[發明專利]熱質量流量計

在審

• 申請號: 201711179597.0
• 申請日: 2017-11-23
• 公開（公告）號: CN108088510A
• 公開（公告）日: 2018-05-29
• 發明（設計）人: P·薩巴捷;T·阿萊格爾
• 申請（專利權）人: 薩基姆通訊能源及電信聯合股份公司
• 主分類號: G01F1/86
• 分類號: G01F1/86
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 亓云;顧嘉運

1.一種使用用于測量在主導管(11)中流動的流體(G)的流速的熱質量流量計來測量流速的方法，所述熱質量流量計包括：

第一測量導管(12)，其具有連接至所述主導管的入口(E1)和出口(S1)并且設置有兩個溫度傳感器和用于加熱所述兩個傳感器之間的所述流體的裝置；

位于所述第一測量導管(12)的所述入口與所述出口之間的所述主導管中的壓降部件(14)；以及

壓力測量設備(17)，用于產生對在分別位于所述壓降部件(14)的上游和下游的上游點與下游點之間的所述主導管中存在的壓差的測量；

所述測量方法包括以下步驟：

通過使用所述溫度傳感器來產生流速測量；

通過使用所述壓力測量設備來產生壓差測量；

根據所述流速測量和所述壓差測量產生校正因子；以及

通過使用所述校正因子來校正所述流速測量；

所述測量方法進一步包括使用所述流速測量來估算所述第一測量導管的所述入口與所述出口之間的壓差的步驟。

2.如權利要求1所述的測量方法，其特征在于，根據所述壓差與所述壓差測量之間的比率來獲得所述校正因子。

3.如權利要求1所述的測量方法，其特征在于，根據所述壓差與所述壓差測量之差來獲得所述校正因子。

4.如權利要求1所述的測量方法，其特征在于，進一步包括在所述熱質量流量計的制造期間執行并且包括根據流速測量和壓差測量估算參考值的校準步驟，當計及所述參考值時產生所述校準因子。

5.如權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述壓力測量設備包括在所述上游點處具有入口(E2)并且在所述下游點處具有出口(S2)的第二測量導管(18)，壓差傳感器(20)位于所述第二測量導管中。

6.如權利要求5所述的測量方法，其特征在于，所述上游點位于所述第一測量導管的所述入口處，而所述下游點位于來自所述第一測量導管的所述出口的下游。

7.如權利要求5所述的測量方法，其特征在于，所述壓差傳感器(20)是應變儀傳感器。

8.一種用于測量在主導管(11)中流動的流體(G)的流速的熱質量流量計，所述流量計包括：

第一測量導管(12)，其具有連接至所述主導管的入口(E1)和出口(S1)并且設置有兩個溫度傳感器和用于加熱所述兩個傳感器之間的所述流體的裝置；

位于所述第一測量導管(12)的所述入口與所述出口之間的所述主導管中的壓降部件(14)；

壓力測量設備(17)，用于產生對在分別位于壓降部件(14)的上游和下游的上游點與下游點之間的主導管中存在的壓差的測量；以及

連接至所述溫度傳感器并且連接至所述壓力測量設備的處理器單元；

所述熱質量流量計被安排成根據前述任何權利要求來執行所述測量方法。