[發明專利]質譜數據采集方法

有效

• 申請號: 201711183676.9
• 申請日: 2017-11-23
• 公開（公告）號: CN109830426B
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 張小強;黃云清;孫文劍
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: H01J49/40
• 分類號: H01J49/40;H01J49/02;G01N27/62;G01N27/622
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 高彥

本發明提供質譜數據采集方法，包括：a提供一離子源以產生母離子；b所述母離子進入第一質量分析器，所述第一質量分析器選擇至少一個質量窗口，令位于所述質量窗口之外的母離子通過所述第一質量分析器且位于所述質量窗口之內的母離子不能通過所述第一質量分析器；c通過所述第一質量分析器的母離子進入一碰撞腔進行碰撞解離，產生子離子；所述子離子進入第二質量分析器，進行質量分析并記錄譜圖；e重復步驟b?d，每次在重復執行至步驟b時，選擇的質量窗口與之前所有執行步驟b時選擇的質量窗口不重合，當一質量范圍內的全部質量窗口都被選擇過之后，停止重復。本發明可有效提高數據非依賴性采集方法的離子利用效率，并降低數學后處理的難度。

技術領域

本發明涉及質譜數據采集領域，特別是涉及一種新型的質譜數據采集方法。

背景技術

高分辨串級質譜目前已成為組學分析(包括代謝組學、蛋白質組學等)中重要的分析儀器。對于組學分析中較復雜的樣品，需要高通量、高靈敏度、高覆蓋度的質譜數據采集方法。傳統方法為1998年由Ducret等人提出的數據依賴性采集(DDA,data dependentacquisition)，該方法中，先進行一次母離子掃描，然后挑選其中豐度較高的母離子，依次進入碰撞腔解離并得到子離子譜圖。該方法可得到較高的分析物覆蓋度，因此至今仍是被廣泛采用的采集方法。

近年來數據非依賴性采集(DIA，data independent acquisition)得到了較快發展，相比于DDA方法，該方法具有更高的靈敏度、動態范圍、分析通量和更好的定量性。這種方法的典型代表是美國專利US6717130中描述的MSE方法以及美國專利US8809770中描述的SWATH方法。在MSE方法中，先進行母離子掃描，然后把較寬質量段甚至全部的母離子一起放入碰撞腔進行解離，并記錄子離子譜圖，通過同一分析物的母離子和子離子在色譜(或離子遷移譜)中的保留時間或峰型等方面具有相同的特征，用解卷積算法關聯母離子和子離子。SWATH方法主要針對目標物分析，因此可以不進行母離子預掃描，通常直接把母離子按質量數分段，比如每段為25Da，然后將四極桿選出的每段母離子一起進入碰撞腔解離，記錄子離子譜圖并與數據庫進行對比，利用子離子強度進行定量。這兩種方法中，都需要選擇一段或整段質量窗口內的母離子以同時進入碰撞腔解離，但存在一個矛盾，即如果這個質量窗口太小，則會降低DIA方法的效率，即離子利用效率太低且掃描整個質量范圍所花時間太長。如果質量窗口太大，盡管離子利用效率提高了，但會增加譜圖的復雜度，增大數學后處理(比如與數據庫對比以判別分析物，或者解卷積以關聯母、子離子等)的難度，出現對分析物離子的錯配、錯判等。因此需要一種方法，可以解決以上問題或矛盾。

發明內容

鑒于以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在于提供質譜數據非依賴性采集方法，用于解決現有技術中的上述問題。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種質譜數據采集方法，包括：a.提供一離子源以產生母離子；b.所述母離子進入第一質量分析器，所述第一質量分析器選擇至少一個質量窗口，令位于所述質量窗口之外的母離子通過所述第一質量分析器且位于所述質量窗口之內的母離子不能通過所述第一質量分析器；c.通過所述第一質量分析器的母離子進入一碰撞腔進行碰撞解離，產生子離子；d.所述子離子進入第二質量分析器，進行質量分析并記錄譜圖；e.重復步驟b-d，每次在重復執行至步驟b時，選擇的質量窗口與之前所有執行步驟b時選擇的質量窗口不重合，當一質量范圍內的全部質量窗口都被選擇過之后，停止重復。

于本發明一實施例中，在步驟e之后包括步驟f，所述步驟f包括：通過第一數學后處理得到對應于每次選擇的質量窗口內的母離子產生的子離子的譜圖。

于本發明一實施例中，在步驟f之后包括步驟g或步驟j，其中，所述步驟g包括：通過第二數學后處理，得到對應于每個選擇的質量窗口內的每個母離子產生的子離子的譜圖；所述步驟j包括：對所述子離子的譜圖與預設數據庫進行對比、分析以對分析物進行判別。

于本發明一實施例中，在步驟e之后包括步驟h，所述步驟h包括：將所有記錄的譜圖疊加以得到一張和譜譜圖。