[發(fā)明專利]一種測(cè)試光接口的裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201711147679.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109814045A | 公開(公告)日: | 2019-05-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李博偉;過(guò)乾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/40 | 分類號(hào): | G01R31/40;G01R19/00;H04B10/073 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270 | 代理人: | 蔣雅潔;張穎玲 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市南山*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 連接器 供電電源電壓 測(cè)試光接口 被測(cè)單板 輸入電壓 預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn) 光接口 檢測(cè) | ||
本發(fā)明公開了一種測(cè)試光接口的方法及裝置,其中,所述方法包括:通過(guò)連接器與被測(cè)單板的光接口連接;通過(guò)所述連接器獲取所述被測(cè)單板提供的輸入電壓,并對(duì)所述輸入電壓進(jìn)行檢測(cè),獲得供電電源電壓值;判斷所述供電電源電壓值是否符合預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子通信設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種測(cè)試光接口的裝置及方法。
背景技術(shù)
隨著網(wǎng)絡(luò)流量需求的增加,新的傳輸設(shè)備、收發(fā)器、轉(zhuǎn)發(fā)器、和傳輸模塊需要支持更高的數(shù)據(jù)傳輸速率,如40兆位每秒(Gbps)、100Gbps,這些傳輸設(shè)備需要新的測(cè)試裝置來(lái)驗(yàn)證和測(cè)試。
對(duì)于傳輸設(shè)備支持更高的數(shù)據(jù)傳輸速率,已經(jīng)開發(fā)了符合各種標(biāo)準(zhǔn)定義的多個(gè)多源協(xié)議(MSAs)。例如,多源協(xié)議(MSA)定義了CFP、CFP2、CFP4熱插拔光纖收發(fā)器支持?jǐn)?shù)據(jù)傳輸標(biāo)準(zhǔn)40Gbps、100Gbps。CFP、CFP2、CFP4標(biāo)準(zhǔn)指定采用管理數(shù)據(jù)的輸入/輸出雙向接口是MDIO接口。
CFP光模塊、CFP2光模塊現(xiàn)在雖被廣泛使用,然而,CFP4光模塊,因其速率為40Gbps、100Gbps,封裝體積小,信號(hào)質(zhì)量佳,是目前及日后的主流產(chǎn)品,因此,對(duì)CFP系列接口的測(cè)試必不可少。
以CFP4光模塊功能模塊結(jié)構(gòu)圖為例來(lái)說(shuō)明CFP系列光模塊結(jié)構(gòu)。圖1示出了CFP4光模塊功能模塊結(jié)構(gòu)圖,CFP系列光模塊包括圖中涉及到的高速信號(hào)TXDATA、RXDATA,通訊信號(hào)MDIO,和圖中未涉及到的狀態(tài)控制信號(hào)及電源。傳統(tǒng)的測(cè)試方法和裝置,是制作一個(gè)仿真光模塊,仿真光模塊包含檢測(cè)高速信號(hào)TXDATA、RXDATA的功能,檢測(cè)通訊信號(hào)MDIO的功能,檢測(cè)狀態(tài)控制信號(hào)的功能,傳統(tǒng)的測(cè)試裝置基本上可將光模塊上的信號(hào)檢測(cè)完全,但是,傳統(tǒng)的測(cè)試裝置無(wú)法檢測(cè)出單板光接口的供電狀況,而單板光接口供電電源又十分重要。當(dāng)電源出現(xiàn)問(wèn)題,如電源電壓不穩(wěn)、過(guò)高、過(guò)低或者波動(dòng)時(shí),極易損壞CFP系列光模塊,并且電源電壓出現(xiàn)問(wèn)題,往往燒毀不止一個(gè)光模塊,對(duì)使用者造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失和相關(guān)損失。
因此,如何改進(jìn)測(cè)試裝置和方法是目前亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明期望提供一種測(cè)試光接口的裝置及方法,能夠檢測(cè)單板光接口供電電源電壓,解決了現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試裝置無(wú)法測(cè)試單板光接口供電電源的問(wèn)題,進(jìn)而避免出現(xiàn)因單板供電電源瑕疵而導(dǎo)致光模塊受損的問(wèn)題。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種測(cè)試光接口的裝置,所述裝置包括:
連接器,用于與被測(cè)單板的光接口連接;
電源檢測(cè)模塊,用于通過(guò)所述連接器獲取所述被測(cè)單板提供的輸入電壓,并對(duì)所述輸入電壓進(jìn)行檢測(cè),獲得供電電源電壓值;
判斷模塊,用于判斷所述供電電源電壓值是否符合預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn);
其中,所述連接器與所述電源檢測(cè)模塊連接,所述電源檢測(cè)模塊與所述判斷模塊連接。
上述方案中,可選地,所述電源檢測(cè)模塊包括:
電壓調(diào)整單元,用于對(duì)輸入電壓進(jìn)行調(diào)整,為電壓檢測(cè)單元提供基準(zhǔn)電壓;
分壓電阻,用于將輸入電壓分壓后接入到電壓檢測(cè)單元;
電壓檢測(cè)單元,用于對(duì)分壓后的輸入電壓進(jìn)行檢測(cè),獲取供電電源電壓值;
其中,所述電壓調(diào)整單元的兩端分別與所述連接器和所述電壓檢測(cè)單元連接;所述分壓電阻的一端與連接器連接,所述分壓電阻的另一端與電壓檢測(cè)單元連接。
上述方案中,可選地,所述裝置還包括:
高速通道檢測(cè)模塊,用于通過(guò)發(fā)送數(shù)據(jù)信號(hào)TX_DATA、接收數(shù)據(jù)信號(hào)RX_DATA來(lái)檢測(cè)所有可能被光模塊用到的高速串并轉(zhuǎn)換(SERDES)通道是否正常;
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





