
9.根據權利要求3所述的GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量裝置,其特征在于,所述第二背襯電極為閉合環形結構。
10.一種GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量方法,基于權利要求1至9中任意一項所述的GIS盆式絕緣子的表面電阻率測量裝置,其特征在于,包括:
S1、將待測試件固定設置于支撐平臺與絕緣平板之間;
S2、將保護環形電極和被保護環形電極與待測試件固定連接在一起,且在保護環形電極與被保護環形電極之間間隔預設距離;
S3、通過電流電壓測試電路在保護環形電極與被保護環形電極之間施加電壓,并得到電路中的電流值;
S4、通過雙目視覺測量系統測量保護環形電極與被保護環形電極之間間隔的預設距離;
S5、獲取保護環形電極與被保護環形電極之間間隔的預設距離,獲取被保護環形電極的內徑,根據施加的電壓以及得到的電流值,通過預置電阻率計算公式得到保護環形電極與被保護環形電極之間材料的表面電阻率。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于廣東電網有限責任公司電力科學研究院,未經廣東電網有限責任公司電力科學研究院許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201711183865.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:輸電網二次諧波檢測裝置
- 下一篇:一種配電網電容電流在線測量方法





