[發明專利]一種用于三維掃描測量的輔助裝置在審
| 申請號： | 201711159222.8 | 申請日： | 2017-11-20 |
| 公開（公告）號： | CN107990841A | 公開（公告）日： | 2018-05-04 |
| 發明（設計）人： | 沙歐;呂源治;張洪宇;白晶;李冬寧 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G01B11/24 | 分類號： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司11227 | 代理人： | 駱英靜,李海建 |
| 地址： | 130033 吉林省長春*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 三維 掃描 測量 輔助 裝置 | ||
1.一種用于三維掃描測量的輔助裝置，其特征在于，包括：
支撐座(1)，所述支撐座(1)的上表面(1d)設置有用于支撐被測物(3)的支撐部件(1a)，所述支撐座(1)的側面(1c)設置有標志點(1b)；以及
設置在所述支撐座(1)的下方的轉臺(2)，所述支撐座(1)相對于所述轉臺(2)旋轉。
2.如權利要求1所述的輔助裝置，其特征在于，所述支撐座(1)為具有拔模斜度的臺體，所述支撐座(1)的下表面的面積大于所述支撐座(1)的上表面(1d)的面積。
3.如權利要求2所述的輔助裝置，其特征在于，所述支撐座(1)的上表面(1d)邊緣和所述支撐座(1)的下表面邊緣均為封閉的圓滑曲線，所述支撐座(1)的側面(1c)為平滑曲面。
4.如權利要求2所述的輔助裝置，其特征在于，所述支撐座(1)的上表面(1d)與被測物(3)的下表面相貼合。
5.如權利要求2所述的輔助裝置，其特征在于，所述支撐座(1)的上表面(1d)設置有多個用于安裝支撐部件(1a)的安裝孔。
6.如權利要求5所述的輔助裝置，其特征在于，所述安裝孔呈陣列布置。
7.如權利要求5所述的輔助裝置，其特征在于，所述安裝孔與所述支撐部件(1a)通過緊固螺釘相配合。
8.如權利要求1所述的輔助裝置，其特征在于，所述轉臺(2)與所述支撐座(1)之間還設置有轉盤(2a)，所述轉盤(2a)可轉動的設置在所述轉臺(2)上，所述支撐座(1)安放在所述轉盤(2a)上。
9.如權利要求1至8中任一項所述的輔助裝置，其特征在于，所述輔助裝置的反光率高于被測物(3)。
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