[發明專利]折反射式光學成像系統

有效

• 申請號: 201711174214.0
• 申請日: 2017-11-22
• 公開（公告）號: CN107807441B
• 公開（公告）日: 2018-08-17
• 發明（設計）人: 曲賀盟;張新;張繼真;王靈杰
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G02B17/08
• 分類號: G02B17/08
• 代理公司: 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙) 44316
• 代理人: 趙勍毅

1.一種折反射式光學成像系統，其特征在于，包括：位于同一光軸上且沿光的傳播方向依次順序設置的第一反射鏡(1)、第二反射鏡(2)、正透鏡(3)及負透鏡(4)，所述第一反射鏡(1)的反射面朝向所述第二反射鏡(2)的反射面，所述第一反射鏡(1)的中心區域開設有供被所述第二反射鏡(2)反射后的光線通過并到達探測器像面(5)的中心通孔，所述正透鏡(3)和所述負透鏡(4)依次順序設置于所述第二反射鏡(2)和所述探測器像面(5)之間；

所述第一反射鏡(1)采用鋁合金作為基底材料進行制作；

所述第二反射鏡(2)采用微晶材料進行制作；

所述正透鏡(3)采用Ge材料進行制作；

所述負透鏡(4)采用ZnSe材料進行制作。

2.如權利要求1所述的折反射式光學成像系統，其特征在于，所述第一反射鏡(1)的反射面為非球面，其光焦度為正。

3.如權利要求1所述的折反射式光學成像系統，其特征在于，所述第二反射鏡(2)的反射面為非球面，其光焦度為負。

4.如權利要求1所述的折反射式光學成像系統，其特征在于，所述第一反射鏡(1)、所述第二反射鏡(2)、所述正透鏡(3)及所述負透鏡(4)的支撐件采用鋁合金材料進行制作。

5.如權利要求1所述的折反射式光學成像系統，其特征在于，所述探測器像面(5)的中心位于所述光軸。