[發明專利]一種金屬氧化物及其制備方法、QLED器件有效
| 申請號: | 201711163222.5 | 申請日: | 2017-11-21 |
| 公開(公告)號: | CN109817839B | 公開(公告)日: | 2021-03-23 |
| 發明(設計)人: | 王宇;曹蔚然 | 申請(專利權)人: | TCL科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L51/56 | 分類號: | H01L51/56;H01L51/50;H01L51/54 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 王永文;劉文求 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 金屬 氧化物 及其 制備 方法 qled 器件 | ||
本發明公開了一種金屬氧化物及其制備方法、QLED器件,所述金屬氧化物的化學式為A(1?x)MxBO3;其中,A為金屬元素Ca、Sr和Ba中的一種或多種,且B為金屬元素Ti、Zr和Sn中一種或多種,M代表外層電子結構為(n?1)d5ns2的金屬元素,0x1。本發明解決了現有的鈣鈦礦型金屬氧化物ABO3應用到QLED的電子傳輸層中時,金屬氧化物ABO3與電極材料傳輸材料之間能級勢壘過大,不利于載流子的傳輸的問題。
技術領域
本發明涉及金屬氧化物技術領域,尤其涉及一種金屬氧化物及其制備方法和應用、QLED器件。
背景技術
ABO3為一種鈣鈦礦型材料,具有極其穩定的性能,被應用到光伏器件或者傳感器中,其作為n型寬帶隙半導體材料,帶隙約為3.2 ev具有傳輸電子的特性,可以作為電子傳輸層被應用到QLED中。但是其導帶能級約為-3.91 eV,其在應用到目前的QLED器件中,不利于和陰極電極材料(Al或Ag或AZO其功函數約為4.2 eV)或者陽極電極材料ITO或者FTO(其功函數4.6-4.7eV)形成有效的歐姆接觸,也即是電極材料與傳輸材料之間能級勢壘過大,不利于載流子的傳輸,因而影響器件的性能。
因此,現有技術還有待于改進和發展。
發明內容
鑒于上述現有技術的不足,本發明的目的在于提供一種金屬氧化物及其制備方法和應用、QLED器件,旨在解決現有的鈣鈦礦型金屬氧化物ABO3應用到QLED的電子傳輸層中時,金屬氧化物ABO3與電極材料傳輸材料之間能級勢壘過大,不利于載流子的傳輸的問題。
本發明的技術方案如下:
一種金屬氧化物,其中,所述金屬氧化物的化學式為A(1-x)MxBO3;
其中,A為金屬元素Ca、Sr和Ba中的一種或多種且B為金屬元素Ti、Zr和Sn中一種或多種,M代表外層電子結構為(n-1)d5ns2的金屬元素,0x1。
所述的金屬氧化物,其中,所述M為金屬元素Zn、Cd、Mn和Tc中一種或多種。
所述的金屬氧化物,其中,0x0.4。
一種金屬氧化物的制備方法,其中,包括步驟:
按摩爾份計,將含1-x 份A離子的A鹽溶液、含x份M離子的M鹽溶液及含1份B離子的B鹽溶液混合,得到混合液;
將混合液進行熱反應,即得到金屬氧化物,,所述金屬氧化物的化學式為A(1-x)MxBO3;
其中,A為金屬元素Ca、Sr和Ba中的一種或多種且B金屬元素為Ti、Zr和Sn中一種或多種,M代表外層電子結構為(n-1)d5ns2的金屬元素的離子,0x1。
所述的金屬氧化物的制備方法,其中,所述M為金屬元素Zn、Cd、Mn和Tc中一種或多種。
所述的金屬氧化物的制備方法,其中,0x0.4。
所述的金屬氧化物的制備方法,其中,所述A鹽為金屬元素A的硝酸鹽、醋酸鹽、氯化鹽和醇鹽中的一種或多種,和/或所述B鹽為金屬元素B的硝酸鹽、醋酸鹽、氯化鹽和醇鹽中的一種或多種,和/或所述M鹽為金屬元素M的硝酸鹽、醋酸鹽和氯化鹽中的一種或多種。
所述的金屬氧化物的制備方法,其特征在于,所述醇鹽為甲醇鹽、乙醇鹽、丙醇鹽、丁醇鹽或者異丙醇鹽。
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