[發明專利]一種厚膜混合集成電路及其批量生產控制方法有效
| 申請號: | 201711163906.5 | 申請日: | 2017-11-21 |
| 公開(公告)號: | CN109817648B | 公開(公告)日: | 2023-06-09 |
| 發明(設計)人: | 田振國;田仁杰 | 申請(專利權)人: | 湖北東光電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/13 | 分類號: | H01L27/13;H01L21/67 |
| 代理公司: | 荊門市首創專利事務所 42107 | 代理人: | 董聯生 |
| 地址: | 448124 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 混合 集成電路 及其 批量 生產 控制 方法 | ||
1.一種厚膜混合集成電路,包括厚膜電阻R6、厚膜電阻R7、瓷片電容C2、瓷片電容C3;其特征在于:厚膜電阻R6另一端連接厚膜電阻R7一端,厚膜電阻R7另一端連接運算放大器U2的同相輸入端;
厚膜電阻R6另一端連接瓷片電容C2一端,瓷片電容C2另一端連接電阻R8一端、運算放大器U2的輸出端,電阻R8另一端連接運算放大器U2的反相輸入端;
瓷片電容C3一端連接運算放大器U2的同相輸入端,瓷片電容C3另一端接地;
電阻R9一端連接運算放大器U2的反相輸入端,電阻R9另一端接地;
所述厚膜電阻R6、瓷片電容C2形成第一組阻容對;厚膜電阻R7、瓷片電容C3形成第二組阻容對;
厚膜電阻R6與瓷片電容C2的乘積、以及厚膜電阻R7與瓷片電容C3的乘積保持精確固定,其積的精度誤差需控制到0.11%以內;
所述厚膜電阻R6、厚膜電阻R7阻值為:615.0±1.0KΩ,精度要求控制在0.15%以內;
所述瓷片電容C2、瓷片電容C3為:NPO/1206/1%高精度瓷片電容。
2.如權利要求1任意一項所述的一種厚膜混合集成電路,其特征在于:該電路工作于二階選頻非線性工作點。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





