[發(fā)明專利]一種小型全自動化學發(fā)光分析儀

在審

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• 申請日: 2017-11-17
• 公開（公告）號: CN107918027A
• 公開（公告）日: 2018-04-17
• 發(fā)明（設計）人: 歐衛(wèi)軍;孫一品;顧曉東;蔣鵬飛
• 申請（專利權）人: 南通伊仕生物技術股份有限公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產(chǎn)權代理有限公司11250
• 代理人: 曹治麗

技術領域

本發(fā)明涉及化學發(fā)光免疫分析技術領域，具體涉及一種小型全自動化學發(fā)光分析儀。

背景技術

在POCT檢測技術上，目前市場上小型POCT項目的檢測方法幾乎都是免疫層析法，無論是熒光定量還是膠體金，從本質(zhì)來說都是免疫層析法，都是試紙條。免疫層析法無法實現(xiàn)全定量，檢測靈敏度較低，和主流儀器是不同平臺，檢測結果無法橫向對比。因此市場需要小型的采用微粒子分離的化學發(fā)光測定儀，該儀器是全定量的，檢測靈敏度高，和主流儀器同平臺，可以實現(xiàn)橫向對比。

然在在檢測速度上，目前市場上國產(chǎn)免疫儀器測試速度的主流是200速，市場競爭激烈。并且從市場發(fā)展及國家推進分級診療的趨勢看，這種大型免疫儀器測試的免疫用戶對象勢必會下沉，未來廣大的一級醫(yī)院、地段醫(yī)院及社區(qū)醫(yī)院都將開展。但隨著科技的進步和發(fā)展，這部分客戶對象的特點是每家使用量較小，使用人員素質(zhì)較低，故市場更需要可單項目檢測的小型的全自動的設備。

發(fā)明內(nèi)容

因此，本發(fā)明要解決的技術問題在于克服現(xiàn)有技術中缺乏可單項目檢測的小型的全自動的設備的缺陷，從而提供一種小型全自動化學發(fā)光分析儀。

為此，本發(fā)明提供如下技術方案：

一種小型全自動化學發(fā)光分析儀，包括從前到后、相互獨立的、平鋪設置的樣本試劑架、移液裝置、磁珠吸附提取裝置和測讀裝置。

所述樣本試劑架設有試劑條板架用于放置試劑條，所述試劑條板架上設有加熱模塊，用于加熱試劑條，使用時，所述樣本試劑架由電機驅動移動到相應的位置。

所述移液裝置由主電機、副電機和注塞機構組成，所述主電機用于控制注塞機構上下運動，所述副電機控制注塞機構吸、注液體。

所述磁珠吸附提取裝置包括由兩個電機分別控制的磁棒和磁珠護套，所述兩個電機分別控制磁棒的和磁珠護套的上下運動。

所述測讀裝置上設有檢測探頭用于感應出檢測樣品的熒光值并顯示在測讀裝置上。

所述試劑條上設有測讀孔，磁套孔、樣本孔和tip頭孔，分別用于盛放具有遮光功能的測讀孔材料、磁套、樣本和tip頭；所述試劑條上還設有試劑孔和清洗孔，包被有生物抗體的磁珠置于所述試劑孔內(nèi)。

所述注塞機構包括柱塞桿和注塞腔體，用于吸注試劑。

所述試劑條板架為8個，所述注塞機構為8套；所述磁珠吸附提取裝置為8套，以實現(xiàn)8個相同或不同項目的同時檢測。

還包括整機電路模塊，所述整機電路模塊采用單一主控加多驅動的方式，所述整機電路模塊的主控部分采用光耦與系統(tǒng)電路隔離的方式。

所述整機電路模塊，包括溫育模塊用于控制溫度；

二維碼掃描模塊，并與設置的主控負責通信和調(diào)度；

液晶屏模塊，為工業(yè)級液晶屏并裝配WINCE系統(tǒng)，主頻1GHz，支持Visual Studio開發(fā)；

所述整機電路模塊共3路溫育模塊，每路單獨設定目標溫度；所述二維碼掃描模塊采用高性能專用掃描頭負責掃描處理二維碼。

本發(fā)明技術方案，具有如下優(yōu)點：

1.本發(fā)明提供的小型全自動化學發(fā)光分析儀的整體框架技術方案采用平鋪的結構，從前到后分別是樣本試劑架、移液裝置、磁珠吸附提取裝置、測讀裝置，結構相互獨立，有利于儀器的安裝與維護，使用方便，易于推廣。

2.本發(fā)明提供的小型全自動化學發(fā)光分析儀可放置8個試劑條，在每個試劑條的下部板架位置，都對應設置有加熱模塊，能夠保證8個試劑條加熱溫度的一致性。

3.本發(fā)明提供的小型全自動化學發(fā)光分析儀的注塞有8套，由主電機控制其整體上下運動，副電機控制注塞吸、注液體。8套注塞同時運動，可以實現(xiàn)同步吸注液體，能保證8個注塞吸、注液體的一致性，位置精確控制，故障率低。

4.本發(fā)明提供的小型全自動化學發(fā)光分析儀哦磁珠吸附提取裝置由兩個電機分別控制磁棒的和磁珠護套的上下運動。可以實現(xiàn)磁珠吸附、振蕩、分離功能，可以同時實現(xiàn)磁套的取放、磁珠的攪拌和吸附、取放功能。

5.本發(fā)明提供的小型全自動化學發(fā)光分析儀在使用的過程中，試劑條除裝有試劑外，還放有磁套和tip頭，所需要測試的樣本只要放入樣本孔內(nèi)，就直接可以放在機器上進行實驗，做完測試后廢棄的磁套和tip頭都放回試劑條內(nèi)，只需要把試劑條取出，就可以再做下一組實驗。避免了對廢棄物和液體進行定期清理和清潔。測讀孔材料要求有遮光功能，所以單獨做為一個零件放置于試劑條中。實驗后廢棄的磁套和tip頭都放回相應的回收孔位，只需要取出試劑條，就能做下一組實驗。