[發明專利]一種PLC波分復用技術光學測試系統及其方法

在審

• 申請號: 201711178145.0
• 申請日: 2017-11-23
• 公開（公告）號: CN107769849A
• 公開（公告）日: 2018-03-06
• 發明（設計）人: 翟中生;唐旭晨;蔣甜甜
• 申請（專利權）人: 揚州智銳光電科技有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079
• 代理公司: 常州佰業騰飛專利代理事務所(普通合伙)32231
• 代理人: 劉松

技術領域

本發明屬于光纖技術領域。

背景技術

隨著目前波分技術的持續升級，光纖網絡中使用的器件種類和功能越來越復雜，各種不同功能的器件和模塊越來越多,諸如可調功率光復用器(VMUX)、光分插復用器(OADM)、衰減器(VOA)光開關(OSW)等光器件，這些器件和模塊的光學指標特性決定了傳輸網絡的質量和穩定性，這些器件目前都主要應用在C波段的通信波長范圍類。

目前，這些傳統C波段的器件和模塊，在生產和測試過程中，所使用的測試設備型號和種類較多，并且這些設備主要由國外廠家生產，價格昂貴，對于傳統C波段的測試需求來說，成本較高，價值利用率太低，從而導致器件廠家生產成本居高不下。

發明內容

本發明的目的是提供一種PLC波分復用技術光學測試系統及其方法，解決了同時測試待測試模塊的多個通道的基礎光學指標的技術問題。

為實現上述目的，本發明采用以下技術方案：

一種PLC波分復用技術光學測試系統，包括C波段光源模塊、1×N分光器、濾波器控制電路、可調光濾波器模塊、光功率探測器、偏振控制器、耦合器和計算機控制系統，C波段光源模塊的輸出端與可調光濾波器模塊的輸入端連接，可調光濾波器模塊的輸出端與偏振控制器的輸入端連接，偏振控制器的輸出端與耦合器的輸入端連接，耦合器的第一輸出端與1×N分光器的公共端連接、第二輸出端與光功率探測器連接，1×N分光器的輸出端與待測試模塊的輸入端連接，待測試模塊的輸出端與光功率探測器連接；可調光濾波器模塊連接濾波器控制電路，濾波器控制電路、偏振控制器和光功率探測器均與計算機控制系統連接。

所述C波段光源模塊的光源為具有寬波段輸出的寬帶光源；所述C波段光源模塊的型號為ASE-C。

所述可調濾波器為具有調制寬帶光源為任意單波長或窄帶輸出波長的調制光學濾波器件，其型號為OTF-10。

所述光功率探測器包括數個光探測器或者陣列集成式光學探測器。

所述光功率探測器為具有N個通道的陣列探測器，其型號為PD-ARRAY40。

所述耦合器為2X2均分耦合器，其型號為COUPLER2-2。

所述計算機控制系統為電腦或工控機。

一種PLC波分復用技術光學測試方法，包括如下步驟：

步驟1：建立所述一種PLC波分復用技術光學測試系統；

步驟2：系統波長相關插入損耗校準：計算機控制系統控制可調光濾波器模塊輸出波長為測試所需的光源，將1×N分光器的輸出端口與待測試模塊連接，計算機控制系統采集并計算光功率探測器的光功率值P2i，其中i為對應分光器的第i個通道的光功率接收端口的光功率值；

步驟3：對待測試模塊的光譜特性進行采集：計算機控制系統控制可調光濾波器模塊按照預設波長，以最小波長間隔(一般為3-5pm)勻速改變可調光濾波器模塊的輸出波長，計算機控制系統實時同步采集光功率探測器的光功率最大值P2_maxi和最小值P2_mini，其中i為對應待測試模塊的第i個通道的光功率接收端口的光功率值；

步驟4：對待測試模塊的光學指標進行分析測試，所述光學指標包括插入損耗、偏振相關損耗、帶寬和隔離度，記錄步驟2中待測試模塊各通道在不同波長下的光功率最大值P2_maxi和最小值P2_mini，計算機控制系統根據光功率最大值P2_maxi和最小值P2_mini分析并計算待測試模塊的插入損耗和偏振相關損耗，其計算公式如下：

平均插入損耗IL：IL＝(P2_maxi+P2_mini)/2-P2i；

偏正相關損耗PDL：PDL＝P2_maxi-P2_mini；

計算機控制系統根據平均插入損耗IL和偏正相關損耗PDL分析待測試模塊的帶寬和隔離度，并以圖表的形式展示待測試模塊的光學指標。