[發(fā)明專利]慢盤檢測(cè)方法和存儲(chǔ)陣列

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201711170428.0
• 申請(qǐng)日: 2017-11-22
• 公開（公告）號(hào): CN109815037B
• 公開（公告）日: 2021-07-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 連濤;曹紅強(qiáng);仇幼成
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華為技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/07
• 分類號(hào): G06F11/07
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N慢盤檢測(cè)方法和存儲(chǔ)陣列。所述方法存儲(chǔ)陣列由執(zhí)行，所述存儲(chǔ)陣列包括至少一個(gè)磁盤集，每個(gè)磁盤集包括至少一個(gè)磁盤，所述方法包括：偵測(cè)所述存儲(chǔ)陣列中的至少一個(gè)磁盤集中的每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)值，其中，N為大于或等于2的正整數(shù)；根據(jù)所述每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)值計(jì)算所述每個(gè)磁盤的慢盤概率；根據(jù)所述每個(gè)磁盤的慢盤概率判斷所述每個(gè)磁盤集中的慢盤。本申請(qǐng)?zhí)峁┑募夹g(shù)方案通過偵測(cè)至少一個(gè)磁盤集中的每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)值，在慢盤檢測(cè)過程中考慮每個(gè)磁盤的多個(gè)磁盤參數(shù)值，使得慢盤檢測(cè)的結(jié)果更準(zhǔn)確。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，并且更具體地，涉及一種慢盤檢測(cè)方法和存儲(chǔ)陣列。

背景技術(shù)

存儲(chǔ)陣列通常包括磁盤陣列。受到各種因素的影響，磁盤陣列中的磁盤在生命周期的后段可能會(huì)出現(xiàn)輸入輸出(input output，I/O)響應(yīng)慢的問題，甚至有可能無(wú)法對(duì)I/O進(jìn)行響應(yīng)。這種類型的磁盤稱為慢盤。

慢盤的存在會(huì)對(duì)上層業(yè)務(wù)造成影響，例如會(huì)導(dǎo)致業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)的處理不及時(shí)。因此，需要對(duì)磁盤陣列中的慢盤進(jìn)行慢盤檢測(cè)，并對(duì)慢盤上承載的業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)進(jìn)行隔離。

傳統(tǒng)技術(shù)通?；贗/O平均服務(wù)時(shí)間進(jìn)行慢盤檢測(cè)。例如，如果某個(gè)磁盤在檢測(cè)周期內(nèi)的I/O平均服務(wù)時(shí)間大于預(yù)設(shè)閾值，則將該磁盤判定為慢盤。但是，由于磁盤會(huì)受到不同業(yè)務(wù)模型的影響，會(huì)導(dǎo)致慢盤檢測(cè)的結(jié)果不準(zhǔn)確。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N慢盤檢測(cè)方法和存儲(chǔ)陣列，可以提高慢盤檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

第一方面，提供了一種慢盤檢測(cè)方法，由存儲(chǔ)陣列執(zhí)行，所述存儲(chǔ)陣列包括至少一個(gè)磁盤集，每個(gè)磁盤集包括至少一個(gè)磁盤，所述方法包括：偵測(cè)所述存儲(chǔ)陣列中的至少一個(gè)磁盤集中的每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)值，其中，N為大于或等于2的正整數(shù)；根據(jù)所述每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)值計(jì)算所述每個(gè)磁盤的慢盤概率；根據(jù)所述每個(gè)磁盤的慢盤概率判斷所述每個(gè)磁盤集中的慢盤。

上述技術(shù)方案?jìng)蓽y(cè)至少一個(gè)磁盤集中的每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)值。在慢盤檢測(cè)過程中，通過考慮每個(gè)磁盤的多個(gè)磁盤參數(shù)值，與傳統(tǒng)的僅基于I/O平均服務(wù)時(shí)間這一因素進(jìn)行慢盤檢測(cè)的方式相比，使得慢盤檢測(cè)的結(jié)果更準(zhǔn)確。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)值計(jì)算每個(gè)磁盤的慢盤概率，包括：判斷所述偵測(cè)的每個(gè)磁盤的每個(gè)磁盤參數(shù)值所落入的參數(shù)區(qū)間，其中，所述每個(gè)磁盤參數(shù)對(duì)應(yīng)至少一個(gè)參數(shù)區(qū)間；確定所述偵測(cè)的每個(gè)磁盤的每個(gè)磁盤參數(shù)值所落入的參數(shù)區(qū)間對(duì)應(yīng)的概率，其中，所述每個(gè)磁盤參數(shù)值所落入的參數(shù)區(qū)間對(duì)應(yīng)一個(gè)概率；根據(jù)所述每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的概率計(jì)算所述每個(gè)磁盤的慢盤概率；根據(jù)所述每個(gè)磁盤的慢盤概率判斷所述磁盤集中的慢盤。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述每個(gè)磁盤集中對(duì)應(yīng)的每個(gè)磁盤參數(shù)對(duì)應(yīng)一個(gè)權(quán)值，所述根據(jù)所述每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的概率計(jì)算所述每個(gè)磁盤的慢盤概率，包括：根據(jù)所述每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的概率及所述每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的權(quán)重計(jì)算所述每個(gè)磁盤的慢盤概率。

上述技術(shù)方案中，可以根據(jù)N個(gè)磁盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的權(quán)值，對(duì)每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的概率進(jìn)行加權(quán)求和，確定每個(gè)磁盤為慢盤的總概率。通過綜合考慮每個(gè)磁盤的N個(gè)磁盤參數(shù)，使得慢盤檢測(cè)的結(jié)果更準(zhǔn)確。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述每個(gè)磁盤集具有相同的磁盤特性。

上述技術(shù)方案中，同一個(gè)磁盤集中的磁盤特性相同，相當(dāng)于在排除了磁盤特性對(duì)慢盤檢測(cè)結(jié)果的影響的前提下，再進(jìn)行慢盤檢測(cè)，使得慢盤檢測(cè)的結(jié)果更準(zhǔn)確。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，不同磁盤集對(duì)應(yīng)的所述磁盤特性中至少有一個(gè)磁盤特性不同。