[發(fā)明專利]一種檢測(cè)并區(qū)分透明玻璃蓋板上下表面缺陷的裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711148093.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107764841A | 公開(公告)日: | 2018-03-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳易明;張保軍;姚震;樊鵬格;路超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安中科光電精密工程有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/958 | 分類號(hào): | G01N21/958;G01N21/01 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司61200 | 代理人: | 姚詠華 |
| 地址: | 710077 陜西省西安市高新區(qū)丈八五*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測(cè) 區(qū)分 透明 玻璃 蓋板 上下 表面 缺陷 裝置 方法 | ||
1.一種檢測(cè)并區(qū)分透明玻璃蓋板上下表面缺陷的裝置,其特征在于,檢測(cè)裝置包括設(shè)置于待測(cè)透明玻璃蓋板上的成像相機(jī),成像相機(jī)通過光學(xué)鏡頭對(duì)準(zhǔn)待測(cè)透明玻璃蓋板實(shí)現(xiàn)表面缺陷的檢測(cè);所述光學(xué)鏡頭的景深范圍遠(yuǎn)小于待測(cè)透明玻璃蓋板的厚度,光學(xué)鏡頭光軸與待測(cè)透明玻璃蓋板平面嚴(yán)格垂直,待測(cè)透明玻璃蓋板成像區(qū)域的四個(gè)直角與成像相機(jī)CCD的距離偏差低于光學(xué)鏡頭景深的1/5;所述待測(cè)透明玻璃蓋板整體在光學(xué)鏡頭焦距位置波動(dòng)距離小于景深的1/4。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測(cè)并區(qū)分透明玻璃蓋板上下表面缺陷的裝置,其特征在于,所述置于待測(cè)透明玻璃蓋板上的成像相機(jī)設(shè)在待測(cè)透明玻璃蓋板的上表面上方,成像相機(jī)為兩臺(tái),兩臺(tái)成像相機(jī)鏡頭出射光束交匯于折反棱鏡,折反棱鏡下方設(shè)光學(xué)鏡頭,光學(xué)鏡頭與待測(cè)透明玻璃蓋板上表面相對(duì)應(yīng)設(shè)置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測(cè)并區(qū)分透明玻璃蓋板上下表面缺陷的裝置,其特征在于,分別調(diào)節(jié)兩個(gè)相機(jī)成像光路的后截距,使兩個(gè)相機(jī)成像物距差別為待測(cè)玻璃板厚度,保證兩個(gè)相機(jī)分別對(duì)待測(cè)透明玻璃蓋板上下表層分別清晰成像。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測(cè)并區(qū)分透明玻璃蓋板上下表面缺陷的裝置,其特征在于,所述置于待測(cè)透明玻璃蓋板上的成像相機(jī)分別設(shè)在待測(cè)透明玻璃蓋板的上、下方,各成像相機(jī)分別與待測(cè)透明玻璃蓋板上、下表面相對(duì)應(yīng)設(shè)置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測(cè)并區(qū)分透明玻璃蓋板上下表面缺陷的裝置,其特征在于,所述檢測(cè)裝置固定在某一位置,待測(cè)透明玻璃蓋板安裝在一個(gè)運(yùn)動(dòng)模塊上,或待測(cè)透明玻璃蓋板安裝在某一固定位置,檢測(cè)裝置安裝在一個(gè)運(yùn)動(dòng)模塊上,以對(duì)大幅待測(cè)透明玻璃蓋板上下表面缺陷成像。
6.一種權(quán)利要求2所述的檢測(cè)并區(qū)分透明玻璃蓋板上下表面缺陷的裝置的檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)相機(jī)安裝:安裝好檢測(cè)裝置,光學(xué)鏡頭對(duì)準(zhǔn)垂直待測(cè)透明玻璃蓋板,并使得待測(cè)透明玻璃蓋板成像區(qū)域的四個(gè)直角與成像相機(jī)CCD的距離偏差低于光學(xué)鏡頭景深的1/5;
2)相機(jī)啟動(dòng):將兩臺(tái)成像相機(jī)分別連接至計(jì)算機(jī),啟動(dòng)工控機(jī)和兩個(gè)成像相機(jī),并使得待測(cè)透明玻璃蓋板整體在光學(xué)鏡頭焦距位置波動(dòng)距離小于景深的1/4;
3)后截距調(diào)整:分別調(diào)節(jié)兩個(gè)相機(jī)成像光路的后截距,使兩個(gè)相機(jī)成像物距差等于待測(cè)玻璃板厚度,保證兩個(gè)相機(jī)分別對(duì)待測(cè)透明玻璃蓋板上下表層分別清晰成像;
4)閾值標(biāo)定:
(a)兩個(gè)成像相機(jī)同時(shí)對(duì)帶有各種缺陷的透明玻璃蓋板進(jìn)行上下表面的圖像采集;
(b)對(duì)每一幅圖像,計(jì)算圖像任意位置(x,y)的標(biāo)定灰度梯度向量
(c)根據(jù)待測(cè)透明玻璃蓋板上缺陷的類型,標(biāo)定出對(duì)應(yīng)缺陷的標(biāo)定灰度梯度幅值K的閾值T[Tmin,Tmax]的范圍;
5)掃描成像:兩個(gè)成像相機(jī)同時(shí)對(duì)待測(cè)透明玻璃蓋板進(jìn)行上下表面進(jìn)行掃描成像;
6)圖像二值化:
(a)對(duì)每一幅圖像,計(jì)算圖像任意位置(x,y)的實(shí)測(cè)灰度梯度向量
(b)計(jì)算任意圖像位置(x,y)處圖像實(shí)測(cè)灰度梯度幅值K;
(c)根據(jù)已獲得的缺陷灰度梯度閾值范圍,若K(x,y)∈T,則圖像灰度置為255,像素顯示為白色,若則圖像灰度置為0,像素顯示為黑色:
7)缺陷識(shí)別:若圖像某位置灰度為白色,則待測(cè)透明玻璃蓋板在該位置存在缺陷;
8)缺陷上下層定位:相機(jī)Ⅰ對(duì)待測(cè)透明玻璃蓋板上表層清晰成像,若相機(jī)Ⅰ采集圖像存在缺陷,則說明該缺陷位于待測(cè)透明玻璃蓋板的上表層;相機(jī)Ⅱ?qū)Υ郎y(cè)透明玻璃蓋板下表層清晰成像,若相機(jī)Ⅱ采集圖像存在缺陷,則說明該缺陷位于待測(cè)透明玻璃蓋板的下表層。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
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G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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