[發明專利]一種低頻RC振蕩器的時鐘頻率校準方法和系統

在審

• 申請號: 201711154750.4
• 申請日: 2017-11-20
• 公開（公告）號: CN108063617A
• 公開（公告）日: 2018-05-22
• 發明（設計）人: 徐明鶴
• 申請（專利權）人: 珠海慧聯科技有限公司
• 主分類號: H03L7/099
• 分類號: H03L7/099;H03L7/18
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 俞梁清

1.一種低頻RC振蕩器的時鐘頻率校準系統，其特征在于：包括低頻RC振蕩器、校準控制模塊、晶振控制模塊和校準模塊；

所述低頻RC振蕩器為待校準的低頻時鐘源，用于為所述校準模塊提供低頻RC標準時鐘；

所述校準控制模塊，用于接收外部輸入的校準使能信號，根據校準使能信號使能晶振控制模塊和校準模塊；

所述晶振控制模塊，用于將外部高頻晶振轉換為高頻標準晶振時鐘，并將所述高頻標準晶振時鐘送至校準模塊；

所述校準模塊，利用所述高頻標準晶振時鐘對低頻RC標準時鐘進行校準，得到校準頻率值。

2.根據權利要求1所述的一種低頻RC振蕩器的時鐘頻率校準系統，其特征在于：所述校準模塊包括計數模塊和除法模塊；

所述計數模塊，利用所述高頻標準晶振時鐘對低頻RC標準時鐘進行校準，并輸出校準頻率的計數值至除法模塊；

所述除法模塊用于將計數值轉換為校準頻率值。

3.根據權利要求2所述的一種低頻RC振蕩器的時鐘頻率校準系統，其特征在于，所述計數模塊，利用所述高頻標準晶振時鐘對低頻RC標準時鐘進行校準，包括：

根據所述低頻RC標準時鐘產生穩定持續的供高頻標準晶振時鐘采樣的電平信號，所述電平信號中的高電平信號持續時間對應低頻RC標準時鐘的具體周期數；

所述高頻標準晶振時鐘對電平信號進行采樣，每采樣一個低頻RC標準時鐘的完整周期內的高電平，計數值加一，直至電平信號出現低電平為止，得到校準頻率的計數值。

4.根據權利要求2所述的一種低頻RC振蕩器的時鐘頻率校準系統，其特征在于，所述除法模塊用于將計數值轉換為校準頻率值，包括：以低頻RC標準時鐘周期的具體數量值和高頻標準晶振時鐘的頻率值之積作為被除數，以計數值作為除數，相除得到校準頻率值。

5.根據權利要求2所述的一種低頻RC振蕩器的時鐘頻率校準系統，其特征在于，所述校準控制模塊，用于接收外部輸入的校準使能信號，根據校準使能信號使能晶振控制模塊和校準模塊，包括：

根據所述校準使能信號產生晶振使能信號和校準控制信號，利用晶振使能信號使能晶振控制模塊，利用校準控制信號向計數模塊下發計算任務。

6.根據權利要求2所述的一種低頻RC振蕩器的時鐘頻率校準系統，其特征在于，所述校準控制模塊還用于控制相鄰兩次校準過程的時間間隔，包括：相隔一個或一個以上的低頻RC時鐘周期，校準一次；或者根據相鄰兩次計數模塊所得到的計數值之差的變化趨勢，自適應調整相鄰兩次校準過程的時間間隔。

7.根據權利要求6所述的一種低頻RC振蕩器的時鐘頻率校準系統，其特征在于,所述校準控制模塊，根據相鄰兩次計數模塊所得到的計數值之差的變化趨勢，自適應調整相鄰兩次校準過程的時間間隔，包括：若相鄰兩次計數模塊所得到的計數值之差變小，增大相鄰兩次校準過程的時間間隔；若相鄰兩次計數模塊所得到的計數值之差變大，減小相鄰兩次校準過程的時間間隔。

8.一種低頻RC振蕩器的時鐘頻率校準方法，其特征在于，包括以下步驟：

A、將外部高頻晶振轉換為高頻標準晶振時鐘，以高頻標準晶振時鐘為校準用的標準時鐘源；

B、輸入待校準的低頻RC標準時鐘，通過高頻標準晶振時鐘選擇出具體周期數的低頻RC標準時鐘。

C.根據具體周期數的低頻RC標準時鐘產生持續的電平信號，由高頻標準晶振時鐘對所述電平信號進行采樣計數，得到校準頻率的計數值。

D.將計數值轉換為校準頻率值。

9.根據權利要求8所述的一種低頻RC振蕩器的時鐘頻率校準方法，其特征在于,所述步驟C中，由高頻標準晶振時鐘對所述電平信號進行采樣計數，包括：每采樣一個低頻RC標準時鐘的完整周期內的高電平，計數值加一，直至電平信號出現下降沿，變為低電平為止。

10.根據權利要求8所述的一種低頻RC振蕩器的時鐘頻率校準方法，其特征在于,所述步驟D中，將計數值轉換為校準頻率值，包括：以低頻RC標準時鐘周期的具體數量值和高頻標準晶振時鐘的頻率值之積作為被除數，以計數值作為除數，相除得到校準頻率值。