[發明專利]顯示面板檢測方法與裝置

有效

• 申請號: 201711178264.6
• 申請日: 2017-11-23
• 公開（公告）號: CN107818748B
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 黃孟茹
• 申請（專利權）人: 拓曠（上海）光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 李有財

1.一種顯示面板檢測方法，其特征在于，包括下列步驟：

依序驅動顯示面板的像素電路，以取得多個像素電荷量和多個像素位置信息；

根據所述多個像素位置信息，對所述多個像素電荷量進行排列，以產生圖文件信息；

將所述圖文件信息中的所述多個像素電荷量轉換為灰階信息并進行對比及亮度調整，以產生第一檢測信息，其中還包括下列步驟：

將所述多個像素電荷量依大小等比例轉換為具有明暗的灰階信息；

對所述灰階信息進行對比及亮度調整，以產生影像調整信息；

對所述影像調整信息進行分析，以產生所述第一檢測信息，之后還包括導入所述顯示面板設計時的光罩數據、制程設備指紋、各站點制成分布特性、TEG電性檢測結果，并所述第一檢測信息與所述光罩數據進行整合以及將所述第一檢測信息與所述制程設備指紋、所述各站點制成分布特性、所述TEG電性檢測結果進行比對分析，以產生對應的分析結果，其中所述制程設備指紋包括制程設備的接腳，其與顯示面板的像素電路的像素有對應關系，所述各站點制成分布特性包括在顯示面板的中間跟周圍所導入的電漿的分布特性，其與顯示面板的像素電路的像素有對應關系；以及

將所述圖文件信息中的所述多個像素電荷量轉換并與基準值進行比對，以產生第二檢測信息。

2.根據權利要求1所述的顯示面板檢測方法，其特征在于，還包括導入標準化TEG測試鍵，且設定所述標準化TEG測試鍵之間的關聯性，再通過所述標準化TEG測試鍵量測所述顯示面板的電性分布特性并進行分析，產生所述TEG電性檢測結果，且將所述TEG電性檢測結果與所述光罩數據進行分析及比對。

3.根據權利要求1所述的顯示面板檢測方法，其特征在于，將所述圖文件信息中的所述多個像素電荷量轉換并與基準值進行比對，以產生所述第二檢測信息的步驟中，還包括下列步驟：

將所述多個像素電荷量各自轉換成電壓值；以及

將所述多個電壓值與基準值進行比對，取得電壓差異信息，并記錄電壓差異信息及其對應像素的位置，以產生所述第二檢測信息。

4.根據權利要求3所述的顯示面板檢測方法，其特征在于，產生所述第二檢測信息的步驟之后，還包括下列步驟：

將所述像素電路的所述像素進行點亮，取得點亮畫面，并對所述點亮畫面進行強化處理，以取得點亮強化畫面；

根據所述點亮畫面與所述點亮強化畫面，取得所述像素電路的所述像素點亮時的亮度差異信息；以及

將所述亮度差異信息與所述第二檢測信息中的電壓差異信息進行比對，以取得電壓補償信息。

5.根據權利要求4所述的顯示面板檢測方法，其特征在于，取得所述電壓補償信息的步驟之后，還包括下列步驟：

將所述電壓補償信息傳送到顯示面板的芯片，以進行補償操作。

6.根據權利要求3所述的顯示面板檢測方法，其特征在于，所述基準值為所述多個電壓值中占最多數量的電壓值。