[發(fā)明專利]測試系統(tǒng)和測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711169939.0 | 申請日： | 2017-11-22 |
| 公開（公告）號： | CN109085431A | 公開（公告）日： | 2018-12-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 亞歷山大·帕布斯特;科比特·羅威爾 | 申請（專利權(quán)）人： | 羅德施瓦茲兩合股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R29/10 | 分類號： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243 | 代理人： | 曾賢偉;許靜 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 德國;DE |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 待測設(shè)備 輻射圖案 主瓣 輸入測試信號 測試天線 測試系統(tǒng) 輸出測試 天線陣列 測試處理單元 天線測試系統(tǒng) 測試 信號電平 天線 指向 發(fā)射 | ||
1.一種用于測試待測設(shè)備的測試系統(tǒng)，所述待測設(shè)備包括具有多個天線的天線陣列并且能夠控制天線陣列的輻射圖案，該測試系統(tǒng)包括：
測試天線系統(tǒng)，其用于將輸出測試信號發(fā)射到待測設(shè)備以及接收來自所述待測設(shè)備的輸入測試信號；
控制單元，其用于控制所述待測設(shè)備以設(shè)置第一輻射圖案以及設(shè)置第二輻射圖案，第一輻射圖案具有指向測試天線系統(tǒng)的理論上的主瓣，第二輻射圖案的主瓣包括與第一輻射圖案的主瓣之間的大于0°的角；以及
測試處理單元，其用于基于由所述測試天線系統(tǒng)從所述待測設(shè)備接收的輸入測試信號的信號電平和/或基于由所述待測設(shè)備接收的輸出測試信號的信號電平來評價所述待測設(shè)備。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的測試系統(tǒng)，其中，所述第二輻射圖案包括指向測試天線系統(tǒng)的主瓣與旁瓣之間的理論上的零。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的測試系統(tǒng)，其中，所述測試處理單元可以包括：輸入信號評價單元，其用于驗證使用第一輻射圖案集的所接收到的第一輸入測試信號是否包括第一預(yù)定義的輸入信號電平范圍中的信號電平，以及使用第二輻射圖案集的所接收的第二輸入測試信號是否包括第二預(yù)定義的輸入信號電平范圍中的信號電平。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的測試系統(tǒng)，其中，所述測試處理單元包括：輸入信號處理器，其耦合到測試天線系統(tǒng)以用于處理第一輸入測試信號以及用于處理第二輸入測試信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的測試系統(tǒng)，其中，所述測試處理單元包括：輸出信號評價單元，其用于評價所接收的第一輸出測試信號是否包括第一預(yù)定義輸出信號電平范圍內(nèi)的信號電平以及所接收的第二輸出測試信號是否包括第二預(yù)定義輸出信號電平范圍內(nèi)的信號電平，
其中，所述輸出信號評價單元基于從所述待測設(shè)備接收的與由所述待測設(shè)備使用第一輻射圖案集所接收的發(fā)射的第一輸出測試信號以及由待測設(shè)備使用第二輻射圖案集所接收的發(fā)射的第二輸出測試信號的信號電平有關(guān)的信號信息來執(zhí)行評價。
6.根據(jù)權(quán)利要求5的測試系統(tǒng)，其中，所述測試處理單元包括：輸出信號處理器，其耦合到測試天線系統(tǒng)以用于使用第一輻射圖案集生成和發(fā)射發(fā)射到待測設(shè)備的第一輸出測試信號以及用于使用第二輻射圖案集生成和發(fā)射發(fā)射到待測設(shè)備的第二輸出測試信號。
7.根據(jù)權(quán)利要求1的測試系統(tǒng)，其中，所述測試天線系統(tǒng)發(fā)射平面波，以及其中，所述待測設(shè)備被定位在由天線系統(tǒng)發(fā)射的平面波形成的靜區(qū)中。
8.根據(jù)權(quán)利要求1的測試系統(tǒng)，包括：定位設(shè)備，其用于將所述待測設(shè)備定位在至少一個軸中。
9.根據(jù)權(quán)利要求1的測試系統(tǒng)，包括：阻塞信號生成器，用于當(dāng)在DUT中設(shè)置第二輻射圖案時至少臨時生成阻塞信號。
10.一種用于測試待測設(shè)備的測試方法，所述待測設(shè)備包括具有多個天線的天線陣列并且能夠控制天線陣列的輻射圖案，該測試方法包括：
使用測試天線系統(tǒng)來將輸出測試信號發(fā)射到待測設(shè)備和/或接收來自待測設(shè)備的輸入測試信號；
控制待測設(shè)備以設(shè)置第一輻射圖案或者設(shè)置第二輻射圖案，第一輻射圖案具有指向測試天線系統(tǒng)的理論上的主瓣，第二輻射圖案的主瓣包括與第一輻射圖案的主瓣之間的大于0°的角；以及
基于由天線測試系統(tǒng)從待測設(shè)備接收的輸入測試信號的信號電平和/或基于由待測設(shè)備接收的輸出測試信號的信號電平來評價所述待測設(shè)備。
11.根據(jù)權(quán)利要求9的測試方法，其中，所述第二輻射圖案包括指向測試天線系統(tǒng)的主瓣與旁瓣之間的理論上的零。
12.根據(jù)權(quán)利要求10的測試方法，其中，評價包括驗證使用第一輻射圖案集的所接收到的第一輸入測試信號是否包括第一預(yù)定義的輸入信號電平范圍中的信號電平，以及使用第二輻射圖案集的所接收的第二輸入測試信號是否包括第二預(yù)定義的輸入信號電平范圍中的信號電平。
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